【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于控制用于板形或线形的物体的生产设备的方法和装置
[0001]本专利技术涉及一种用于控制用于板形或线形的物体的生产设备的方法，在所述方法中：沿输送方向输送所述物体通过测量区域；在测量区域中借助于千兆赫兹或太赫兹频率范围内的测量辐射照射所述物体，所述测量辐射至少部分地进入所述物体中；并且探测由所述物体反射的测量辐射并根据探测到的测量辐射确定所述物体的折射率和/或通过物体对测量辐射的吸收率。
[0002]本专利技术还涉及一种用于控制用于板形或线形的物体的生产设备的装置，所述装置包括：用于沿输送方向输送所述物体通过装置的测量区域的输送装置；用于在测量区域中用千兆赫兹或太赫兹频率范围内的测量辐射来照射所述物体的发射装置，所述测量辐射至少部分地进入所述物体中；用于探测由所述物体反射的测量辐射的探测装置；评估装置，所述评估装置构造成用于，根据通过探测装置探测到的测量辐射来确定物体的折射率和/或通过物体对测量辐射的吸收率。
技术介绍
[0003]例如由DE 10 2016 103 298 A1中已知一种太赫兹测量装置和一种太赫兹...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.用于控制用于板形或线形的物体(12)的生产设备(32)的方法，在所述方法中：沿输送方向输送所述物体(12)通过测量区域；在所述测量区域中借助于千兆赫兹或太赫兹频率范围内的测量辐射照射所述物体(12)，所述测量辐射至少部分地进入所述物体(12)中；并且探测由所述物体(12)反射的测量辐射并根据探测到的测量辐射确定所述物体(12)的折射率(n)和/或通过所述物体(12)对测量辐射的吸收率，其特征在于，基于所述折射率确定和/或所述吸收率确定来控制所述生产设备(32)的至少一个生产参数，在输送所述物体(12)通过测量区域期间在多个时刻确定所述折射率(n)和/或吸收率并且基于所述折射率(n)和/或吸收率的随时间的变化来控制所述至少一个生产参数，和/或将测量辐射发射到所述物体(12)的不同位置处，在物体(12)的所述不同位置处确定折射率(n)和/或吸收率并基于所述折射率(n)和/或吸收率随空间的变化来控制所述至少一个生产参数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，由在所述物体设置在测量区域时由发射装置发出的测量辐射通过测量区域的传播时间与在测量区域没有设置物体时测量辐射通过测量区域的传播时间的比较来确定所述折射率。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述物体(12)是管状的物体(12)，并且为了确定折射率，此外还考虑由发射装置发出的测量辐射穿过朝向发射装置的第一壁部段的传播时间和穿过背向发射装置的第二壁部段的传播时间。4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，根据在输送所述物体(12)通过测量区域期间在多个时刻确定的折射率和/或吸收率的值来建立数据趋势，并且基于识别到的所述数据趋势随时间的变化来控制所述生产设备。5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，根据在所述物体(12)的不同位置处确定的折射率和/或吸收率的值来建立空间的值分布，并且基于识别到的所述值分布随空间的变化来控制所述生产设备。6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述物体(12)由塑料材料组成，所述生产设备(32)包括用于挤出塑料材料的挤出装置，并且基于所述折射率确定和/或吸收率确定来控制挤出装置的至少一个生产参数。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，作为生产参数控制所述挤出装置的产出能力。8.根据权利要求6或7中任一项所述的方法，其特征在于，作为生产参数控制所供应给所述挤出装置的要挤出的至少两种材料的混合比。9.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，根据折射率和/或吸收率的所确定的值来确定添加到用于生产所述物体(12)的材料中的添加剂的比例，并且基于所确定的添加剂比例来控制所述生产设备。10.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，基于所述折射率确定和/或吸收率确定在闭合的控制回路中调节所述生产设备(32)的所述至少一个生产参数。11.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，通过根据权利要求12至20中任一项所述的装置来实施所述方法。12.用于控制用于板形或线形的物体(12)的生产设备(32)的装置，所述装置包括：用于沿输送方向输送所述物体(12)通过该装置的测量区域的输送装置；用于用千兆赫兹或太赫兹频率范围内的测量辐射来照射测量区域中...
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