一种测量压力烧结炉内温度的炉控片测温方法技术

本发明专利技术公开了一种测量压力烧结炉内温度的炉控片测温方法，包括以下步骤：(1)确定炉控片的烧结温度与矫顽磁力的对应关系；(2)将炉控片压坯进行预烧结，使其预合金致密化，得到预烧结炉控片；(3)将所述预烧结炉控片放入压力烧结炉内进行烧结，烧结完成后取出炉控片，并测量炉控片的矫顽磁力值，依据步骤(1)中得到的对应关系，推算出压力烧结炉内的温度。本发明专利技术的方法通过将炉控片压坯进行预烧，使其预合金致密化，再将其压力烧结炉内烧结，测量烧结完后炉控片的矫顽磁力值，推导出压力烧结炉内的温度分布，由于预烧结炉控片氧化少，能更加准确的反应压力烧结炉内的温度，测温精度高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于温度测量领域，尤其涉及一种烧结炉的测温方法。

技术介绍

1、由于硬质合金对烧结温度非常敏感，如果无法及时、准确地监测烧结炉内的温度状况，会带来较大的质量问题，从而为硬质合金生产带来高昂的生产成本，这对于大多数硬质合金生产单位来说是难以承担的经济负担。

2、炉控片测温法是目前绝大多数硬质合金烧结过程中的测温方法。通过炉控片测温法，我们可以准确测量烧结炉内的温度。然而炉控片测温法在硬质合金生产过程中需要与产品共同进炉，这使得炉控片与烧结产品需要采用相同的烧结工艺。对于脱蜡烧结一体炉而言，炉控片测温法可以有效测温。如专利文献cn101922982b中公开了一种测量烧结炉内温度场的方法，该方法为利用硬质合金测试块的矫顽磁力与烧结温度的对应关系，通过检测烧结后硬质合金测试块的矫顽磁力来间接反应出烧结炉内的温度分布。此方法简单易行，且测试块与烧结炉内生产的产品为相同材质，所测试的结果准确，对生产指导性强。

3、但是该方法只适合测量脱蜡烧结一体炉的温度分布，而不适合测量压力烧结炉的温度分布。原因如下：在实际生产过程中，部分产品的脱蜡本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测量压力烧结炉内温度的炉控片测温方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的炉控片测温方法，其特征在于，将炉控片压坯进行预烧结时控制烧结温度低于其液相烧结温度。

3.根据权利要求2所述的炉控片测温方法，其特征在于，所述炉控片为WC-Co基硬质合金，预烧结时控制烧结温度为1250-1300℃，保温时间为1-2h。

4.根据权利要求1所述的炉控片测温方法，其特征在于，所述炉控片压坯中包括WC和Co，其二者的质量比为(85-95)：(5-15)，且WC晶粒度为0.7-0.9μm。

5.根据权利要求1所述的炉控片测温方法，其特...

【技术特征摘要】

1.一种测量压力烧结炉内温度的炉控片测温方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的炉控片测温方法，其特征在于，将炉控片压坯进行预烧结时控制烧结温度低于其液相烧结温度。

3.根据权利要求2所述的炉控片测温方法，其特征在于，所述炉控片为wc-co基硬质合金，预烧结时控制烧结温度为1250-1300℃，保温时间为1-2h。

4.根据权利要求1所述的炉控片测温方法，其特征在于，所述炉控片压坯中包括wc和co，其二者的质量比为(85-95)：(5-15)，且wc晶粒度为0.7-0.9μm。

5.根据权利要求1所述的炉控片测温方法，其特征在于，所述预烧结炉控片包括质量含量为85-95％的wc与质量含量为5-15％的co，所述预烧结炉控片的组织结构为wc+co的两相组织。

6.根据权利要求1所述的炉控片测温方法，其特征在于，所述炉控片包括质量含量为85-95％的wc与质量含量为5-15％的co，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘豪，管玉明，周新华，阳世学，邹盛池，林子扬，
申请(专利权)人：株洲硬质合金集团有限公司，
类型：发明
国别省市：