可热插拔的测试模块及应用其的测试系统技术方案

一种可热插拔的测试模块及应用其的测试系统。所述测试系统包括电子装置以及测试模块。电子装置包括功能电路以及保护电路。保护电路耦接功能电路。保护电路侦测功能电路的运作状态信息以获得侦测信号，并且于侦测信号的准位超过临界值时，发出保护启动信号。测试模块可热插拔地耦接于电子装置。测试模块于测试模式下调整侦测信号，以令侦测信号的准位超过临界值，并且基于保护电路所发出的保护启动信号而判断保护电路是否处于正常工作状态。

【技术实现步骤摘要】
【专利说明】
本专利技术是有关于一种电子装置的测试技术，且特别是有关于一种用于测试电子装置的保护电路的可热插拔的测试模块及应用其的测试系统。【
技术介绍
】为了防止电子装置在一些特殊/异常的运作情况下(例如重载操作或内部线路短路等)，因内部电路组件的硬件特性无法承受极端的工作条件(例如高温、高电流或高电压)而造成电子装置的损毁或故障，所以通常在电子装置的设计中，会设置有保护电路来针对上述可能的特殊/异常的运作情况进行侦测。当保护电路侦测到电子装置的运作达到特定的临界状态时(例如温度、电流或电压超过预设的临界值)，其会启动特定的保护功能来限制/停止电子装置的运作，借以令电子装置不至于因极端的工作条件而损毁。然而，在电子装置装配完成后，由于保护电路一般内嵌于电子装置的电路板上或者直接与其它电路组件积体化地设置在一起，故保护电路通常无法单独地被测试。因此，保护电路可否正常运作往往需等到电子装置真的发生异常时才可得知。【
技术实现思路
】本专利技术提供一种可热插拔的测试模块及应用其的测试系统，其可针对电子装置中的保护电路进行测试。本专利技术的测试系统包括电子装置以及测试模块。电子装置包括功能电路以及保护电路。保护电路耦接功能电路。保护电路侦测功能电路的运作状态信息以获得侦测信号，并且于侦测信号的准位超过临界值时，发出保护启动信号。测试模块可热插拔地(hot-swappable)耦接于电子装置。测试模块于测试模式下调整侦测信号，以令侦测信号的准位超过临界值，并且基于保护电路所发出的保护启动信号而判断保护电路是否处于正常工作状态。在本专利技术一实施例中，当测试模块于测试模式下接收到保护启动信号时，测试模块判定保护电路处于正常工作状态。在本专利技术一实施例中，当测试模块于测试模式下未接收到保护启动信号时，测试模块判定保护电路处于异常工作状态。在本专利技术一实施例中，保护电路具有状态侦测端与保护输出端，保护电路从状态侦测端取得关联于运作状态信息的侦测信号，并且从保护输出端发出保护启动信号。在本专利技术一实施例中，测试模块包括信号调整单元以及微控制器。信号调整单元耦接于状态侦测端。信号调整单元用以调整侦测信号的准位。微控制器耦接信号调整单元与保护输出端。微控制器用以控制信号调整单元的运作。当微控制器接收到测试开始信号时，测试系统进入测试模式，并且微控制器致能信号调整单元以调整侦测信号的准位，再根据保护输出端上的信号来判断保护电路是否处于正常工作状态。在本专利技术一实施例中，信号调整单元包括第一开关。第一开关的第一端耦接状态侦测端，第一开关的第二端耦接接地端，且第一开关的控制端耦接微控制器。在本专利技术一实施例中，测试模块还包括操控接口以及提示单元。操控接口耦接微控制器。操控接口用以提供触发测试开始信号的接口。提示单元耦接微控制器。提示单元用以根据微控制器的判断结果提示保护电路的运作状态。在本专利技术一实施例中，测试模块还包括输出切换单元。输出切换单元用以根据测试系统是否进入测试模式而选择性地将保护输出端耦接至功能电路与微控制器其中之一。在本专利技术一实施例中，当测试系统进入测试模式时，微控制器控制输出切换单元将保护输出端切换耦接至微控制器。在本专利技术一实施例中，当测试系统未进入测试模式时，微控制器控制输出切换单兀将保护输出端切换稱接至功能电路。在本专利技术一实施例中，输出切换单元包括第二开关。第二开关的第一端耦接保护输出端，第二开关的第二端耦接功能电路，且第二开关的第三端与第一开关的控制端耦接微控制器。在本专利技术一实施例中，信号调整单兀与输出切换单兀至少其中之一内嵌设置于电子装置中。在本专利技术一实施例中，功能电路与微控制器并联耦接于保护输出端。在本专利技术一实施例中，测试模块经由通用输入/输出(GP1)接口与电子装置耦接。本专利技术的可热插拔的测试模块，适于测试电子装置的保护电路的运作。所述测试模块包括信号调整单元以及微控制器。信号调整单元适于耦接电子装置。信号调整单元用以调整保护电路所接收的侦测信号的准位，其中侦测信号指示电子装置中的功能电路的运作状态信息。微控制器耦接信号调整单元。微控制器用以控制信号调整单元的运作。当连接接口耦接至电子装置且微控制器接收到测试开始信号时，微控制器致能信号调整单元以调整侦测信号的准位，再根据保护电路所发出的保护启动信号来判断保护电路是否正常工作。基于上述，本专利技术实施例提出一种可热插拔的测试模块及应用其的测试系统。所述测试模块可借由调整保护电路所接收到的侦测信号准位的方式，仿真功能电路发生异常的信号态样，从而根据保护电路所发出的信号来判断保护电路是否可正常运作。另外，由于本专利技术实施例的测试模块具有可支持热插拔的特性，因此在工厂端的出货检测应用中，可有助于检测流程的标准化，并且降低检测人员的工作负担。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。【【附图说明】】图1为本专利技术一实施例的测试系统的功能方块示意图。图2为本专利技术一实施例的测试系统的功能方块示意图。图3为本专利技术另一实施例的测试系统的功能方块示意图。图4为本专利技术一实施例的测试模块的电路架构示意图。图5为本专利技术另一实施例的测试模块的电路架构示意图。【【具体实施方式】】为了使本揭露的内容可以被更容易明了，以下特举实施例做为本揭露确实能够据以实施的范例。另外，凡可能之处，在图式及实施方式中使用相同标号的组件/构件/步骤，代表相同或类似部件。图1为本专利技术一实施例的测试系统的功能方块示意图。请参照图1，测试系统100包括电子装置110以及测试模块120。其中，电子装置110例如为桌上型计算机、笔记型计算机、平板计算机、个人数字助理(personal digital assistant, PDA)、智能型手机、随身音乐播放装置、液晶电视、投影机等任何类型的电子装置。在本实施例中，电子装置110包括功能电路112以及保护电路114。所述功能电路112，例如为电子装置110中的中央处理单元(CPU)、电源转换电路、电池控制电路或其它可提供电子装置110特定功能的电路模块。而所述保护电路114耦接功能电路112，且可例如为针对特定功能电路112提供保护功能的电路模块。举例来说，以功能电路112为CPU而言，与其对应配置的保护电路114可为过温度保护(over temperature protect1n, OTP)电路；又或者，以功能电路112为电源转换电路或电池控制电路而言，与其对应配置的保护电路114可为OTP电路、过当前第1页1 2 3 4 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试系统，其特征在于，该测试系统包括：一电子装置，其包括：一功能电路；一保护电路，耦接该功能电路，其中该保护电路侦测该功能电路的一运作状态信息以获得一侦测信号，并且于该侦测信号的准位超过一临界值时，发出一保护启动信号；一测试模块，可热插拔地（hot‑swappable）耦接于该电子装置，其中该测试模块于一测试模式下调整该侦测信号，以令该侦测信号的准位超过该临界值，并且基于该保护电路所发出的保护启动信号而判断该保护电路是否处于一正常工作状态。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李垂宪，林鑫志，
申请(专利权)人：神讯电脑昆山有限公司，神基科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32