一种外延前抛光片清洗后的快速干燥方法技术

技术编号:11454991 阅读:124 留言:0更新日期:2015-05-14 11:36
本发明专利技术一种外延前抛光片清洗后的快速干燥方法,向硅片清洗机的干燥槽内加入超纯水,并向超纯水中加入少量氢氟酸,形成稀的氢氟酸溶液,将待干燥的硅片完全浸入在氢氟酸溶液中4~5min,使氢氟酸溶液从干燥槽底部缓慢泄下,使得硅片逐渐露出液面,同时将热氮气喷入该槽内,对露出液面的硅片进行干燥。本发明专利技术可以均匀、快速的干燥硅抛光片,并消除氧化膜的存在对下道外延工艺的影响。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种外延前抛光片清洗后的快速干燥方法,其特征在于,向硅片清洗机的干燥槽内加入超纯水,并向超纯水中加入少量氢氟酸,形成稀的氢氟酸溶液,将待干燥的硅片完全浸入在氢氟酸溶液中4~5min,使氢氟酸溶液从干燥槽底部缓慢泄下,使得硅片逐渐露出液面,同时将热氮气喷入该槽内,对露出液面的硅片进行干燥。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:盛方毓闫志瑞库黎明冯泉林葛钟
申请(专利权)人:有研新材料股份有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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