非制冷红外焦平面探测器盲元校正方法技术

技术编号:10807155 阅读:81 留言:0更新日期:2014-12-24 13:30
本发明专利技术公开了一种非制冷红外焦平面探测器盲元校正方法,它包括以下步骤:对图像进行检测,在有盲元的地方作标记;计算盲元点3*3窗口灰度的平均值;将得到的平均值作为本盲元的输出。本发明专利技术能够对盲元位置的信息进行预测和替代,并且可提高盲元替换后的图像效果,具有简单、实时性强等特点。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种,它包括以下步骤:对图像进行检测,在有盲元的地方作标记;计算盲元点3*3窗口灰度的平均值;将得到的平均值作为本盲元的输出。本专利技术能够对盲元位置的信息进行预测和替代,并且可提高盲元替换后的图像效果,具有简单、实时性强等特点。【专利说明】
本专利技术涉及一种盲元校正方法,尤其涉及一种非制冷红外焦平面探测器盲元校正 方法。
技术介绍
具有轻巧便携和良好性价比的非制冷红外焦平面成像系统是未来夜视仪器发展 的方向之一。为了获得更多的辐射能量,红外光学系统一般设计为大相对口径系统,这就不 可避免的造成光学上像差校正的困难,进而导致红外图像的集合畸变。另外,非制冷红外 焦平面阵列属于大面阵的探测器,由于制作器件的半导体的材料的不一致性,掩模误差、缺 陷、工艺等因素影响,其信号输出幅度会出现不均匀的现象,每个像元的响应度不一致,有 些甚至是完全失效的单元(盲元)。 盲元是指器件中响应过高和过低的探测器单元,红外焦平面器件中盲元的数量及 其分布对器件性能的影响很大,如果盲兀过多,在未经任何响应处理的红外成像系统输出 图像中将出现大量的亮点和暗点,使得输出图像的视觉效果很差,必须通过一定的处理技 术加以纠正,通过盲元补偿提出过亮或过暗的像元,提高红外焦平面的成像质量,具有很高 的应用价值和意义。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足,提供一种能够对盲元位置的信息进行替 代,并且可提高盲元替换后的图像效果,实现简单,实时性强的非制冷红外焦平面探测器盲 元校正方法。 本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的: ,它包括以下步骤: Sl :对图像进行检测,在有盲元的地方作标记; S2 :计算盲元点3*3窗口灰度的平均值; S3 :将得到的平均值作为本盲元的输出。 所述步骤S2中若有连续的盲元存在,则周边盲元不进行统计,只统计正常像素点 的平均值。 所述步骤S2中盲元点3*3窗口灰度平均值的公式为: 【权利要求】1. ,其特征在于:它包括以下步骤: 51 :对图像进行检测,在有盲元的地方作标记; 52 :计算盲元点3*3窗口灰度的平均值; 53 :将得到的平均值作为本盲元的输出。2. 根据权利要求1所述的,其特征在于:所述 步骤S2中若有连续的盲元存在,则周边盲元不进行统计,只统计正常像素点的平均值。3. 根据权利要求1所述的,其特征在于:所述 步骤S2中盲元点3*3窗口灰度平均值的公式为: -; ΣΣα,5 i=l j=l 其中,Fij为像素坐标为(i,j)的盲元标记,如果Fij为0表示盲元,Fij为1表示正常 像元,Pi」为像素坐标(i,j)对应的灰度值,Ay为各像素点的贡献因子,贡献因子Ay是可配 置的。【文档编号】G06T5/00GK104236719SQ201410521194【公开日】2014年12月24日 申请日期:2014年9月30日 优先权日:2014年9月30日 【专利技术者】曾衡东 申请人:成都市晶林科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
非制冷红外焦平面探测器盲元校正方法,其特征在于:它包括以下步骤:S1:对图像进行检测,在有盲元的地方作标记;S2:计算盲元点3*3窗口灰度的平均值;S3:将得到的平均值作为本盲元的输出。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:曾衡东
申请(专利权)人:成都市晶林科技有限公司
类型:发明
国别省市:四川;51

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