本发明专利技术公开了一种校准装置误差测量系统、方法及测试系统校准方法、系统，其通过向数字集成电路测试系统校准装置中输入标准电压信号，计算得到标准电流和测量电流，根据测量电流与标准电流之间的差值，能够得到在该标准电压信号与该标准电阻模块匹配下校准装置的测量误差。然后匹配多组标准电压值及标准电阻阻值，构建标准电压值与标准电阻相对应的匹配选择模型，从而能够根据施加电压选择出与施加电压形成最佳匹配的标准电阻的阻值，使得校准装置在该施加电压与标准电阻的组合下，测量误差值最小，进而提高数字集成电路测试系统的直流电流参数的校准精度。电流参数的校准精度。电流参数的校准精度。
【技术实现步骤摘要】
校准装置误差测量系统、方法及测试系统校准方法、系统
[0001]本专利技术涉及集成电路测试系统计量
，尤其是涉及一种校准装置误差测量系统、方法及测试系统校准方法、系统。
技术介绍
[0002]武器装备或重点型号任务中使用的数字集成电路主要通过数字集成电路测试系统保障其性能和质量，因此数字集成电路测试系统作为现代武器装备的保障设备对其准确的计量具有举足轻重的地位。
[0003]在对数字集成电路测试系统进行校准时，对于直流电流参数校准通常采用加压测流的方法，即通过操作数字集成电路测试系统，使其发出指定大小的电压，电压加载到与测试系统外接的标准电阻上，此时数字集成电路测试系统回读测试回路中的直流电流大小并与回路中实际测量得到的电流大小进行比较，即可完成对数字集成电路测试系统直流参数的校准。
[0004]为了覆盖数字集成电路测试系统的直流参数范围，会通过改变数字集成电路测试系统的输出电压与外接标准电阻的阻值大小，以此得到不同范围内的电流。在对数字集成电路直流参数校准过程中，要依据测试系统的量程范围、标准电阻所能承受的电压和电流范围以及外接测试设备的量程。
[0005]但是在实际校准中，会存在着多种输出电压与标准电阻组合均能满足以上所述的条件，因此如何能选择最为准确与合理的组合形式，使数字集成电路测试系统校准装置能够最为稳定准确地进行校准，是急需研究与解决的问题，也是提高校准工作效率，规范校准流程的重要手段。
技术实现思路
[0006]本专利技术提出一种校准装置误差测量系统、方法及测试系统校准方法、系统，以克服上述技术不足。
[0007]为达到上述技术目的，本专利技术提供一种数字集成电路测试系统校准装置的误差测量系统，其包括：
[0008]标准电压源，所述标准电压源与所述校准装置的信号输入端电性连接的标准电压源，用于模拟数字集成电路测试系统向校准装置输出标准电压信号；
[0009]校准装置，所述校准装置用于根据数字集成电路测试系统输入的电压信号对数字集成电路测试系统进行校准；
[0010]其中，所述校准装置包括标准电阻模块以及电压测量模块，所述标准电阻模块为校准测试提供设定范围内各种阻值的电阻，所述电压测量模块用于检测校准装置中标准电阻模块上的电压值。
[0011]本专利技术还提供一种数字集成电路测试系统校准装置的误差测量方法，其包括如下步骤：
[0012]向数字集成电路测试系统校准装置中输入标准电压信号；
[0013]测量校准装置中通过标准电阻模块的电压值；
[0014]根据标准电压值与标准电阻阻值计算标准电流，根据测量的电压值与标准电阻阻值计算测量电流，将标准电流与测量电流进行比对，得到校准装置的测量误差。
[0015]本专利技术再提供一种采用所述误差测量方法的数字集成电路测试系统的优化校准方法，其包括如下步骤：
[0016]采用数字集成电路测试系统校准装置的误差测量方法匹配多组标准电压值及标准电阻阻值，并分别记录每一组标准电压值及标准电阻阻值匹配下校准装置的测量误差值；
[0017]构建标准电压值与标准电阻阻值对测量误差值的数据集，仿真得到标准电压值与标准电阻相对应的匹配选择模型；
[0018]利用标准电压值与标准电阻相对应的匹配选择模型，选择与施加电压一致的标准电压值所对应的测量误差值最小的标准电压值与标准电阻组合；
[0019]以施加电压与选定的标准电阻产生的的电流值对数字集成电路测试系统进行校准。
[0020]本专利技术又提供一种采用所述误差测量方法的数字集成电路测试系统的优化校准系统，其包括如下功能模块：
[0021]误差测量模块，用于采用数字集成电路测试系统校准装置的误差测量方法匹配多组标准电压值及标准电阻阻值，并分别记录每一组标准电压值及标准电阻阻值匹配下校准装置的测量误差值；
[0022]模型构建仿真模块，用于构建标准电压值与标准电阻阻值对测量误差值的数据集，仿真得到标准电压值与标准电阻相对应的匹配选择模型；
[0023]电阻选择模块，用于利用标准电压值与标准电阻相对应的匹配选择模型，选择与施加电压一致的标准电压值所对应的测量误差值最小的标准电压值与标准电阻组合；
[0024]校准模块，用于以施加电压与选定的标准电阻产生的的电流值对数字集成电路测试系统进行校准。
[0025]与现有技术相比，本专利技术所述数字集成电路测试系统校准装置的误差测量系统及方法，其通过向数字集成电路测试系统校准装置中输入标准电压信号，计算得到标准电流和测量电流，根据测量电流与标准电流之间的差值，能够得到在该标准电压信号与该标准电阻模块匹配下校准装置的测量误差。
[0026]本专利技术所述数字集成电路测试系统的优化校准方法及系统，其通过采用数字集成电路测试系统校准装置的误差测量方法匹配多组标准电压值及标准电阻阻值，构建标准电压值与标准电阻相对应的匹配选择模型，从而能够根据施加电压选择出与施加电压形成最佳匹配的标准电阻的阻值，使得校准装置在该施加电压与标准电阻的组合下，测量误差值最小，进而提高数字集成电路测试系统的直流电流参数的校准精度。
附图说明
[0027]图1是数字集成电路测试系统校准示意图；
[0028]图2是本专利技术实施例所述数字集成电路测试系统校准装置的误差测量系统的示意
图；
[0029]图3是本专利技术实施例所述数字集成电路测试系统校准装置的误差测量方法的流程框图；
[0030]图4是本专利技术实施例所述数字集成电路测试系统的优化校准方法的流程框图；
[0031]图5是本专利技术实施例所述数字集成电路测试系统的优化校准系统的模块示意图。
具体实施方式
[0032]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0033]图1为本领域技术人员采用加压测流的方法对数字集成电路测试系统的直流电流参数进行校准时的数字集成电路测试系统校准示意图，其校准方法如下：
[0034]首先依据被校准的直流电流档位确定标准电阻阻值大小R1，并控制数字集成电路测试系统通过校准装置给标准电阻两端施加电压，然后测试系统回读整个校准回路中的电流为A2，与此同时由数字万用表读取电阻两端的电压值U1，可以得到由数字万用表测得的电流大小为U1/R1，比较A2与U1/R1即可完成校准。
[0035]由于在校准时，同一档位的直流电流可以由多组电压与电阻的组合得到，其对于电流值较大的档位组合方式的校准结果影响不大，但是对于电流值较小的档位，选择的电压与电阻组合不同会对结果有很大的影响。因此需要构建电压、电阻与数字万用表测量精度间的关系模型，从而得到同一直流电流档位测量精度最高的电压和电阻组合。
[0036]基于上述内容，本专利技术实施例首先提供一种数字集成电路测试系统校准装置的误差测量系统。如图2所示，所述数字集成本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种数字集成电路测试系统校准装置的误差测量系统，其特征在于，包括：标准电压源，所述标准电压源与所述校准装置的信号输入端电性连接的标准电压源，用于模拟数字集成电路测试系统向校准装置输出标准电压信号；校准装置，所述校准装置用于根据数字集成电路测试系统输入的电压信号对数字集成电路测试系统进行校准；其中，所述校准装置包括标准电阻模块以及电压测量模块，所述标准电阻模块为校准测试提供设定范围内各种阻值的电阻，所述电压测量模块用于检测校准装置中标准电阻模块上的电压值。2.根据权利要求1所述数字集成电路测试系统校准装置的误差测量系统，其特征在于，标准电压源通过线缆与校准装置上的信号输入接口电性连接，所述标准电阻模块串联设置在校准装置中。3.一种数字集成电路测试系统校准装置的误差测量方法，其特征在于，包括如下步骤：向数字集成电路测试系统校准装置中输入标准电压信号；测量校准装置中通过标准电阻模块的电压值；根据标准电压值与标准电阻阻值计算标准电流，根据测量的电压值与标准电阻阻值计算测量电流，将标准电流与测量电流进行比对，得到校准装置的测量误差。4.一种采用权利要求3所述误差测量方法的数字集成电路测试系统的优化校准方法，其特征在于，包括如下步骤：采用数字集成电路测试系统校准装置的误差测量方法匹配多组标准电压值及标准电阻阻值，并分别记录每一组标准电压值及标准电阻阻值匹配下校准装置的测量误差值；构建标准电压值与标准电阻阻值对测量误差值的数据集，仿真得到标准电压值与标准电阻相对应的匹配选择模型；利用标准电压值与标准电阻相对应的匹配选择模型，选择与施加电压一致的标准电压值所对应的测量误差值最小的标准电压值与标准电阻组合；以施加电压与选定的标准电阻产生...
【专利技术属性】
技术研发人员：丁超，王珩，
申请(专利权)人：中国船舶重工集团公司第七零九研究所，
类型：发明
国别省市：
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