聚合物的测量的分析制造技术

技术编号:10967675 阅读:136 留言:0更新日期:2015-01-28 19:43
分析了聚合物通过纳米孔易位过程中进行的聚合物的时序系列的测量。测量取决于纳米孔中的k链节的特性,k链节是聚合物的k个聚合物单元,其中,k是正整数。所述方法包括:从测量系列得出代表测量特性的时序特征的特征向量;以及测定得出的特征向量和至少一种其他特征向量之间的相似性。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种分析聚合物通过纳米孔的易位过程中进行的聚合物的时序系列测量的方法,其中,所述测量取决于所述纳米孔中的k链节的特性,k链节是所述聚合物的k个聚合物单元,其中,k是正整数,所述方法包括:从所述系列测量得出代表所述测量的特性的时序特征的特征向量;以及测定所述得出的特征向量和至少一种其他特征向量之间的相似性。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:斯图尔特·威廉·里德詹姆斯·安东尼·克拉克詹姆斯·怀特加文·哈珀
申请(专利权)人:牛津楠路珀尔科技有限公司
类型:发明
国别省市:英国;GB

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