【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种夹具,具体涉及一种NTC热敏元件芯片测量夹具。
技术介绍
现有的片式(薄膜)电阻测试时一般采用金属夹子或测试笔,这两种测试方法均存在一定的问题。金属夹子由于夹紧力度较大,容易破坏薄膜电阻元件的表面,影响测试的结构;而采用测试笔测试时,使用者难以保证每次测试的力度大致一致,而且测试时手容易出现抖动,造成测试结果不稳定。申请号201020227663.4的专利公开了一种薄膜电阻测试夹具,该夹具虽解决了上述的问题,但装载测试电阻时需转动压板,将电阻放置在测试槽中,在将压板压好后再测试,显得比较麻烦。另外该夹具的测试槽尺寸固定,难以适应不同规格的电阻,限制了进一步的应用。
技术实现思路
为解决现有技术的不足,本技术提供了一种结构简单,方便装载热敏元件芯片测量夹具。本技术解决问题采用的技术方案是:一种NTC热敏元件芯片测量夹具,包括底板和测试触杆,所述底板上设置有两个测试块,所述测试块上设置有测试孔,所述测试块的侧面设置有贯通至测试孔的通孔,所述测试触杆可移动地穿进通孔内,所述挡片与测试块的侧面之间套接有弹簧,在弹簧拉力下,所述测试触杆其前端伸进测试孔的内部,所述测试触杆的前端设置有斜面。作为上述方案的进一步改进,包括锁紧手轮,其中一个测试块滑动连接在底板上,该测试块上还设置有通槽,所述锁紧手轮穿过通槽将该测试块与底板锁紧。作为上述方案的进一步改进,所述测试孔为垂直设置。本技术的有益效果:本技术结构简单而且装载电阻十分方便。【附图说明】下面结合附图和实施例对本技术作进一步说明:图1是本技术的俯视不意图;图2是图1的A-A方向的剖视图。【具体实施方 ...
【技术保护点】
一种NTC热敏元件芯片测量夹具,包括底板(1)和一端设置有挡片(2)的测试触杆(3),其特征在于:所述底板(1)上设置有两个测试块(4),所述测试块(4)上设置有测试孔(5),所述测试块(4)的侧面设置有贯通至测试孔(5)的通孔,所述测试触杆(3)可移动地穿进通孔内,所述挡片(2)与测试块(4)的侧面之间套接有弹簧(6),在弹簧(6)拉力下,所述测试触杆(3)其前端伸进测试孔(5)的内部,所述测试触杆(3)的前端设置有斜面。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:刘英,
申请(专利权)人:兴化市新兴电子有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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