集成电路测试系统的多通道对称校准的方法及其接口转换装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种集成电路测试系统的多通道对称校准的方法及其接口转换装置，以集成电路测试系统校准装置的校准通道接口数为基准，对集成电路测试系统的通道接口按顺序进行分组划分，使每一组测试通道接口的类型数及每种类型的通道接口数完全一致，同时，每一组测试通道接口的类型排布完全一致，所述校准通道接口依次对每一组测试通道接口进行校准，直至所有测试通道接口都校准完成。通过对集成电路测试系统的通道接口按组划分，并分组校准，达到对集成电路测试系统上千个通道接口校准的准确切换，且缩短了大规模的切换矩阵和模块切换路径，提高了抗干扰的能力。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种校准方法，特别涉及一种集成电路测试系统的多通道对称校准的方法及其接口转换装置。
技术介绍
当前对集成电路测试系统的多通道校准主要采用矩阵切换仪器进行中间连接和映射的方式，将一通道或者多通道的校准装置连接到几百几千个通道的集成电路测试系统的每个通道，并对其进行校准。校准装置包含的一个或者多个通道的校准单元可以通过切换连接到集成电路测试系统的任意一个通道上。但是随着集成电路管脚规模的快速发展，集成电路测试系统的通道规模越来越大，现有的矩阵切换仪器远不能满足对大规模集成电路测试系统的校准，目前也没有一款能够完全满足集成电路测试系统上千个通道的校准切换的仪表。同时大规模的切换矩阵和模块切换路径长，抗干扰能力差，不利于现有的集成电路测试系统校准工作。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种能够对大规模集成电路测试系统的通道进行准确校准的集成电路测试系统的多通道对称校准的方法及其接口转换装置。一种集成电路测试系统的多通道对称校准的方法，其特征在于，以集成电路测试系统校准装置的校准通道接口数为基准，对集成电路测试系统的通道接口按顺序进行分组划分，使每一组测试通道接口的类型数及每种类型的通道接口数完全一致，同时，每一组测试通道接口的类型排布完全一致，所述校准通道接口依次对每一组测试通道接口进行校准，直至所有测试通道接口都校准完成。优选的，所述每一组测试通道接口中的信号通道接口和信号地通道接口呈交叉排布。优选的，以集成电路测试系统校准装置的通道接口的尺寸及排布为标准，使集成电路测试系统的通道接口与集成电路测试系统校准装置的通道接口一致。优选的，以集成电路测试系统校准装置的通道接口的尺寸及排布为标准，采用接口转换装置使集成电路测试系统的通道接口与集成电路测试系统校准装置的通道接口一致。一种接口转换装置，用于实现集成电路测试系统与集成电路测试系统的校正装置之间的多通道对称校准，包括与集成电路测试系统校准装置的通道接口对应设置的弹簧针，和通过与所述集成电路测试系统的通道接口对应设置的对接通道接口组，所述弹簧针与所述对接通道接口组一一对应，且所述对接通道接口组以弹簧针的针数为基准按顺序进行分组，每一排对接通道接口组所对应的集成电路测试系统通道接口的类型数、每种类型的通道接口数、通道接口的类型排布均完全一致。优选的，所述集成电路测试系统通过一信号接口转换集成电路板将所述测试通道接口进行分组，使每一排对接通道接口组所对应的集成电路测试系统通道接口的类型数、每种类型的通道接口数、通道接口的类型排布均完全一致。优选的，所述每一组对接通道接口组所对应的集成电路测试系统的信号通道接口和信号地通道接口呈交叉排布。优选的，所述每一组对接通道接口组以弹簧针的尺寸及排布为标准设置。优选的，所述对接通道接口组旋转对称分布排列。优选的，所述弹簧针和对接通道接口组对应矩阵排列。本专利技术提供一种集成电路测试系统的多通道对称校准的方法，通过利用集成电路测试系统的多通道冗余特性，以集成电路测试系统校准装置的校准通道接口数为基准，对集成电路测试系统的通道接口按顺序进行分组划分，使组间的通道接口类型数及每种类型的通道接口数完全一致，组间的通道接口类型排布完全一致。通过对集成电路测试系统的通道接口按组划分，并分组校准，达到对集成电路测试系统上千个通道校准的准确切换，且缩短了大规模的切换矩阵和模块切换路径，提高了抗干扰的能力。一种接口转换装置，用于实现集成电路测试系统与集成电路测试系统的校正装置之间的多通道对称校准，按照上述方法将集成电路测试系统的通道接口和集成电路测试系统校准装置的通道接口分别对应连接到弹簧针组和对接通道接口组中，同时根据弹簧针组的接口数为基准，对对接通道接口组进行分组，并呈圆周状排布，使对接通道接口组的任一排通道接口通过绕固定的点旋转360° /N(N为组数)角度后可以完整的和弹簧针组对接，使在不改变原有的程序及配置的情况下完成对各组测试通道接口的校准，同时组间完全一致的校准通道接口和信号回路状态保证了校准结果的一致性，避免了矩阵切换方式噪声及误差较大、信号回路较长等带来的校准误差。【附图说明】图1是本专利技术所述的集成电路测试系统的多通道对称校准的方法的流程图；图2是本专利技术所述接口转换装置的框图；图3是本专利技术所述接口转换装置中弹簧针的结构示意图；图4是图3中弹簧针安装在弹簧针座上的剖视示意图；图5是本专利技术所述接口转换装置中对接通道组的结构示意图；图6是本专利技术所述接口转换装置中另一种对接通道组的结构示意图。【具体实施方式】为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明，应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。如图1和图2所示，本专利技术提供一种集成电路测试系统的多通道对称校准的方法，通过利用集成电路测试系统20的多通道冗余特性，以集成电路测试系统校准装置10的通道接口数为基准，对集成电路测试系统20的通道接口按顺序进行分组划分，使每一组通道接口的类型数及每种类型的通道接口数完全一致，同时，每一组通道接口的类型排布完全一致。如图1所示，所述集成电路测试系统校准装置10依次对每一组测试通道接口进行校准，直至所有集成电路测试系统20的通道接口都校准完成。通过对集成电路测试系统20的通道接口按组划分，并分组校准，达到对集成电路测试系统20的上千个通道接口的校准的准确切换，且缩短了大规模的切换矩阵和模块切换路径，提高了抗干扰的能力。具体的，以集成电路测试系统校准装置10接口的尺寸及排布为标准，使集成电路测试系统20的测试通道接口的尺寸及排布与集成电路测试系统校准装置10的接口一致。同时，由于信号电路中的地线上具有电感因而增加了地线阻抗，同时各地线之间容易产生电感耦合，因此为了使每组通道接口具有更好的校准性能，将所述集成电路测试系统20的信号通道接口和信号地通道接口呈交叉排布，使每个通道信号都具有较近的信号回路。如图2所示，为实施本专利技术所述的集成电路测试系统的多通道对称校准的方法，本专利技术还提供一种接口转换装置，用于实现集成电路测试系统与集成电路测试系统的校正装置之间的多通道对称校准，所述接口转换装置包括与集成电路测试系统校准装置10的接口对应设置的弹簧针组40，和与所述集成电路测试系统20的通道接口对应设置的对接通道接口组50，所述弹簧针与所述对接通道接口一一对应，所述对接通道接口以弹簧针的针数为基准，按顺序进行分组划分，每一排对接通道接口所对应的集成电路测试系统20的通道接口的类型数、每种类型的通道接口数、通道接口的类型排布均完全一致。具体的，以弹簧针的尺寸、及所对应的校准接口的排布为标准，使每一排对接通道接口的尺寸、及所对应的集成电路测试系统20的测试通道接口的排布与校准接口一致。同时，所述每一排对接通道接口中所对应的集成电路测试系统20的信号通道接口和信号地通道接口呈交叉排布，使每个通道信号都具有较近的信号回路。具体的，本专利技术以对256个待校准的通道接口的集成电路测试系统20和具有16个校准通道接口的集成电路测试系统校准装置10为例进行说明，该专利技术并不仅限于特定通道接口数的集成电路测试系统以及特定通道接口数的集成电路测试系统校准装置。所述集成电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成电路测试系统的多通道对称校准的方法，其特征在于，以集成电路测试系统校准装置的校准通道接口数为基准，对集成电路测试系统的通道接口按顺序进行分组划分，使每一组测试通道接口的类型数及每种类型的通道接口数完全一致，同时，每一组测试通道接口的类型排布完全一致，所述校准通道接口依次对每一组测试通道接口进行校准，直至所有测试通道接口都校准完成。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：周厚平，李轩冕，
申请(专利权)人：中国船舶重工集团公司第七零九研究所，
类型：发明
国别省市：湖北;42