测试用电路板及终端设备制造技术

本公开提供一种测试用电路板及终端设备，能够简单、准确的测试FPC连接器在工作时的相关信号。所述测试用电路板包括：基板；第一连接器，设置于所述基板上，包括第一连接引脚；第二连接器，设置于所述基板上，包括第二连接引脚；测试点，设置于所述基板上，包括测试引脚，所述第一连接引脚、所述测试引脚、所述第二连接引脚依序串联。本公开提供的测试用电路板，能够简单、准确的测试FPC连接器在工作时的相关信号，有助于电路板不良产品的分析，便于在生产中批量检验，提高产品质量。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及通信
，尤其涉及测试用电路板及终端设备。
技术介绍
FPC(Flexible Printed Circuit board，挠性印刷电路板)与PCB(Printed Circuit Board，印刷电路板)是电子元器件电气连接的载体。几乎每种电子设备，小到电子手表、计算器，大到计算机，通讯电子设备，军用武器系统，只要有集成电路等电子元器件，为了它们之间的电气互连，都要使用FPC和PCB。FPC与PCB通过FPC连接器相连，有时需要通过测量FPC连接器在电路工作时的相关信号，来检查电路的工作情况，可是目前的FPC连接器大多没有可直接测量的办法。目前，一种测量方法是在PCB上增加测试点，测试表笔通过与电路板上的测试点相连进行测试。但这种方法的缺陷是，在增加测试点的同时，也会增加PCB里面走线的数量，因此会增加PCB布线的难度，而且由于在PCB上增加了测试点，因此会增加PCB的面积，增加成本。另一种测量方法是制作细小的测试探针直接与FPC连接器相连。但这种方法的缺陷是，由于FPC连接器的各个引脚很密集，因此测试探针要求做的很细，制作测试探针的成本很高，而且测试探针与FPC连接器相连时不易对准，影响测试精度。
技术实现思路
为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种测试用电路板及终端设备，能够简单、准确的测试FPC连接器在工作时的相关信号。根据本公开实施例的第一方面，提供一种测试用电路板，包括：基板；第一连接器，设置于所述基板上，包括第一连接引脚；第二连接器，设置于所述基板上，包括第二连接引脚；测试点，设置于所述基板上，包括测试引脚，所述第一连接引脚、所述测试引脚、所述第二连接引脚依序串联。在另一实施例中，所述第一连接引脚的数量为至少两个，所述第二连接引脚的数量为至少两个，所述测试引脚的数量为至少两个；所述第一连接引脚、所述第二连接引脚、所述测试引脚具有一一对应关系，其中，一一对应的所述第一连接引脚、所述测试引脚、所述第二连接引脚依序串联。在另一实施例中，所述第一连接引脚、所述测试引脚、所述第二连接引脚通过内置于所述基板内部的连接线依序串联。在另一实施例中，所述第一连接引脚的数量、所述第二连接引脚的数量、所述测试引脚的数量相同。在另一实施例中，所述第一连接器、所述第二连接器分别为同一类型接口的公头、母头。在另一实施例中，所述第一连接器和所述第二连接器为不同类型的连接器。在另一实施例中，所述第一连接器和/或第二连接器为挠性印刷电路板FPC连接器或者印刷电路板PCB板连接器。根据本公开实施例的第二方面，提供一种终端设备，包括：前述的测试用电路板。本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：本公开实施例提供一种测试用电路板，能够简单、准确的测试待测试器件如FPC连接器在工作时的相关信号，有助于电路板不良产品的分析，便于在生产中批量检验，提高产品质量。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。在附图中：图1是根据一示例性实施例示出的测试用电路板的示意图。图2是根据一示例性实施例示出的测试用电路板的电路连接示意图。图3是根据一示例性实施例示出的另一种测试用电路板的示意图。图4是根据一示例性实施例示出的一种终端设备的框图。具体实施方式这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。本公开实施例提供一种测试用电路板，能够简单、准确测试FPC连接器在工作时的相关信号。在一个实施例中，如图1、2所示，一种测试用电路板，包括：基板101，设置于基板101上的第一连接器102、第二连接器103和测试点104，其中：第一连接器102包括第一连接引脚105；第二连接器103包括第二连接引脚106；测试点104包括测试引脚107；第一连接引脚105、测试引脚107、第二连接引脚106依序串联连接。如图2所示，第一连接引脚105为A1、A2、A3、A4、A5、A6等；第二连接引脚106为B1、B2、B3、B4、B5、B6等；测试引脚107为T1、T2、T3、T4、T5、T6等。A1、T1和B1依次串联连接，A2、T2和B2依次串联连接，A3、T3和B3依次串联连接，A4、T4和B4依次串联连接，A5、T5和B5依次串联连接，A6、T6和B6依次串联连接。测试时，第一连接器102、 第二连接器103可分别与主板连接器和FPC连接器相连，然后通过测试测试点104来测试主板连接器和FPC连接器的相关信号。本公开实施例的测试用电路板，通过第一连接器和第二连接器分别与待测试器件相连，测试时只需测量与第一连接器和第二连接器串联连接的测试点，即可测得待测试器件在工作时的相关信号。当将该测试用电路板应用于测试FPC连接器在工作时的相关信号时，与需要在PCB上增加测试点的相关技术相比，上述测试用电路板，不需增加PCB里面走线的数量以及PCB布线的难度，简单易行，成本较低；与需要制作测试探针来测试FPC连接器的相关技术相比，上述测试用电路板在测试时直接测试测试点，不需制作细小的测试探针，同时解决了测试探针与FPC连接器相连时不易对准的问题，提高了测试精度。因此，本公开实施例的测试用电路板，能够简单、准确的测试待测试器件如FPC连接器在工作时的相关信号，有助于电路板不良产品的分析，便于在生产中批量检验，提高产品质量。第一连接器102、第二连接器103可以都连接待测试器件，也可以第一连接器102、第二连接器103中的一个连接待测试器件，无论第一连接器102、第二连接器103都连接待测试器件、还是只有其中之一连接待测试器件，都可直接通过测试测试点104来测试待测试器件的相关信号。在一个实施例中，第一连接引脚的数量可为至少两个，第二连接引脚的数量可为至少两个，测试引脚的数量可为至少两个。第一连接引脚、第二连接引脚、测试引脚具有一一对应关系，其中，一一对应的第一连接引脚、第二连接引脚、测试引脚串联。在一个实施例中，由于第一连接引脚、第二连接引脚、测试引脚是一一对应的，因此，第一连接引脚的数量、第二连接引脚的数量、测试引脚的数量可以相同，以使测试用电路板的结构合理。在一个实施例中，第一连接引脚、第二连接引脚、测试引脚可通过内置于基板内部的连接线串联。由于第一连接引脚、第二连接引脚、测试引脚数 量较多，在将它们串联连接时，连接线也会比较多，将连接线置于基板内部，可以使整个测试用电路板十分整洁，简单明了。在一个实施例中，第一连接器、第二连接器可分别为同一类型接口的公头、母头。第一连接器为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试用电路板，其特征在于，包括：基板；第一连接器，设置于所述基板上，包括第一连接引脚；第二连接器，设置于所述基板上，包括第二连接引脚；测试点，设置于所述基板上，包括测试引脚，所述第一连接引脚、所述测试引脚、所述第二连接引脚依序串联。

【技术特征摘要】
1.一种测试用电路板，其特征在于，包括：
基板；
第一连接器，设置于所述基板上，包括第一连接引脚；
第二连接器，设置于所述基板上，包括第二连接引脚；
测试点，设置于所述基板上，包括测试引脚，所述第一连接引脚、所述
测试引脚、所述第二连接引脚依序串联。
2.如权利要求1所述的电路板，其特征在于，
所述第一连接引脚的数量为至少两个，所述第二连接引脚的数量为至少
两个，所述测试引脚的数量为至少两个；
所述第一连接引脚、所述第二连接引脚、所述测试引脚具有一一对应关
系，其中，一一对应的所述第一连接引脚、所述测试引脚、所述第二连接引
脚依序串联。
3.如权利要求1或2所述的电路板，其特征在于，
所述第一连接引脚、所述测试引脚...

【专利技术属性】
技术研发人员：王亮，张健，黄彪，
申请(专利权)人：小米科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：北京;11