一种X荧光分析粉末样品压样保护装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及分析化验设备技术领域，尤其是涉及一种X荧光分析粉末样品压样保护装置，由固定装置和保护装置组成，所述固定装置一边通过铆钉与防护装置固定，另一边与压样机的立柱固定，保证防护装置固定不动；所述防护装置放置在压样机的顶杆和压头之间，防止顶杆撤离时带动压头从而影响块状粉末样品表面质量。与现有技术相比，本实用新型专利技术的有益效果是：1)可有效防止块状粉末样品在压制时受到破坏，保证生产顺利进行；2)结构及制作简单、价格低廉，在短时间之内就可以大量制作，节省资金和人力物力；3)便于更换，坏了可立即更换，节省时间，不影响生产。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及分析化验设备
，尤其是涉及一种X荧光分析粉末样品压样保护装置。
技术介绍
X射线荧光仪对粉末压块样品进行分析检测时，要求测量的样品表面光滑且没有样品残渣粉末。否则，如果样品表面不光滑，容易影响分析数据，而有样品残渣粉末，会在荧光仪抽真空时进入设备内部，污染设备内部的重要光学部件，造成设备损坏。现有的压样机在使用一段时间后，压头和顶杆之间的接触面会由于粉末等杂质的污染变得不再光滑，当顶杆撤离压头表面时，会带动压头，使压好的块状粉末表面磨损，并且产生残渣粉末，更换顶杆和压头，将耗费很多资金和人力物力，并浪费大量时间，影响生产。
技术实现思路
本技术解决的技术问题是提供一种X荧光分析粉末样品压样保护装置，结构及制作简单、操作方便、便于更换、价格便宜，可有效防止块状粉末样品在压制时受到破坏，不影响生产，提高作业效率。为了达到上述目的，本技术采用以下技术方案实现:一种X荧光分析粉末样品压样保护装置，由固定装置和保护装置组成，其特征在于，所述固定装置由1_白钢板制成，一边通过铆钉与防护装置固定，另一边与压样机的立柱固定。所述防护装置由Imm白钢板卷制而成，其内直径比制样机顶杆外直径大0.1-0.3mm。所述防护装置开有距离为L槽口。与现有技术相比，本技术的有益效果是:I)可有效防止块状粉末样品在压制时受到破坏，保证生产顺利进行；2)结构及制作简单、价格低廉，在短时间之内就可以大量制作，节省资金和人力物力；3)便于更换，坏了可立即更换，节省时间，不影响生产。【附图说明】图1是本技术的结构示意主视图；图2是本技术的结构示意左视图。图中:1-固定装置2-防护装置【具体实施方式】下面结合附图对本技术的【具体实施方式】作进一步说明:见图1、图2，本技术涉及一种X荧光分析粉末样品压样保护装置，由固定装置I和保护装置2组成，所述固定装置I由Imm白钢板制成，一边通过铆钉与防护装置2固定，另一边与压样机的立柱固定，保证防护装置2固定不动。所述防护装置2由1_白钢板卷制而成，放置在压样机的顶杆和压头之间，其内直径Φ?比制样机顶杆外直径大0.1-0.3mm，且所述防护装置2开有距离为L槽口，利于压样机的顶杆抽出，防止压样机的顶杆撤离时带动压样机的压头，从而影响块状粉末样品表面质量。【主权项】1.一种X荧光分析粉末样品压样保护装置，由固定装置和保护装置组成，其特征在于，所述固定装置由白钢板制成，一边通过铆钉与防护装置固定，另一边与压样机的立柱固定。2.根据权利要求1所述的一种X荧光分析粉末样品压样保护装置，其特征在于，所述防护装置由白钢板卷制而成，其内直径比制样机顶杆外直径大0.1-0.3_。3.根据权利要求1所述的一种X荧光分析粉末样品压样保护装置，其特征在于，所述防护装置开有距离为L槽口。【专利摘要】本技术涉及分析化验设备
，尤其是涉及一种X荧光分析粉末样品压样保护装置，由固定装置和保护装置组成，所述固定装置一边通过铆钉与防护装置固定，另一边与压样机的立柱固定，保证防护装置固定不动；所述防护装置放置在压样机的顶杆和压头之间，防止顶杆撤离时带动压头从而影响块状粉末样品表面质量。与现有技术相比，本技术的有益效果是：1)可有效防止块状粉末样品在压制时受到破坏，保证生产顺利进行；2)结构及制作简单、价格低廉，在短时间之内就可以大量制作，节省资金和人力物力；3)便于更换，坏了可立即更换，节省时间，不影响生产。【IPC分类】G01N1-28【公开号】CN204536071【申请号】CN201520182073【专利技术人】范英戬, 杨杨, 王志峰, 张建安, 张鹏 【申请人】鞍钢股份有限公司【公开日】2015年8月5日【申请日】2015年3月28日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种X荧光分析粉末样品压样保护装置，由固定装置和保护装置组成，其特征在于，所述固定装置由白钢板制成，一边通过铆钉与防护装置固定，另一边与压样机的立柱固定。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：范英戬，杨杨，王志峰，张建安，张鹏，
申请(专利权)人：鞍钢股份有限公司，
类型：新型
国别省市：辽宁;21