【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子器件信号的检测和信号处理装置。
技术介绍
电子二极管、微电子芯片等电子器件的性能参数需要专业的仪器或电路来测试,并与标准的数据比较,以此判断电子器件的好坏。专利申请号为2013101898949的专利技术公开了一种多通道干扰信号产生装置及干扰信号产生方法,它包括进行干扰信号参数设置的干扰参数设置设备、用于产生各类阵列模拟信号的干扰信号产生器和用于多路干扰信号的输出的信号输出设备,干扰参数设置设备依次连接干扰信号产生器和信号输出设备;所述的干扰参数设置设备用于设置干扰信号参数,干扰信号参数包括干扰强度、阵列形式、阵元间距和阵列幅相误差;干扰信号产生器包括依次连接的参数设置电路、多通道基带信号产生电路和功率调整电路;信号输出设备包括数模转换器和上变频信道。该专利技术的设备过于复杂,成本较贵。专利申请号为2013100181407的明公开了多通道抗干扰数字采样装置,包括:一若干个多路并行的ADC 构成的模数转换器组,以及与模数转换器组连通的FPGA,所述模数转换器组将多通道并行射频前端接收的多通道并行的模拟信号,转换为可供FPGA处理的数字信号,所述模数转换器组还连通一为ADC提供可调延迟的采样时钟信号的时钟芯片,所述时钟芯片的采样时钟信号分为多路并行输出给ADC芯片。该装置的电路元件为充分公开,难以在实际测试中参照使用。
技术实现思路
专利技术目的:提供一种抗信号干扰能力强、判别好坏准确性高的电子器件检测中的信号抗干扰装置。技术方案:本专利技术提供一种电子器件检测中 ...
【技术保护点】
一种电子器件检测中的信号抗干扰装置,其特征在于:将电子器件(1)发生的输入信号(2)依次通过串接的滤波隔直电路(11)、包络解调比较电路(9)、FPGA解码判断器(7),以此判断电子器件(1)的好坏;所述的滤波隔直电路(11)由一只旁路电阻Ra(4)与一只旁路电容Ca(3)并联后串联一只主路电阻Rb(10)构成,包络解调比较电路(9)由一只旁路电容Cb(5)和主路电容Cd(6)构成。
【技术特征摘要】
1.一种电子器件检测中的信号抗干扰装置,其特征在于:将电子器件(1)发生的输入信号(2)依次通过串接的滤波隔直电路(11)、包络解调比较电路(9)、FPGA解码判断器(7),以此判断电子器件(1)的好坏;所述的滤波隔直电路(11)由一只旁路电阻Ra(4)与一只旁路电容Ca(3)并联后串联一只主路电阻Rb(10)构成,包络解调比较电路(9)由一只旁路电容Cb(5)和主路电容Cd(6)构成。
2.如权利要求1所述的电子器件检测中的信号抗干扰装置,其特征在于:旁路电阻...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴华,刘建峰,张小丹,李承峰,
申请(专利权)人:南通金泰科技有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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