用于薄膜厚度检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供用于薄膜厚度检测装置，用于检测贴附于手机壳的待测薄膜，所述薄膜检测步骤分为：准备工作；读取待测物件镀膜的厚度值；将待测物件镀膜的实际厚度与计划厚度值比较；记录偏差值的厚度值；根据偏差的厚度值，采取调整措施直至合格；结束工作。本发明专利技术的有益之处在于：装置简单易操作，将装置置于待测手机外壳薄膜上，更精准地检测待测薄膜，并可应用于自动化检测待测薄膜，减少检测的人力耗费，提高检测效率。

【技术实现步骤摘要】
用于薄膜厚度检测装置
[0001 ] 本专利技术属于检测装置
，尤其是涉及用于薄膜厚度检测装置。
技术介绍
随着个人潮流，时尚，审美观点的提升，人们对手机产品的外观要求也达到了极至，相对而言使得手机外壳制造业的工艺技术也极富挑战性。随着人类社会生产生活和科学实践活动的不断深入，薄膜材料的应用越来越广，已成为电力、电子、信息、军工、核、航空、航天等产业不可缺少的关键材料之一。对于生产出来的薄膜，在其诸多性能要求中，薄膜的厚度、均匀度是最最关键的参数，直接影响生产成本和应用效果，也会影响其它很多问题，因此，监测、控制薄膜的厚度、均匀度已成为薄膜生产中重要的、不可或缺的环节，相应地，这也为检测技术的科研研究提供了广阔的开发空间。随着技术的发展，现有技术手段还处于小范围、单功能状态，急需一种的新技术满足需求。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足之处，本专利技术提供了用于薄膜厚度检测装置。 本专利技术的技术方案是:用于薄膜厚度检测装置，用于检测贴附于手机壳的待测薄膜，所述薄膜检测步骤分为:准备工作；读取待测物件镀膜的厚度值；将待测物件镀膜的实际厚度与计划厚度值比较；记录偏差值的厚度值；根据偏差的厚度值，采取调整措施直至合格；结束工作。 进一步，将待测物件镀膜的实际厚度与计划厚度值比较步骤结束后装置进行判断，当有偏差时，继续进行记录偏差值的厚度值；当没有偏差时，直接结束工作。 本专利技术具有的优点和积极效果是:装置简单易操作，将装置置于待测手机外壳薄膜上，更精准地检测待测薄膜，并可应用于自动化检测待测薄膜，减少检测的人力耗费，提高检测效率。 【附图说明】 图1是本专利技术结构示意图. 图中: 1、准备工作 2、读取待测物件镀膜的厚度值 3、将待测物件镀膜的实际厚度与计划厚度值比较 4、记录偏差值的厚度值 5、根据偏差的厚度值，采取调整措施直至合格 6、结束工作 【具体实施方式】 下面结合附图对本专利技术做详细说明。 如图所示本专利技术用于薄膜厚度检测装置，用于检测贴附于手机壳的待测薄膜，所述薄膜检测步骤分为:准备工作I ;读取待测物件镀膜的厚度值2 ;将待测物件镀膜的实际厚度与计划厚度值比较3 ;记录偏差值的厚度值4 ;根据偏差的厚度值，采取调整措施直至合格5 ;结束工作6 ;将待测物件镀膜的实际厚度与计划厚度值比较3步骤结束后装置进行判断，当有偏差时，继续进行记录偏差值的厚度值4 ;当没有偏差时，直接结束工作6。 本专利技术的工作过程:生产线开始工作，将薄膜检测装置对准手机壳薄膜开始工作1，检测装置读取待测物件镀膜的厚度值2，将读取的厚度值也就是手机壳薄膜的实际厚度与计划的厚度值进行比较3，看有无误差，如果有偏差，继续进行记录偏差值的厚度值4，根据偏差的厚度值，采取调整措施直至合格5 ;采取的措施有退回原工序或按照不合格处理，然后结束工作；当没有偏差时，直接结束工作6。 以上对本专利技术的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本专利技术的较佳实施例，不能被认为用于限定本专利技术的实施范围。凡依本专利技术申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本专利技术的专利涵盖范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于薄膜厚度检测装置，用于检测贴附于手机壳的待测薄膜，其特征在于所述薄膜检测步骤分为：准备工作(1)；读取待测物件镀膜的厚度值(2)；将待测物件镀膜的实际厚度与计划厚度值比较(3)；记录偏差值的厚度值(4)；根据偏差的厚度值，采取调整措施直至合格(5)；结束工作(6)。

【技术特征摘要】
1.用于薄膜厚度检测装置，用于检测贴附于手机壳的待测薄膜，其特征在于所述薄膜检测步骤分为:准备工作(I);读取待测物件镀膜的厚度值(2);将待测物件镀膜的实际厚度与计划厚度值比较(3);记录偏差值的厚度值(4);根据偏差的厚度值，采取调整措...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵伯全，刘籍文，
申请(专利权)人：昌进特天津电子有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12