用于测量导体在绝缘包皮中的同心度的方法，由导体及其绝缘包皮构成的缆线沿着输送方向运动，该方法包括以下步骤：在感应测量平面中测定导体的位置；在沿输送方向处于感应测量平面上游的第一光学测量平面中测定缆线的位置在沿输送方向处于感应测量平面下游的第二光学测量平面中测定缆线的位置；在第一和第二光学测量平面中测定的缆线位置彼此这样关联：得出缆线在感应测量平面中的位置；由缆线在感应测量平面中的位置以及由导体的位置来确定导体在绝缘包皮中的同心度，其中，这样进行空间分辨的光学测量：识别出缆线相对于输送方向的倾斜位置和/或弯曲，在确定导体在绝缘包皮中的同心度时考虑倾斜位置和/或弯曲。本发明专利技术还涉及一种相应的设备。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】用于测量导体在绝缘包皮中的同心度的方法，由导体及其绝缘包皮构成的缆线沿着输送方向运动，该方法包括以下步骤：在感应测量平面中测定导体的位置；在沿输送方向处于感应测量平面上游的第一光学测量平面中测定缆线的位置在沿输送方向处于感应测量平面下游的第二光学测量平面中测定缆线的位置；在第一和第二光学测量平面中测定的缆线位置彼此这样关联：得出缆线在感应测量平面中的位置；由缆线在感应测量平面中的位置以及由导体的位置来确定导体在绝缘包皮中的同心度，其中，这样进行空间分辨的光学测量：识别出缆线相对于输送方向的倾斜位置和/或弯曲，在确定导体在绝缘包皮中的同心度时考虑倾斜位置和/或弯曲。本专利技术还涉及一种相应的设备。【专利说明】用于测量导体在绝缘包皮中的同心度的方法和设备
本专利技术涉及一种用于测量导体在绝缘包皮中的同心度的方法，其中，由导体及其绝缘包皮构成的缆线沿着一输送方向运动。此外，本专利技术涉及一种相应的设备。
技术介绍
已知这样的测量方法，其中，在一共同的测量平面中借助感应测量装置测量导体的位置并且借助光学测量装置测量包围导体的绝缘包皮的位置。根据两个测量结果来测定导体在绝缘包皮中的同心度。这样的设计构造方案的问题是，所述测量装置可能由于其设置在同一测量平面中而相互妨碍。如果(如经常需要的)使用两个光学测量装置，这种情况变得更加严重。 从DE 25 177 09 C3中已知本 申请人:的所谓的WANDEXE-偏心度测量仪，其具有两个在测量头中彼此错开90度地设置的光学直径检测器以及设置在与光学直径检测器相同的测量平面中的感应测量电路。从EP I 495 284 BI中已知一种用于测量缆线的同心度和直径的无接触系统和方法。在此，在一光学测量平面中借助光学测量装置来测量缆线的位置。在沿缆线的输送方向处于所述光学测量平面上游的第一感应测量平面中借助感应测量装置来测量导体的位置。在沿缆线的输送方向处于所述光学测量平面下游的第二感应测量平面中借助第二感应测量装置同样来测量导体的位置。将感应测量的导体位置这样彼此联系:得出该导体在光学测量平面中的位置。此外，从这个测定的导体位置和测量的缆线在光学测量平面中的位置来确定导体在绝缘包皮中的同心度。 在已知的系统和方法中，缆线的弯曲引起测量误差，常常由于导体的下垂而引起。因此，在这样弯曲时，从感应测量推导出来的导体在光学测量平面中的位置与导体在光学测量平面的实际位置不一致。如果缆线在光学测量平面的范围内具有它的最大弯曲，则所述感应测量装置测定导体的相同位置。但这些位置由于缆线弯曲与导体在光学测量平面中的位置不相符。如果缆线的弯曲不是在光学测量平面的范围内具有它的最大值，而是沿输送方向与光学测量平面错开地具有它的最大值，也引起这种误差。在这种情况下通过所述感应测量装置来测定导体的不同位置。然而，在这种情况下由于(非对称的)弯曲，推导出来的导体在该光学测量平面中的位置也与导体的实际位置不一致。由于确定的导体在光学测量平面中的位置有误差，测定的同心度也有错误差。 所述测量误差取决于缆线的曲率半径。例如，在承载缆线的支撑滚子之间的间距为2米时实际上出现10米的曲率半径。由此，引起20微米范围内的测量误差。通过较大数量的支撑滚子来平衡缆线弯曲实际上是不可能的。于是相反地得出缆线最后波形的走向并且进而得出导致不可计算的误差的不确定的测量状态。缆线的弯曲也可以不通过任意提高施加到缆线上的拉力来避免。因此，缆线和尤其它的导体在完全排除弯曲之前通过拉伸已经达到屈服极限。
技术实现思路
从所解释的现有技术出发，本专利技术的任务在于，提供一种开头提及类型的方法和设备，在缆线弯曲时也能够借助它们可靠地确定导体在绝缘包皮中的同心度。 本专利技术通过独立权利要求1和12的内容来解决该任务。有利的设计构造方案在从属权利要求、说明书和附图中找到。 本专利技术一方面通过用于测量导体在绝缘包皮中的同心度的方法来解决所述任务，其中，由导体及其绝缘包皮构成的缆线沿着一输送方向运动，所述方法包括以下步骤: 在一感应测量平面中借助感应测量装置测定所述导体的位置， 在沿所述缆线的输送方向处于所述感应测量平面上游的第一光学测量平面中，借助至少一个第一光学测量装置来测定所述缆线的位置， 在沿所述缆线的输送方向处于所述感应测量平面下游的第二光学测量平面中，借助至少一个第二光学测量装置来测定所述缆线的位置， 在所述第一和第二光学测量平面中测定的所述缆线的位置彼此这样关联:得出所述缆线在所述感应测量平面中的位置，和 由这个得出的所述缆线在所述感应测量平面中的位置以及由在所述感应测量平面中测定的所述导体的位置来确定所述导体在所述绝缘包皮中的同心度， 其中，在所述第一光学测量平面中和/或在所述第二光学测量平面中这样进行空间分辨的光学测量:识别出所述缆线相对于所述输送方向、尤其在所述第一光学测量平面中和/或在所述第二光学测量平面中的倾斜位置和/或弯曲，其中，在确定所述导体在所述绝缘包皮中的同心度时考虑这样的倾斜位置和/或弯曲。 另一方面，本专利技术通过一种用于测量导体在绝缘包皮中的同心度的设备来解决所述任务，其中，由具有导体及其绝缘包皮构成的缆线沿着一输送方向运动，所述设备包括: 设置在一感应测量平面中的感应测量装置，用于测定所述导体在所述感应测量平面中的位置， 至少一个设置在沿所述缆线的输送方向处于所述感应测量平面上游的第一光学测量平面中的第一光学测量装置，用于测定所述缆线在所述第一光学测量平面中的位置， 至少一个设置在沿所述缆线的输送方向处于所述感应测量平面下游的第二光学测量平面中的第二光学测量装置，用于测定所述缆线在所述第二光学测量平面中的位置， 分析处理装置，其被构造用于将在所述第一和第二光学测量平面中测定的所述缆线的位置这样彼此关联:得出所述缆线在所述感应测量平面中的位置，并且由这个得出的所述缆线在所述感应测量平面中的位置以由在所述感应测量平面中测定的所述导体的位置来确定所述导体在所述绝缘包皮中的同心度， 其中，所述至少一个第一光学测量装置和/或所述至少一个第二光学测量装置被构造用于在所述第一光学测量平面中和/或在所述第二光学测量平面中这样实施空间分辨的光学测量:识别出所述缆线相对于所述输送方向、尤其在所述第一光学测量平面中和/或在所述第二光学测量平面中的倾斜位置和/或弯曲，并且其中，所述分析处理装置进一步被构造用于在确定所述导体在所述绝缘包皮中的同心度时考虑这样倾斜位置和/或弯曲。 电导体以已知的方法由绝缘包皮包围，该绝缘包皮例如以挤出方法施加。导体及其绝缘包皮构成缆线，其沿着一输送方向运动。在此，缆线的输送原则上沿着直线输送方向进行。然而如开头解释的，实际上不可避免地产生缆线的运动偏离直线输送方向，尤其产生缆线的弯曲。这不仅可以是缆线的下垂，而且可以是缆线的向上拱起的弯曲。 为了仍然能够可靠地确定导体在绝缘包皮中的同心度，根据本专利技术相对于上面解释的现有技术中的测量原理一方面进行反转。因此，根据本专利技术，在感应测量平面的上游和下游分别实施对缆线位置的光学测量并且由此测定缆线在该感应测量平面中的位置。由缆线的这个位置和在感应测量平面中感应测量的导体位置来确定同心度。本文档来自技高网...
【技术保护点】
用于测量导体在绝缘包皮中的同心度的方法，其中，由导体及其绝缘包皮构成的缆线(28)沿着一输送方向(14)运动，所述方法包括以下步骤：在一感应测量平面中借助感应测量装置来测定所述导体的位置，在沿所述缆线(28)的输送方向(14)处于所述感应测量平面上游的第一光学测量平面中，借助至少一个第一光学测量装置(16)来测定所述缆线(28)的位置，在沿所述缆线(28)的输送方向(14)处于所述感应测量平面下游的第二光学测量平面中，借助至少一个第二光学测量装置(18)来测定所述缆线(28)的位置，在所述第一和第二光学测量平面中测定的所述缆线(28)的位置彼此这样关联：得出所述缆线(28)在所述感应测量平面中的位置，和由这个得出的所述缆线(28)在所述感应测量平面中的位置以及由在所述感应测量平面中测定的所述导体的位置来确定所述导体在所述绝缘包皮中的同心度，其中，在所述第一光学测量平面中和/或在所述第二光学测量平面中这样进行空间分辨的光学测量：识别出所述缆线(28)相对于所述输送方向(14)、尤其在所述第一光学测量平面中和/或在所述第二光学测量平面中的倾斜位置和/或弯曲，其中，在确定所述导体在所述绝缘包皮中的同心度时考虑这样的倾斜位置和/或弯曲。...
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：H·斯考拉，K·布雷默，
申请(专利权)人：斯考拉股份公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE
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