用于确定产品的速度和/或长度的设备制造技术

本发明专利技术涉及一种用于确定沿输送方向运动的产品、尤其是股线的速度和/或长度的设备，所述设备包括用于照射产品的表面的激光器以及包括用于探测被所述产品的表面返回散射的激光辐射的探测器装置，所述探测器装置包括第一传感器、尤其是光电二极管连同设置在第一传感器之前的第一透射光栅以及由图像传感器形成的第二传感器，此外设有第一分束器，所述第一分束器将由产品返回散射的激光辐射划分为一方面引导至第一传感器并且另一方面引导至图像传感器的激光辐射。分析装置构成用于，根据在产品运动时通过第一传感器探测的强度调制和/或根据在产品运动时通过图像传感器探测的、在图像传感器上形成的散斑图案的移动来确定产品的速度和/或长度。定产品的速度和/或长度。定产品的速度和/或长度。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于确定产品的速度和/或长度的设备


[0001]本专利技术涉及一种用于确定沿输送方向运动的产品、优选股线的速度和/或长度的设备，所述设备包括用于照射产品的表面的激光器以及包括用于探测被所述产品的表面返回散射的激光辐射的探测器装置。

技术介绍

[0002]比方说，例如在挤出装置中制造管时，需要对所制造的股线进行长度测量。对产品长度的精确检测提供对于附加的价值创造的潜力。由现有技术已知无接触的光学的测量方法。这些测量方法提供如下优点，即所述测量方法非侵入地和因此基本上无磨损地工作。通过避免滑动也实现更高的测量精度，并且能够测量宽的产品系列。对于最常见的光学的长度测量方法共同点在于，通过对产品的连续的速度测量来间接地测量长度。
[0003]已知光学的空间滤波器测量设备，其中通过传感器探测经由照射产品表面产生的、经由透射光栅的光学图案。通过传感器探测产品的运动和随之而来的光学图案的运动，在最简单的情况下作为简单的强度调制。该测量方法的特征虽然在于结构上的和测量技术上的大的简易性。然而该测量方法在实践中没有被普遍接受，尤其是因为该测量方法在速度缓本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.用于确定沿输送方向(12)运动的产品(10)、优选股线(10)的速度和/或长度的设备，所述设备包括用于照射产品(10)的表面的激光器(14)以及包括用于探测被所述产品(10)的表面返回散射的激光辐射的探测器装置，其特征在于，所述探测器装置包括第一传感器(22)连同设置在所述第一传感器(22)之前的第一透射光栅(18)以及由图像传感器(24)形成的第二传感器(24)，此外设有第一分束器(16)，所述第一分束器将由产品(10)返回散射的激光辐射划分为一方面引导至第一传感器(22)并且另一方面引导至图像传感器(24)的激光辐射，并且设有分析装置(30)，所述分析装置构成用于根据在产品(10)运动时通过第一传感器(22)探测的强度调制和/或根据在产品(10)运动时通过图像传感器(24)探测的、在图像传感器(24)上形成的散斑图案的移动来确定产品(10)的速度和/或长度。2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，在第一透射光栅(18)与第一传感器(22)之间设置有将引导至第一传感器(22)的激光辐射聚焦到第一传感器(22)上的第一透镜(20)。3.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其特征在于，所述第一传感器(22)是光电二极管。4.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其特征在于，在第一分束器(16)与图像传感器(24)之间设置有将引导至图像传感器(24)的激光辐射进行聚焦的第二透镜(26、28)。5.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其特征在于，所述图像传感器(24)是CCD传感器或CMOS传感器。6.根据权利要求1至5中任一项所述的设备，其特征在于，所述探测器装置还包括第三传感器(34)，并且在第一分束器(16)与图像传感器(24)之间设置有第二分束器(32)，所述第二分束器将来自第一分束器(16)的激光辐射划分为一方面引导至图像传感器(24)并且另一方面引导至第三传感器(34)的激光辐射。7.根据权利要求1至5中任...

【专利技术属性】
技术研发人员：A，
申请(专利权)人：斯考拉股份公司，
类型：发明
国别省市：