本发明专利技术涉及光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置，立板竖立固定于底座上，立板上开有一安装孔和两导向孔，内涨力校验芯轴结构包含内涨力芯轴和可调锥度螺丝，内涨力芯轴的一端置于立板的安装孔中，另一端是具有涨力切口的圆筒，可调锥度螺丝沿轴向穿过圆筒旋入内涨力芯轴的内螺纹孔中，外收缩校验调整结构包含活动塑料隔套和微调螺母，立板的每一导向孔中套装一活动塑料隔套，与导向孔相对位置的立板上沿径向设有螺纹孔，微调螺母旋入螺纹孔中与活动塑料隔套的外缘面相抵接。可对光学薄壁长轴套产品的圆度/圆柱度/内外部尺寸进行手动微调矫正修复，使其再次符合零件的尺寸及形位公差要求。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置。
技术介绍
目前，光学薄壁零件加工完成后会发现圆度、圆柱度变形而达不到图纸要求，也无法进行有效校验修复，只能进行报废处理。浪费了很多的财力和物力，严重制约生产进度顺利进行。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术存在的不足，提供一种光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置。本专利技术的目的通过以下技术方案来实现:光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置，特点是:包括底座、立板、一套内涨力校验芯轴结构和两套外收缩校验调整结构，所述立板竖立固定于底座上，立板上开有一安装孔和两导向孔，所述内涨力校验芯轴结构包含内涨力芯轴和可调锥度螺丝，内涨力芯轴的一端置于立板的安装孔中，另一端是具有涨力切口的圆筒，可调锥度螺丝沿轴向穿过圆筒旋入内涨力芯轴的内螺纹孔中，所述外收缩校验调整结构包含活动塑料隔套和微调螺母，立板的每一导向孔中套装一活动塑料隔套，与导向孔相对位置的立板上沿径向设有螺纹孔，微调螺母旋入螺纹孔中与活动塑料隔套的外缘面相抵接。进一步地，上述的光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置，其中，所述内涨力芯轴的一端与立板的安装孔为间隙配合，与安装孔相对位置的立板上沿径向设有螺钉孔，紧固螺钉旋入螺钉孔中与内涨力芯轴的外缘面相抵接。更进一步地，上述的光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置，其中，所述活动塑料隔套中配合一可旋动的塑圈。再进一步地，上述的光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置，其中，所述两导向孔的孔径不同，相对应地，配装不同直径的活动塑料隔套。本专利技术技术方案突出的实质性特点和显著的进步主要体现在:设置一套内涨力校验芯轴结构和两套外收缩校验调整结构，通过校验夹具可对光学薄壁长轴套产品的圆度/圆柱度/内外部尺寸进行手动微调矫正修复，可根据不同位置不同调整尺寸的需要选择不同的调整模块，对不良品进行有效校验修复，使其再次符合零件的尺寸及形位公差要求，有效地降低废品率，节约了生产成本，校验手法简单，可实际操作性强。堪称是具有新颖性、创造性、实用性的好技术，是一实用的新设计。【附图说明】下面结合附图对本专利技术技术方案作进一步说明:图1:本专利技术的结构示意图。【具体实施方式】如图1所示，光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置，包括底座1、立板2、一套内涨力校验芯轴结构和两套外收缩校验调整结构，立板2竖立固定于底座I上，立板2上开有一安装孔和两导向孔，内涨力校验芯轴结构包含内涨力芯轴8和可调锥度螺丝9，内涨力芯轴8的一端置于立板3的安装孔中，为间隙配合，与安装孔相对位置的立板上沿径向设有螺钉孔，紧固螺钉7旋入螺钉孔中与内涨力芯轴的外缘面相抵接，内涨力芯轴8的另一端是具有涨力切口的圆筒10，可调锥度螺丝9沿轴向穿过圆筒旋入内涨力芯轴的内螺纹孔中。每一外收缩校验调整结构均包含活动塑料隔套和微调螺母，立板2上两导向孔的孔径不同，左侧大导向孔中套装大活动塑料隔套3，与大导向孔相对位置的立板上沿径向设有螺纹孔，大微调螺母4旋入螺纹孔中与大活动塑料隔套3的外缘面相抵接，左侧小导向孔中套装小活动塑料隔套6，与小导向孔相对位置的立板上沿径向设有螺纹孔，小微调螺母5旋入螺纹孔中与小活动塑料隔套6的外缘面相抵接；大活动塑料隔套3和小活动塑料隔套6中均配合一可旋动的塑圈。在底座上设置三种校验模块，分别是一套内涨力校验芯轴结构和两套外收缩校验调整结构，通过校验夹具可以对产品(光学薄壁长轴套)的圆度/圆柱度/内外部尺寸进行手动微调矫正，使其再次符合零件的尺寸及形位公差要求。结构简洁，可实际操作性强。内涨力校验芯轴结构:检测产品发现产品内径尺寸或圆度局部偏小。内涨力芯轴8固定在立板2上通过紧固螺钉7锁紧，检测产品发现产品内径尺寸或圆度局部偏小时，可以将产品内孔放入内涨力芯轴8，通过内涨力芯轴8尾端的可调锥度螺丝9向内旋入调整，可调锥度螺丝9在向内旋合时将具有涨力切口的圆筒10向外涨开从而使产品内径向外涨开，达到要求。涨力的大小可根据产品需要调整的尺寸进行决定。外收缩校验调整结构:检测产品发现产品外径尺寸或圆度局部偏大。立板2上加工两个导向孔，两个导向孔内各放置一活动塑料隔套，避免产品在导向孔内进行校验时压伤表面。在检测产品发现产品外径尺寸或圆度局部偏大，可以根据产品尺寸大小将产品外径套入匹配的调整结构，偏小的部位对准微调螺母，通过微调螺母向内进行顶进活动塑料隔套，微调螺母在向内旋合时使活动塑料隔套将产品局部进行收缩，以达到检验目的，活动塑料隔套内部放置可旋动的塑圈，以保护防止微调螺母在旋合时将产品压伤。该校验夹具可以对产品的圆度/圆柱度/内外部尺寸进行手动微调矫正修复，可根据不同位置不同调整尺寸的需要选择不同的调整模块，对不良品进行有效校验修复，使其再次符合零件的尺寸及形位公差要求，有效地降低废品率，节约了生产成本，校验手法简单，可实际操作性强。需要理解到的是:以上所述仅是本专利技术的优选实施方式，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本专利技术的保护范围。【主权项】1.光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置，其特征在于:包括底座、立板、一套内涨力校验芯轴结构和两套外收缩校验调整结构，所述立板竖立固定于底座上，立板上开有一安装孔和两导向孔，所述内涨力校验芯轴结构包含内涨力芯轴和可调锥度螺丝，内涨力芯轴的一端置于立板的安装孔中，另一端是具有涨力切口的圆筒，可调锥度螺丝沿轴向穿过圆筒旋入内涨力芯轴的内螺纹孔中，所述外收缩校验调整结构包含活动塑料隔套和微调螺母，立板的每一导向孔中套装一活动塑料隔套，与导向孔相对位置的立板上沿径向设有螺纹孔，微调螺母旋入螺纹孔中与活动塑料隔套的外缘面相抵接。2.根据权利要求1所述的光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置，其特征在于:所述内涨力芯轴的一端与立板的安装孔为间隙配合，与安装孔相对位置的立板上沿径向设有螺钉孔，紧固螺钉旋入螺钉孔中与内涨力芯轴的外缘面相抵接。3.根据权利要求1所述的光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置，其特征在于:所述活动塑料隔套中配合一可旋动的塑圈。4.根据权利要求1所述的光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置，其特征在于:所述两导向孔的孔径不同，相对应地，配装不同直径的活动塑料隔套。【专利摘要】本专利技术涉及光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置，立板竖立固定于底座上，立板上开有一安装孔和两导向孔，内涨力校验芯轴结构包含内涨力芯轴和可调锥度螺丝，内涨力芯轴的一端置于立板的安装孔中，另一端是具有涨力切口的圆筒，可调锥度螺丝沿轴向穿过圆筒旋入内涨力芯轴的内螺纹孔中，外收缩校验调整结构包含活动塑料隔套和微调螺母，立板的每一导向孔中套装一活动塑料隔套，与导向孔相对位置的立板上沿径向设有螺纹孔，微调螺母旋入螺纹孔中与活动塑料隔套的外缘面相抵接。可对光学薄壁长轴套产品的圆度/圆柱度/内外部尺寸进行手动微调矫正修复，使其再次符合零件的尺寸及形位公差要求。【IPC分类】B21D3-00【公开号】CN104550334【申请号】CN201510001727【专利技术人】岳薛 【申请人】苏州市新鸿基精密部品有限公司【公开日】2015年4月29日【申请日】2015年本文档来自技高网...
【技术保护点】
光学薄壁长轴套跳动、圆度及尺寸的校验装置，其特征在于：包括底座、立板、一套内涨力校验芯轴结构和两套外收缩校验调整结构，所述立板竖立固定于底座上，立板上开有一安装孔和两导向孔，所述内涨力校验芯轴结构包含内涨力芯轴和可调锥度螺丝，内涨力芯轴的一端置于立板的安装孔中，另一端是具有涨力切口的圆筒，可调锥度螺丝沿轴向穿过圆筒旋入内涨力芯轴的内螺纹孔中，所述外收缩校验调整结构包含活动塑料隔套和微调螺母，立板的每一导向孔中套装一活动塑料隔套，与导向孔相对位置的立板上沿径向设有螺纹孔，微调螺母旋入螺纹孔中与活动塑料隔套的外缘面相抵接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：岳薛，
申请(专利权)人：苏州市新鸿基精密部品有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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