基于Burg算法的自回归谱外推技术提高TOFD检测纵向分辨率的方法技术

一种基于Burg算法的自回归谱外推技术提高TOFD检测纵向分辨率的方法，属于超声无损检测技术领域。该方法采用一套TOFD超声检测仪、TOFD探头、扫查装置、集成TOFD常规分析功能的软件以及计算机构成的超声检测系统。针对缺陷进行TOFD扫查，对采集到的包含缺陷上下端衍射波的时域混叠信号进行自回归谱外推处理。以参考信号的-6dB频带宽度为基准，选取该频带范围内的缺陷信号，并利用Burg算法估计该频带范围外的缺陷信号，从而拓宽频带宽度，提高缺陷检测的纵向分辨率，实现缺陷高度定量。与其它提高TOFD检测纵向分辨率的方法相比，该方法对硬件系统无额外要求，且不受检测探头激励脉冲时间宽度的限制，具有较好的工程应用价值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种基于Burg算法的自回归谱外推技术提高T0FD检测纵向分辨率的 方法，其属于超声无损检测领域。
技术介绍
为有效评价被检测对象的物理完整性，就必须对其中所有缺陷进彳丁检测，以及精 确定位、定量。目前，超声衍射时差（TimeofFlightDiffraction,T0FD)技术是最精确的 超声检测与定量方法之一，是利用缺陷上下端的衍射信号传播时间差实现缺陷高度定量。 与传统脉冲回波法相比，T0FD技术对垂直的裂纹类缺陷进行检测时更具优势，能够实现缺 陷高度的精确定量。 检测纵向分辨率是影响T0FD定量精度的关键因素之一。为进一步提高T0FD检测 纵向分辨率，现有方法包括参数优化法、图像能量分布法和频谱分析法等。通过参数优化可 以在一定程度上提高T0FD检测分辨率，但是受检测探头频率、缺陷深度等因素制约，纵向 分辨率提高有限；图像能量分布法中缺陷信号的提取效果受待处理图像质量影响较大，往 往存在缺陷信号分离困难的问题；频谱分析法受探头频带宽度限制，当缺陷上下端传播时 间差小于（f为探头频率）时，该方法不再适用。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种基本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于Burg算法的自回归谱外推技术提高TOFD检测纵向分辨率的方法，其特征是：以系统脉冲信号的‑6dB频带宽度为基准，选取该频带范围内的缺陷信号，利用Burg算法估计该频带范围外的缺陷信号，从而拓宽频带宽度，提高缺陷检测的纵向分辨率，实现缺陷高度定量，所述方法的测量步骤如下：(a)首先对被检工件进行TOFD检测D扫描，初步确定缺陷位置，根据缺陷深度信息选择合适的探头频率、探头角度，并调整探头中心间距、时间窗口范围、检测灵敏度、脉冲重复频率和扫查增量等参数；(b)根据步骤(a)中确定的TOFD检测参数对被检工件内的目标缺陷进行B扫描，并存储B扫描图像，通过TOFD分析软件将B扫描图像中抛物线...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林莉，张东辉，谢雪，刘丽丽，罗忠兵，张树潇，金士杰，赵天伟，康达，杨会敏，雷明凯，
申请(专利权)人：中国核工业二三建设有限公司，大连理工大学，
类型：发明
国别省市：北京;11