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本发明涉及一种判断双晶合金的方法，包括以下步骤：将待测合金试样制备金相面，分别测量金相面内的多个晶粒的横截面积S；将所测得的多个横截面积S按照晶粒序号n的升序而从小到大排序形成横截面积序列Sn；计算晶粒序号之间相差为间隔常数k的两个横截面积...
该专利属于株洲硬质合金集团有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过株洲硬质合金集团有限公司授权不得商用。

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