测试探头及测试设备制造技术

本发明专利技术提供了一种测试探头及测试设备，该测试探头包括底座、弹性伸缩元件以及探针，所述探针通过所述弹性伸缩元件设置在所述底座上。本发明专利技术提供的测试探头，只需事先在液晶屏的测试区域涂覆银胶，而不再需要制作焊锡丝、固定焊锡丝等步骤，因此不但能够大大简化测试前的准备工作，还能保证连接的可靠性，从而大大缩短了测试时间，提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示领域，尤其涉及一种测试探头及测试设备。
技术介绍
在液晶显示器的生产过程中，为保证得到的产品的质量，通常需要对产品的光学参数(如VT、RT等)进行测试，目前，通常采用光学设备(如DMS900)进行测试，在测试前需要进行准备工作以将光学设备的检测信号线连接至液晶屏的测试区域，其连接方式如图3所示，具体地，首先在液晶屏100’的测试区域涂银胶300’，而后再制作焊锡丝400’，并用纸胶带固定焊锡丝400’，最后再通过测试夹500’将光学设备的检测信号线200’与焊锡丝400’连接，上述的测试前的准备工作异常繁琐，而且在准备工作完成之后，也不能确保测试时的电路完全打通，准确无误，反而经常出现断路、短路等现象，继而出现无测试数据或测试数据不准确等现象。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本专利技术要解决的技术问题是提供一种测试探头及测试设备，能够简化测试前的准备工作并提高测试效率。(二)技术方案为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种测试探头，其特征在于，包括底座、弹性伸缩元件以及探针，所述探针通过所述弹性伸缩元件设置在所述底座上。进一步地，所述底座的截面为L形，所述截面为L形的底座包括横向部和纵向部，所述弹性伸缩元件的一端连接至所述横向部，所述弹性伸缩元件的另一端连接至所述探针。进一步地，所述探针通过所述弹性伸缩元件的拉力与所述底座相接触。进一步地，包括多个所述弹性伸缩元件。进一步地，所述底座的截面为矩形，所述探针通过被拉伸的第一弹性伸缩元件连以及被压缩的第二弹性伸缩元件设置在所述底座上。进一步地，所述底座的截面为凹型，所述弹性伸缩元件设置于所述底座的凹陷处。进一步地，所述探针包括针杆部和针头部，所述针杆部与针头部之间的夹角为90度～160度。进一步地，所述探针的针尖处与所述底座的底面位于同一水平面。进一步地，还包括用于承载所述探针的探针托架。为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种测试设备，包括上述任一的测试探头。(三)有益效果本专利技术提供的测试探头，只需事先在液晶屏的测试区域涂覆银胶，而不再需要制作焊锡丝、固定焊锡丝等步骤，因此不但能够大大简化测试前的准备工作，还能保证连接的可靠性，从而大大缩短了测试时间，提高测试效率。附图说明图1是现有技术中的光学设备连接液晶屏的示意图；图2是本专利技术实施方式提供的第一种测试探头的示意图；图3是本专利技术实施方式提供的测试探头进行测试的示意图；图4为本专利技术实施方式提供的第二种测试探头的示意图；图5为本专利技术实施方式提供的第三种测试探头的示意图；图6为本专利技术实施方式提供的第四种测试探头的示意图；图7为本专利技术实施方式提供的第五种测试探头的示意图；图8为本专利技术实施方式提供的一种探针的示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例，对本专利技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本专利技术，但不用来限制本专利技术的范围。本专利技术实施方式提供了一种测试探头，该测试探头包括底座、弹性伸缩元件以及探针，所述探针通过所述弹性伸缩元件设置在所述底座上。其中，上述底座的截面形状可以为L形，如图2所示，该测试探头包括截面形状为L形的底座1、弹性伸缩元件3以及探针2，其中，该截面为L形的底座1包括横向部1a和纵向部1b，该弹性伸缩元件3的一端连接至横向部1a，弹性伸缩元件3的另一端连接至所述探针2。其中，上述的弹性伸缩元件3可以为弹簧或者其他由弹性材料制作的元件，探针2与光学设备的检测信号线200连接，如图3所示，在测试之前，可在液晶屏100的测试区域涂覆银胶300，而后移动测试探头使探针3的针尖移动至涂覆银胶的区域上方，探针的针尖在弹性伸缩元件3的作用下扎入涂覆的银胶中，从而完成光学设备与被测试的液晶屏的连接。优选地，如图2所示，在未进行测试的情况下，所述针头部的针尖处2c与所述底座1的底面1c位于同一水平面，从而有利于在测试时使探针的针尖顺利扎入液晶屏的测试区域中。此外，为了提高针尖在测试时扎入测试区域的程度，提高连接的可靠性，在未进行测试的情况下，探针2通过弹性伸缩元件3的拉力与底座1相接触，即弹性伸缩元件在未进行测试时处于被拉伸状态，而在进行测试时，弹性伸缩元件3进一步被拉伸，从而增加探针所受到的拉力，进而提高针尖扎入测试区域的程度。优选地，如图4所示，探针2可通过该多个弹性伸缩元件3设置在所述底座上1，通过设置多个弹性伸缩元件，能够大大提高探针测试时所受到的拉力，从而进一步地提高探针扎入测试区域的程度。本专利技术实施方式提供的测试探头，只需事先在液晶屏的测试区域涂覆银胶，而不再需要制作焊锡丝、固定焊锡丝等步骤，因此不但能够大大简化测试前的准备工作，还能保证连接的可靠性，从而大大缩短了测试时间，提高测试效率。此外，本专利技术实施方式中的底座的截面形状不但可以为如图2所示的L形，还可以为其他形状，参见图5，图5是本专利技术实施方式提供的另一种测试探头的示意图，该测试探头包括截面形状为矩形的底座1、第一弹性伸缩元件31、第二弹性伸缩元件32以及探针2，其中，探针2通过该被拉伸的第一弹性伸缩元件31以及该被压缩的第二弹性伸缩元件32设置在所述底座上，具体地，在未进行测试时，第一弹性伸缩元件31处于被拉伸状态，第二弹性伸缩元件32处于压缩状态，在进行测试时，探针的针尖被抬高，使得第一弹性伸缩元件31进一步被拉伸，进而使得探针在其拉力的作用下能够扎入测试区域中。参见图6，图6是本专利技术实施方式提供的又一种测试探头的示意图，该测试探头包括截面形状为凹形的底座1、弹性伸缩元件3以及探针2，其中，弹性伸缩元件3设置在该凹形底座1的凹陷处，当未进行测试时，弹性伸缩元件3处于被拉伸状态，探针2在弹性伸缩元件3的拉力以及底座1的支撑力下保持平衡，当进行测试时，探针的针尖被抬高，从而使得弹性伸缩元件进一步被拉伸，进而使得探针在其拉力的作用下能够扎入测试区域中。优选地，为了提高探针在测试时的稳固性，上述的测试探头还包括用于承载所述探针的探针托架，如图7所示，探针2设置在探针托架4上，例如，可使弹性伸缩元件3的一端连接至底座1，弹性伸缩元件3的另一端通过探针托架4连接探针2，通过该探针托架，不但能够提高在测试时的探针的稳固性，还能够便于更换探针。其中，对于上述所有实施方式中的探针，如图8所示，探针2包...

【技术保护点】
一种测试探头，其特征在于，包括底座、弹性伸缩元件以及探针，所述探针通过所述弹性伸缩元件设置在所述底座上。

【技术特征摘要】
1.一种测试探头，其特征在于，包括底座、弹性伸缩元件以及探
针，所述探针通过所述弹性伸缩元件设置在所述底座上。
2.根据权利要求1所述的测试探头，其特征在于，所述底座的截
面为L形，所述截面为L形的底座包括横向部和纵向部，所述弹性伸
缩元件的一端连接至所述横向部，所述弹性伸缩元件的另一端连接至
所述探针。
3.根据权利要求2所述的测试探头，其特征在于，所述探针通过
所述弹性伸缩元件的拉力与所述底座相接触。
4.根据权利要求3所述的测试探头，其特征在于，包括多个所述
弹性伸缩元件。
5.根据权利要求1所述的测试探头，其特征在于，所述底座的截
面为矩形，所述探针通过被拉伸的第一弹性伸缩...

【专利技术属性】
技术研发人员：王雪鹏，殷兆伟，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11