本发明专利技术提供一种用于相位检测电路的可调相位频率振荡器，其特征在于，包括级联的N个具有相同电路结构的单位延迟单元和多位信号选择器，N个单位延迟单元构成一个环形振荡器，N个单位延迟单元输出的时序相位的差异一致，N个单位延迟单元的输出端均有抽头连接至由一个数模转换器和另一级联的N个具有相同电路结构的增强型NMOS管串联而成的多位信号选择器，通过多位信号选择器的选择，可调相位频率振荡器的输出信号的时序的频率一致且相位精度线性可调，其中，N大于等于2。根据本发明专利技术，可以通过数字方式调节可调相位频率振荡器的振荡频率与主时钟或信号频率同步，方便地对输出信号进行相位调节，有效降低电路设计难度的同时保证相位检测的精度。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体制造工艺，具体而言涉及一种用于相位检测电路的可调相位频率振荡器。
技术介绍
在包括MEMS陀螺仪在内的ASIC电路设计中，需要专用的相位检测电路对传感器信号的相位进行监控，并由此修正感应信号及调整驱动电路的相位频率。常见的相位检测电路根据检测信号的过零点位置提供相关时序给相位检测积分器进行处理，在现有技术中，用于控制相位检测器的该时序一般由系统主时钟产生，从而与检测信号的过零点位置存在一个固有的如图1所示的相位误差，该相位误差经相位检测积分器累积放大后，会明显恶化相位检测电路的精度。现有技术对上述相位误差的补偿主要有两种方式:第一种方式，不修正检测信号与控制时序之间的相位误差，根据预估相位误差的大小，通过特殊的数字算法对相位检测电路的最终输出进行增益修正补偿，这种补偿方式因为无法精准的判断相位不一致带来的误差，很难对最终输出进行精准的补偿，同时，实现这种补偿方式需要复杂的数字修正算法电路以及在相位检测电路输出端增加专用的自动增益控制电路，数字修正算法电路及自动增益控制电路的性能在很大程度上也影响了相位误差的补偿精度；第二种方式，使用额外增加的DLL或者DDS电路为相位检测电路提供不同相位的专用时序以解决相位误差问题，这种补偿方式需要增加额外的电路，增加了相位检测电路的复杂性、功耗面积和设计难度。因此，需要提出一种新的电路结构，以解决上述问题。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本专利技术提供一种用于相位检测电路的可调相位频率振荡器，其特征在于，包括级联的N个具有相同电路结构的单位延迟单元和多位信号选择器，所述N个单位延迟单元构成一个环形振荡器，所述N个单位延迟单元输出的时序相位的差异是一致的，所述N个单位延迟单元的输出端均有抽头连接至所述多位信号选择器，所述多位信号选择器由一个数模转换器和另一级联的N个具有相同电路结构的增强型NMOS管串联而成，通过所述多位信号选择器的选择，所述可调相位频率振荡器的输出信号的时序的频率一致且相位精度线性可调，其中，N大于等于2。进一步，通过选择所述N的数值来确定所述单位延迟单元的个数，以获取具有不同精度的相位输出。进一步，当所述相位检测电路应用于陀螺仪时，所述N大于或等于31。进一步，所述N个单位延迟单元均由带偏置电压和偏置电流的CMOS反相器构成。进一步，所述CMOS反相器由一个增强型NMOS管和一个增强型PMOS管组成，所述NMOS管和所述PMOS管的栅极连在一起作为输入端，所述NMOS管和所述PMOS管的漏极连在一起作为输出端，所述PMOS管的源极连接至所述数模转换器的输出端，所述NMOS管的源极连接至所述另一 NMOS管的漏极。进一步，所述数模转换器的输入端连接至数字控制信号的提供源，所述数模转换器的输出端连接至所述另一 NMOS管的栅极，所述另一 NMOS管的源极接地。进一步，所述数模转换器将输入的所述数字控制信号转换为施加于所述环形振荡器的偏置电压或偏置电流来改变延迟时间，从而调节所述环形振荡器的输出频率，且所述数模转换器的动态范围及分辨率决定所述环形振荡器的输出频率范围及调节精度。根据本专利技术，可以通过数字方式调节用于相位检测电路的可调相位频率振荡器的振荡频率与主时钟或信号频率同步，同时可以方便地对输出信号进行相位调节，在有效降低电路设计难度的同时保证了相位检测的精度。【附图说明】本专利技术的下列附图在此作为本专利技术的一部分用于理解本专利技术。附图中示出了本专利技术的实施例及其描述，用来解释本专利技术的原理。附图中:图1为采用现有的相位检测电路实施相位检测时存在的相位误差的示意图；图2A为本专利技术提出的用于相位检测电路的可调相位频率振荡器的原理图；图2B为本专利技术提出的用于相位检测电路的可调相位频率振荡器的电路结构示意图。【具体实施方式】在下文的描述中，给出了大量具体的细节以便提供对本专利技术更为彻底的理解。然而，对于本领域技术人员而言显而易见的是，本专利技术可以无需一个或多个这些细节而得以实施。在其他的例子中，为了避免与本专利技术发生混淆，对于本领域公知的一些技术特征未进行描述。为了彻底理解本专利技术，将在下列的描述中提出详细的步骤，以便阐释本专利技术提出的用于相位检测电路的可调相位频率振荡器。显然，本专利技术的施行并不限定于半导体领域的技术人员所熟习的特殊细节。本专利技术的较佳实施例详细描述如下，然而除了这些详细描述外，本专利技术还可以具有其他实施方式。应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在所述特征、整体、步骤、操作、元件和/或组件，但不排除存在或附加一个或多个其他特征、整体、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组合。针对现有的相位检测电路中存在的固有的相位误差所实施的补偿方式通常存在补偿精度低或者增大电路的复杂性、功耗面积以及设计难度的问题，为了解决上述问题，本专利技术提出一种用于相位检测电路的可调相位频率振荡器，通过在包括MEMS陀螺仪在内的相位检测电路中增加该可调相位频率振荡器，可以显著减小检测信号与控制时序之间的相位误差，同时，与现有技术相比，电路复杂程度以及所占用的芯片面积也大为缩减。如图2A所当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于相位检测电路的可调相位频率振荡器，其特征在于，包括级联的N个具有相同电路结构的单位延迟单元和多位信号选择器，所述N个单位延迟单元构成一个环形振荡器，所述N个单位延迟单元输出的时序相位的差异是一致的，所述N个单位延迟单元的输出端均有抽头连接至所述多位信号选择器，所述多位信号选择器由一个数模转换器和另一级联的N个具有相同电路结构的增强型NMOS管串联而成，通过所述多位信号选择器的选择，所述可调相位频率振荡器的输出信号的时序的频率一致且相位精度线性可调，其中，N大于等于2。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张威彦，
申请(专利权)人：无锡华润上华半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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