【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及LED筛选分级方法。具体涉及一种根据大功率LED芯片通电过程中的结温温升进行LED的快速批量分级筛选方法。
技术介绍
近年来随着制造技术的迅速发展,LED在照明领域及指示领域已经得到越来越广泛的应用,而LED工作结温也极大的影响了其光效及工作寿命。由于加工工艺的问题,相同批次生产的大功率LED芯片在相同的环境温度下其结温温升会有不同的表现,因此,根据LED结温温升对LED进行筛选分级是十分必要的。目前检测LED结温的方法主要是将LED表贴在铝基板上,在散热条件下测试其正常工作结温。常用的方法包括前向电压法,特征波长偏移法,蓝白比法等。但是,以上LED结温测试方法均需要对每颗LED进行标定和测试,消耗时间过长,更重要的是,LED一旦焊接在铝基板后,即被固化,以后的应用需要将LED与铝基板作为整体进行应用,否则如果再次用高温取下LED,这颗LED相当于被二次应用,会带来一定的风险。因此,如果能在LED芯片制造完成后,或LED焊接到铝基板前,对每颗LED进行快速结温温升的检测,这样即可以对LED进行筛选分级,具有十分重要的意义。
技术实现思路
本专利技术的目的在于解决目前没有对工业级大功率LED进行快速批量筛选测试方法的问题,提出一种大功率LED的快速分级筛选方法。本专利技术的工作原理在于LED的发光光谱中的特征波长能体现其内部结温温升变化,且特征波长随结温温升的变化规律具有较好的一致性。因此 ...
【技术保护点】
一种大功率LED快速批量分级筛选方法,其特征在于包括以下步骤:步骤1:随机抽取出厂同一批次中10%的LED进行测试,将随机抽取的LED焊接在铝基板上,置于电热鼓风干燥箱内;改变环境温度以5℃为间隔由30℃逐渐上升到90℃,待每个环境温度点稳定后,以窄脉冲宽度、低占空比脉冲电流驱动LED发光,采集此时LED的发光光谱,得到代表该批次器件在不同温升ΔT下的特征波长偏移Δλ的变化点;步骤2:发光光谱进行特征波长高斯曲线拟合,拟合出能代表这批关系点的Δλ与ΔT的关系曲线:Δλ=f(ΔT);步骤3:对本批次剩余90%LED裸芯片直接施加与步骤1中相同电流幅值的恒定电流,该恒流要求电流上升时间很短,待LED驱动电流达到稳定320μs后,触发光谱仪以30ms的时间间隔采集LED的发光光谱,在6秒钟内,温升ΔT随特征波长偏移Δλ达到稳定,共采集200次;步骤4:对步骤3中得到的LED一系列发光光谱进行特征波长曲线拟合,得出在6秒钟的时间内LED的特征波长偏移量Δλ1;步骤5:重复步骤3、4得到所需分级筛选的所有LED裸芯片的特征波长偏移量。按照步骤3得出的拟合曲线,可以标定出所有LED裸芯片在6秒钟内 ...
【技术特征摘要】
1.一种大功率LED快速批量分级筛选方法,其特征在于包括以下步骤:
步骤1:随机抽取出厂同一批次中10%的LED进行测试,将随机抽取的LED
焊接在铝基板上,置于电热鼓风干燥箱内;改变环境温度以5℃为间隔由30℃
逐渐上升到90℃,待每个环境温度点稳定后,以窄脉冲宽度、低占空比脉冲电
流驱动LED发光,采集此时LED的发光光谱,得到代表该批次器件在不同温升
ΔT下的特征波长偏移Δλ的变化点;
步骤2:发光光谱进行特征波长高斯曲线拟合,拟合出能代表这批关系点
的Δλ与ΔT的关系曲线:Δλ=f(ΔT);
步骤3:对本批次剩余90%LED裸芯片直接施加与步骤1中相同电流幅值的
恒定电流,该恒流要求电流上升时间...
【专利技术属性】
技术研发人员:张涛,张晶晶,刘石神,袁士东,崔钊,陈要玲,吕慧峰,
申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所,常州光电技术研究所,
类型:发明
国别省市:上海;31
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