BIST的测试电路和测试方法技术

本发明专利技术实施例提供一种BIST的测试电路和测试方法，该测试电路包括：待测试电路、驱动电路、处理电路和计算电路；待测试电路的输入端与驱动电路的输出端连接；待测试电路的输出端与处理电路的输入端连接；处理电路的输出端与计算电路的输入端连接；所述驱动电路用于驱动所述待测试电路；所述处理电路用于消除所述待测试电路发送的数字信号的直流失调，并对消除直流失调后的所述数字信号进行滤波和陷波处理，获取测试信号和有效噪声信号；所述计算电路用于根据所述测试信号和所述有效噪声信号计算获取所述待测试电路的性能指标。通过内部集成处理电路和计算电路，直接获取需要的待测试电路的性能指标，有效提高测试待测试电路的效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术实施例涉及集成电路测试领域，尤其涉及一种内建自测（英文：Built_in SelfTest，简称：BIST)的测试电路和测试方法。
技术介绍
在当前的电子产品设计中，集成电路的应用越来越广泛，且集成度也越来越高。片 上系统（英文：SyStemonChip，简称：SOC)芯片中集成了大量的模拟IP，包括了大量的模 /数转换器（英文：Analog-to_DigitalConverter，简称：ADC)电路和数/模转换器（英 文：Digitaltoanalogconverter，简称DAC)电路。 ADC电路和DAC电路均包括一个模拟接口和数字接口，模拟接口引出到管脚上， 数字接口为内部接口，S0C芯片在晶元生产出来之后，需要进行电路探针（英文：Circuit Probing，简称：CP)测试，在SOC芯片封装完成之后，还需要进行FT测试，现有的测试方案 主要是：将S0C芯片设置进入ADC/DAC测试模式，将ADC电路和DAC电路的数字接口复用到 芯片管脚上。ADC测试的方法是从测试机台的模拟信号源发送正弦波给ADC电路，同时接收 ADC数字接口的数字正弦波，进行F本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种BIST的测试电路，其特征在于，包括：待测试电路、驱动电路、处理电路和计算电路；所述待测试电路的输入端与所述驱动电路的输出端连接；所述待测试电路的输出端与所述处理电路的输入端连接；所述处理电路的输出端与所述计算电路的输入端连接；所述驱动电路用于驱动所述待测试电路；所述处理电路用于消除所述待测试电路发送的数字信号的直流失调，并对消除直流失调后的所述数字信号进行滤波和陷波处理，获取测试信号和有效噪声信号；所述计算电路用于根据所述测试信号和所述有效噪声信号计算获取所述待测试电路的性能指标。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邹定锴，
申请(专利权)人：南京天易合芯电子有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32