判断双晶合金的方法技术

本发明专利技术涉及一种判断双晶合金的方法，包括以下步骤：将待测合金试样制备金相面，分别测量金相面内的多个晶粒的横截面积S；将所测得的多个横截面积S按照晶粒序号n的升序而从小到大排序形成横截面积序列Sn；计算晶粒序号之间相差为间隔常数k的两个横截面积之间的差值ΔS，间隔常数k为正整数；将所得到的多个差值ΔS按照所述晶粒序号n的升序排列成差值序列ΔSn；获得差值序列ΔSn中的数值跳变区域，数值跳变区域的开始值对应的晶粒序号为特征晶粒序号N；当晶粒序号小于特征晶粒序号N的晶粒的数量与晶粒序号大于或等于特征晶粒序号N的晶粒的数量之比为1:9到9:1，待测合金试样为双晶合金。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及一种，包括以下步骤：将待测合金试样制备金相面，分别测量金相面内的多个晶粒的横截面积S；将所测得的多个横截面积S按照晶粒序号n的升序而从小到大排序形成横截面积序列Sn；计算晶粒序号之间相差为间隔常数k的两个横截面积之间的差值ΔS，间隔常数k为正整数；将所得到的多个差值ΔS按照所述晶粒序号n的升序排列成差值序列ΔSn；获得差值序列ΔSn中的数值跳变区域，数值跳变区域的开始值对应的晶粒序号为特征晶粒序号N；当晶粒序号小于特征晶粒序号N的晶粒的数量与晶粒序号大于或等于特征晶粒序号N的晶粒的数量之比为1:9到9:1，待测合金试样为双晶合金。【专利说明】
本专利技术涉及材料领域，特别涉及一种。
技术介绍
在碳化鹤硬质合金中，通过将两种晶粒粒度差别较大的碳化鹤粉末按照重量比为 1 : 5均匀混合，并经粉末冶金就可制备出双晶硬质合金。通常，双晶合金中细晶粒的数量 与粗晶粒的数量之比在1:9到9:1之间。该种硬质合金综合了细晶粒硬质合金的高初性与 粗晶粒硬质合金的耐磨性，具有良好的性能。 然而，在现有技术中，并没有判断待测试样是否为双晶合金的标准。通常使用截线 法来测量晶粒度，并且根据所测试样的晶粒度的大体分布和力学性能人为定性地判断该试 样是否为双晶合金。该种判断方法具有很强的主观性，判断结果也不准确。
技术实现思路
针对上述问题，本专利技术提出了一种。根据本专利技术的方法能够 客观地判断待测合金是否为双晶合金。 根据本专利技术的，包括W下步骤：将待测合金试样制备金相面， 分别测量金相面内的多个晶粒的横截面积S ;将所测得的多个横截面积S按照晶粒序号n 的升序而从小到大排序形成横截面积序列S。，其中n是晶粒序号，取值为正整数；计算晶粒 序号之间相差为间隔常数k的两个横截面积之间的差值A S，该间隔常数k为正整数；将所 得到的多个差值AS按照晶粒序号n的升序排列成差值序列AS。;获得差值序列AS。中的 数值跳变区域，数值跳变区域的开始值对应的晶粒序号为特征晶粒序号N ;当晶粒序号小 于特征晶粒序号N的晶粒的数量与晶粒序号大于或等于特征晶粒序号N的晶粒的数量之比 为1:9到9:1时，待测合金试样为双晶合金。 在本专利技术的方法中，完全排除了人为判断晶粒度分布的主观性，从而能够客观并 准确地判断待测合金是否为双晶合金。 在一个实施例中，差值序列A S。中的数值跳变区域中的晶粒的数量在15到20个。 在一个实施例中，在将待测合金试样制备金相面后，首先获得金相面上的合金组 织的金相照片，然后再获得金相照片中的多个晶粒的横截面积S。根据该种方法，操作者可 W根据自己的实际情况对金相照片进行处理而得到多个晶粒的横截面积，该就免除了对实 验设备的依赖性，提高了测试的自由度。此外，操作者还可W对该金相照片进行多次测量， W提高所测得的横截面积的精确性。 在一个实施例中，间隔常数k大于5且小于30。在一个优选的实施例中，间隔常数 k为9、10、11和12中的一个。 在一个实施例中，晶粒序号n的最大值在1600到2000之间。测量如此多的晶粒 可W保证判断结果的准确性。 在一个实施例中，合金试样为碳化鹤硬质合金试样。 与现有技术相比，本专利技术的优点在于；本专利技术完全排除了人为判断晶粒度分布的 主观性，从而能够客观并准确地判断待测合金是否为双晶合金。 【专利附图】【附图说明】 在下文中将基于实施例并参考附图来对本专利技术进行更详细的描述。其中： 图1是实施根据本专利技术的方法的步骤示意图。 图2是实施例1中的金相照片。 图3是实施例1的差值序列的曲线。 图4是实施例2中的金相照片。 [001引图5是实施例2的差值序列的曲线。 【具体实施方式】 下面将结合附图对本专利技术作进一步说明。 图1显示了实施根据本专利技术的方法的步骤。如步骤11 ;测量多个晶粒的横截面积。 该里，首先制备金相面，然后分别测量金相面内的多个晶粒的横截面积S。在一个实施例中， 在制备金相面后，使用光学显微镜拍摄金相照片，之后分析金相照片从而获得多个晶粒的 横截面积。在一个优选的实施例中，可使用图像分析仪等装置对金相照片进行分析。该分 析方法是本领域的技术人员所公知的，该里不再费述。此外，还应注意地是：为了获得代表 性地结果，通常需要测量的晶粒的数量在1600到2000之间。 接着，进行步骤12 ;将测得的多个横截面积排序。该里，将所测得的多个横截面积 S按照晶粒序号n的升序而从小到大排序形成横截面积序列S。，其中n是晶粒序号，取值为 正整数。例如，Si为排序后第一个晶粒的横截面积，S 2为排序后第二个晶粒的横截面积，S 3 为排序后第H个晶粒的横截面积，依次类推，直到将所有的横截面积S排列完。由于通常需 要测量的晶粒的数量在1600到2000之间，因此n的取值也在1600到2000之间。 接着，进行步骤13;计算横截面差值。该里，首先选取间隔常数k。间隔常数k是 指晶粒序号n之间的间隔。在本专利技术的方法中，间隔常数k可为大于5且小于30的正整数。 优选地，间隔常数k可为9、10、11和12中的一个。然后，计算晶粒序号之间相差为间隔常 数k的两个横截面积之间的差值AS。接下来，将多个差值AS按照所述晶粒序号n的升 序排列成差值序列A S。。例如，当k取10时，A Si为S U减去S 1得到的差，A S 2为S 12减去 S2得到的差，A S 3为S。减去S 3得到的差，依次类推。由于在横截面积序列S。中，横截面积 S按照晶粒序号n的升序而从小到大排序的，因此差值序列AS。中的所有差值AS都大于 零。 接着，进行步骤14 ;获得特征晶粒序号。在本专利技术的方法中，特征晶粒序号N为差 值序列AS。中的数值跳变区域的开始值对应的晶粒序号为特征晶粒序号。在一个实施例 中，可W在W晶粒序号n为横坐标，W差值AS为纵坐标的直角坐标系中，由差值序列AS。 来绘制平滑的曲线。扫描该曲线，即可得到数值跳变区域，该数值跳变区域的开始值对应的 晶粒序号为特征晶粒序号N。在一个实施例中，差值序列AS。中的数值跳变区域中的晶粒 的数量应当在15到20个之间。扫描曲线的方法是本领域的技术人员所熟知的，该里不再 费述。 最后，进行步骤15 ;判断试样是否为双晶合金。当晶粒序号小于特征晶粒序号N的 晶粒的数量与晶粒序号大于或等于特征晶粒序号N的晶粒的数量之比为1:9到9:1时，待 测合金试样为双晶合金。 由此可见，在本专利技术的方法中，完全排除了人为判断合金的晶粒度分布的主观性， 从而能够客观并准确地判断待测合金是否为双晶合金。 实施例1 : W碳化鹤硬质合金为例。取晶粒度为1. 06微米的第一粉体（即，细晶粒粉体）500 克，取晶粒度为1. 62微米的第二粉体（即，粗晶粒粉体）500克。将第一粉体和第二粉体均 匀混合成预处理粉体。预处理粉中第一粉体与第二粉体的重量比为1 : 1，该在制备双晶合 金的粉体比例的范围内。 将预处理粉体进行粉末冶金，烧结成试样21。由于在粉末冶金过程中，晶粒的长 大倾向很小，因此试样21中的细晶粒的数量与粗晶粒的数量之比应当在9 : 1到1 : 9之本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种判断双晶合金的方法，包括以下步骤：将待测合金试样制备金相面，分别测量金相面内的多个晶粒的横截面积S；将所测得的多个横截面积S从小到大排序形成横截面积序列Sn，其中n是晶粒从小到大的序号，取值为正整数；计算晶粒序号之间相差为间隔常数k的两个横截面积之间的差值ΔS，所述间隔常数k为正整数；将所得到的多个差值ΔS按照所述晶粒序号n的升序排列成差值序列ΔSn，获得所述差值序列ΔSn中的数值跳变区域，所述数值跳变区域的开始值对应的晶粒序号为特征晶粒序号N；当晶粒序号小于所述特征晶粒序号N的晶粒的数量与晶粒序号大于或等于所述特征晶粒序号N的晶粒的数量之比为1:9到9:1时，所述待测合金试样为双晶合金。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：罗海辉，彭宇，彭鑫，
申请(专利权)人：株洲硬质合金集团有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南;43