一种背光产品真空测试系统技术方案

本发明专利技术公开一种背光产品真空测试系统，其包括：一真空发生器，用以产生真空；一吸附平台，该吸附平台的上部设有放置背光产品的凹槽，凹槽上设有将该凹槽盖合的密封盖；该密封盖为透明的密封盖；真空发生器的输出端均匀铺设于该吸附平台的底部，且其铺设面积至少大于凹槽的大小，以将真空发生器的作用力均匀作用于放置凹槽内的背光产品。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及LCM模组的背光测试领域，具体是背光产品的真空测试系统。
技术介绍
在测试LCM (IXD Module，即IXD显示模组)模组时，为了将背光产品里的白点测试挑选出来，在驱动LCM时要用手在LCM背板后面施加压力，使背光产品中的白点能发现，此测试方法在单面背光生产时很难发现，一般要组装上玻璃后手工施加压力才能发现背光中的白点，如果要组装玻璃后才能发现白点，那在返修时就要先将玻璃拆下来才能返修，这样的返修方法有可能将背光和玻璃拆坏，损失很大。同时，因上述测试过程是通过人工施加压力，施加的压力不均匀，同时，不同的人施加的压力也不一样，不能有效的将背光产品的按压白点全部挑出来；另外，还会有白点不良存在的可能性。
技术实现思路
因此，针对上述的问题，为了有效的将背光产品按压白点全部的挑出，本专利技术提出一种真空测试系统，通过真空吸附给背光产品施加压力，使背光产品中的按压白点能有效的被发现，从而解决现有技术之不足。为了解决上述技术问题，本专利技术所采用的技术方案是，一种背光产品真空测试系统，包括: 一真空发生器，用以产生真空； 一吸附平台，该吸附平台的上部设有放置背光产品的凹槽，凹槽上设有将该凹槽盖合的密封盖；为了方便测试过程中观察背光产品，该密封盖为透明的密封盖； 真空发生器的输出端均匀铺设于该吸附平台的底部，且其铺设面积至少大于凹槽的大小，以将真空发生器的作用力均匀作用于放置凹槽内的背光产品。其中，所述吸附平台也可以设置多个(N个，N大于1)，凹槽也可以设置多个。一个吸附平台为一个操作工位，作为一种可行的方案，那么整个操作平台可以同时设置多个吸附平台也即操作工位，这样，真空发生器的输出端均匀铺设于该操作平台的底部，那么可同时或者分别对若干个操作工位上的背光产品进行测试，方便简单快捷。作为另外一种可行的方案，整个操作平台可设置一个吸附平台也即一个操作工位，该吸附平台上设置若干个凹槽，可放置多个背光产品，这样真空发生器产生真空后，可同时对若干个凹槽内的背光产品进行测试，方便简单快捷。用户可根据需求来自行选择吸附平台个数或者凹槽个数。作为一个进一步的较佳的方案，为了调节真空压力，该测试系统还包括真空调节控制器，真空调节控制器对真空发生器输出的真空压力进行调节。作为一个进一步的较佳的方案，该测试系统还包括真空开关，用以控制输送到吸附平台的真空的通断。作为一个可行的方案，真空开关采用电磁阀来实现。作为一个可行的方案，真空发生器采用真空泵实现，真空泵通过真空管输送真空至吸附平台的底部。作为一个可行的方案，所述密封盖采用真空膜实现，当真空发生器产生真空后，真空膜由于真空的原因被紧密吸附在吸附平台上，进而使放置于吸附平台上、置于真空膜之下的背光产品也紧密吸附在吸附平台上，透过真空膜就可以明显的检查到背光里面是否有白点不良。为了进一步增强真空吸附效果，该密封盖和吸附平台的凹槽之间还设有密封条，当真空发生器产生真空后，该密封条保证了真空膜被紧紧吸附在吸附平台上。具体使用上述背光产品真空测试系统时，使用流程如下: 1、首先将背光产品放进真空测试系统，再盖上真空膜(密封盖)；通过真空管和各工位的真空调节控制器连接，真空调节控制器用以控制输入的真空压力； 2.开启真空发生器产生真空；调节真空调节控制器，调节好真空压力。3.将背光产品放进吸附平台内，然后点亮背光产品，同时真空膜由于真空的原因将背光产品紧紧的吸附在真空测试系统上； 4.透过真空膜就可以明显的检查到背光里面是否有白点不良。5.检查完毕，只要关闭真空发生器释放真空，揭开真空膜就可以将背光产品拿出来了。本专利技术通过上述的真空测试系统，具有如下优点: 1、利用真空吸附给背光产品施加压力，使背光产品中的按压白点能有效的被发现；由于使用真空测试，其施加在背光产品上的压力会很均匀，所以能够有效的发现背光产品中的白点不良； 2、同时还可以通过真空调节控制器来调节压力的大小，从而满足不同客户的压力要求； 3、此真空测试系统不用组装好玻璃后才能将背光产品的白点挑选出来，而是在组装之前就能有效的将背光产品按压白点挑选出来，从而有效的提升返修效率，同时可避免返修导致的玻璃不良。【附图说明】图1为本专利技术的结构框图； 图2为本专利技术的实施例1的结构框图； 图3为本专利技术的实施例1的电气连接示意图； 图4为本专利技术的实施例1的结构的俯视图； 图5为本专利技术的实施例2的电气连接示意图； 图6为本专利技术的实施例2的结构的俯视图； 图7为本专利技术的实施例3的电气连接示意图； 图8为本专利技术的实施例3的立体示意图； 图9为本专利技术的实施例3的电气连接立体示意图。【具体实施方式】现结合附图和【具体实施方式】对本专利技术进一步说明。为了方便的将背光产品的白点挑选出来，本专利技术公开一种背光产品真空测试系统，参见图1，包括真空发生器和吸附平台；真空发生器用以产生真空；吸附平台的上部设有放置背光产品的凹槽，凹槽上设有将该凹槽盖合的密封盖；为了方便测试过程中观察背光产品，该密封盖为透明的密封盖。真空发生器的输出端均匀铺设于该吸附平台的底部，且其铺设面积至少大于凹槽的大小，以将真空发生器的作用力均匀作用于放置凹槽内的背光产品。该吸附平台可以根据需求进行增加或减少工位。为了调节真空压力，该测试系统还包括真空调节控制器，真空调节控制器对真空发生器输出的真空压力进行调节。为了控制输送到吸附平台的真空的通断，该测试系统还包括真空开关。该测试系统还包括为其供电的电源。实施例1 参见图2，该测试系统包括电源1、真空泵2、真空管3、真空调节控制器4、真空开关5和吸附平台6，真空泵2通过真空管3与真空调节控制器4连接，真空调节控当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种背光产品真空测试系统，包括：一真空发生器，用以产生真空；一吸附平台，该吸附平台的上部设有放置背光产品的凹槽，凹槽上设有将该凹槽盖合的密封盖；该密封盖为透明的密封盖；真空发生器的输出端均匀铺设于该吸附平台的底部，且其铺设面积至少大于凹槽的大小，以将真空发生器的作用力均匀作用于放置凹槽内的背光产品。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李思升，黄达慧，
申请(专利权)人：深圳市兆纪光电有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44