拔叉两孔中心距测量装置制造方法及图纸

技术编号:11130338 阅读:80 留言:0更新日期:2015-03-11 23:22
本发明专利技术涉及测量装置技术领域,尤其涉及拔叉两孔中心距测量装置。通过“L”型量座,所述“L”型量座中央设有心轴;所述“L”型量座顶端连接表架,该表架右端连接百分表;实现该测量装置简化测量过程,并且提高测量精度。

【技术实现步骤摘要】
拔叉两孔中心距测量装置
本专利技术涉及测量装置
,尤其涉及拔叉两孔中心距测量装置。
技术介绍
摩托车拔叉上有一圆孔和一缺圆孔,参见图5所示,两孔的中心距为H ;当需要检测H时,由于没有支撑点,用一般的测量方法或测量工具难以测量两孔的中心距,增加了测量该尺寸的难度;并且容易产生测量误差,降低了测量后的尺寸精度。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种简化测量过程,并且提高测量精度的拔叉两孔中心距测量装置。 实现本专利技术的技术方案如下: 拔叉两孔中心距测量装置,包括“L”型量座,所述“L”型量座中央设有心轴;所述“L”型量座顶端连接表架,该表架右端连接百分表。 所述测量装置还包括一个用于校对百分表的基准块。用于校对百分表,用于百分表的调零。 所述测量装置还包括一个用于连接百分表与拔叉的测量轴。用于连接拔叉与百分表实现对拔叉的检测。 所述心轴与“L”型量座连接处的右侧设有限位台阶。由于限位台阶为圆形且直径大于“L”型量座上用于安装心轴的安装孔的直径,防止心轴向左移动。 本专利技术的有益效果是:通过“L”型量座顶端的表架,以及表架右端的百分表,对被测零件进行检测时,由于已有心轴作为支撑轴,通过用百分表进行相对测量既能测出尺寸;而且该测量过程简单,利用相对测量检测精度高。 【附图说明】 通过下面结合附图的详细描述,本专利技术前述的和其他的目的、特征和优点将变得显而易见。 其中:图1为本专利技术第一种实施方式测量前结构示意图; 图2为本专利技术第一种实施方式测量前正面示意图; 图3为本专利技术第一种实施方式测量时结构示意图; 图4为本专利技术第二种实施方式结构示意图; 图5为本专利技术拔叉结构示意图; 附图中,I为“ L ”形量座,2为心轴,3为表架,4为百分表,5为基准块,6为测量轴,7为限位凸台,8为拔叉,9为铁块。 【具体实施方式】 参见图1-图2所示,拔叉两孔中心距测量装置,包括“L”型量座1,所述“L”型量座I中央设有心轴2 ;所述“L”型量座I顶端通过螺钉连接表架3,该表架3右端通过螺钉连接百分表4。基准块5用于校对百分表4。测量轴6用于连接拔叉8与百分表4,实现间接测量拔叉的目的。 测量拔叉前,先将测量盘(所述测量盘是专门用来定百分表零位的,测量盘外径尺寸是工件圆孔和缺圆孔两孔中心距的两倍与测量轴半径两倍之和)装到心轴上,转动测量盘,将百分表指针指到零位后把测量盘取下,再用游标卡尺测出缺圆孔的实际数值。 测量时,将测量轴(测量轴为可插入拔叉圆孔内的圆柱轴)装入工件圆孔内,再把拔叉装到心轴上。判断基准,例I以心轴为基准,转动拔叉,此百分表触头与测量轴接触如果指针零位,即是两孔中心距的中差。例2百分表指针从零位按顺时针或逆时针转动12.5小格,两孔中心距均在公差±0.0125mm内。 由于心轴2在“L”型量座I内会左右移动,导致降低测量精度;优选的,所述心轴的右侧与“L”型量座连接处设有限位台阶7。由于限位台阶7为圆形且直径大于“L”型量座上用于安装心轴的安装孔的直径,防止心轴向左移动。 为了使心轴更牢固的与“L”型量座连接,优选的,所述心轴与“L”型量座的连接处套设有开口胀套。通过开口胀套防止心轴在“L”型量座内转动。 测量时,为了防止“L”型量座在工作台上晃动,本专利技术第二种实施方式,参加图2所示,所示“L”型量座底部内嵌有铁块9,增加“L”型量座的重心,防止其在测量时产生晃动,而且铁块采用内嵌式,不占用空间。 本专利技术并不局限于所述的实施例,本领域的技术人员在不脱离本专利技术的精神即公开范围内,仍可作一些修正或改变,故本专利技术的权利保护范围以权利要求书限定的范围为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
拔叉两孔中心距测量装置,其特征在于,包括“L”型量座,所述“L”型量座中央设有心轴;所述“L”型量座顶端连接表架,该表架右端连接百分表。

【技术特征摘要】
1.拔叉两孔中心距测量装置,其特征在于,包括“L”型量座,所述“L”型量座中央设有心轴;所述“L”型量座顶端连接表架,该表架右端连接百分表。2.根据权利要求1所述的拔叉两孔中心距测量装置,其特征在于,所述测量装置还包括一个用于校对百...

【专利技术属性】
技术研发人员:蒋定专
申请(专利权)人:常州市新西华亚工具有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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