显示面板的检测方法技术

本发明专利技术公开了一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括基板，所述基板上形成有多条公共电极线、多条数据线、多条栅极线，其中，所述公共电极线与所述栅极线交叉，所述方法包括：通过调节施加到所述公共电极线上的电压以及施加到所述数据线上的电压，判断所述公共电极线与所述栅极线短路的位置。通过本发明专利技术显示面板的检测方法可以快速、精确的判断面板短路的位置。

【技术实现步骤摘要】
显示面板的检测方法
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种显示面板的检测方法。
技术介绍
目前随着面板尺寸加大，分辨率增高，像素增多且单个像素变小，线与线的布线走线都相当密集，大大提高了成膜制造的困难度，在面板制造过程中，有大量的面板内的栅极线与公共电极线的短路问题造成了不良率的增高。现有技术中，面板检查短路一般采用点灯检查，其采用源极信号与公共电极信号线正负平衡方式施加于面板，栅极电压依次顺序打开每行薄膜电晶体来显示画面与检查。此方式点灯当面板有栅极线与公共电极线重迭相交部分有发生短路现象，点灯画面如图3所示，人眼无法得知何处短路。若只是正常点灯信号加于点灯检查，且当短路现象存在于面板内，只能看出面板存在点灯不良问题，无法得知是什么不良问题，也无法得面板何处发生什么不良问题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术针对现有技术的不足，提出一种面板检测方法，通过施加调变驱动电压后，就可判断面板显示不良类型与面板何处不良造成的，有利于工程人员快速判断不良类型并快速检修，提升良率。为了解决本专利技术的技术问题，本专利技术提出了一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括基板，所述基板上形成有多条公共电极线、多条数据线、多条栅极线，其中，所述公共电极线与所述栅极线交叉，所述检测方法包括：通过调节施加到所述公共电极线上的电压以及施加到所述数据线上的电压，判断所述公共电极线与所述栅极线短路的位置。优选地，施加到所述公共电极线上的电压为低直流电压，所述公共电极线上的电压小于施加到奇数列的数据线和偶数列的数据线上的电压。优选地，在当前一帧内，所述奇数列的数据线的驱动电压大于所述偶数列的数据线的驱动电压；在下一帧内，所述偶数列的数据线的驱动电压大于所述奇数列的数据线的驱动电压。优选地，对奇数列的数据线施加一个浮动范围约1伏特多的电压。优选地，对偶数列的数据线施加一个浮动范围约1伏特多的电压。优选地，所述奇数列的数据线的帧反转交流驱动电压为8.9V和10.1V，所述偶数列的数据线的驱动电压为5.4V和7.1V。优选地，还包括在所述栅极线与所述数据线交叉处形成薄膜晶体管，所述低直流电压输入导致所述短路点充电不足，其大小根据所述薄膜晶体管的电压电流特性曲线特性决定。优选地，所述低直流电压为3.4V。优选地，通过面板点亮后，在白色画面下显示出所述栅极线与所述公共电极线短路的位置。优选地，通过面板点亮后，在黑色画面下显示出所述栅极线与所述公共电极线短路的位置。本专利技术与现有技术相比，其优点在于：本专利技术通过提出一种检测方式，通过调节施加到所述公共电极线上的电压以及施加到所述数据线上的电压，面板点灯与人眼目视，虽一整片面板有数百万个像素配置，通过点灯技巧后，人眼就可以快速定位面板何处有栅极线与公共电极线重迭相交部分有发生短路现象。附图说明图1为本专利技术中整个显示面板的电路原理图；图2为本专利技术图1中局部显示面板的电路原理图；图3为现有技术中显示面板检测方法的显示画面示意图；图4为本专利技术一实施例的显示面板检测方法施加电压的时序图；图5为本专利技术图4中显示面板检测方法的显示画面示意图。具体实施方式下面结合附图与实施例对本专利技术作进一步的说明。图1为本专利技术中整个显示面板的电路原理图。如图1所示，本专利技术提供了一种显示面板，包括基板100，在基板100上形成有纵横交错的多条栅极线G1～Gn和多条数据线S1～Sm，在多数多条数据线S1～Sm相邻配置有多条公共电极线CS1～CSk，其中，所述数据线与所述公共电极线位于同一层，所述栅极线位于另外一层，所述公共电极线与所述栅极线交叉，所述数据线与所述栅极线交叉并在所述交叉处配置薄膜晶体管开关。目前显示面板为解决色偏问题，都会采用上述配线方式来改善大视角下的色偏，目前面板分辨率越做越高，导致配线距离越来越近，重迭交差部分越来越多，产品制造良率降低，本专利技术所要解决问题通过点灯可以显示不良现象，也可以显示不良现象的位置，来进行修复不良点。基板100分成非显示区101、显示区102。图1示出的基板100是显示面板的两基板中的下基板，并且图1没有示出上基板。图2为本专利技术图1中局部显示面板的电路原理图。在显示面板显示检查时，所述栅极线与所述公共电极线交叉处出现短路点103，显示为如图3所示的显示画面一条线缺陷。对于本专利技术提供的m*n矩阵像素的显示面板，本专利技术提出一种线缺陷的检测方式。显示面板的配线分成数据线和栅极线，分别延伸到显示面板的边缘端子处，数据线为X1、X2….Xm走线，栅极线为Y1、Y2….Yn走线。本专利技术提出检测方式，施加于奇数列的数据线X1、X3….等走线，施加一个浮动范围约1伏特多的电压，大致电压约8.9V～10.1V，变换时间约1/120/n*2＝Th；施加于偶数列的数据线X2、X4….等走线，施加一个浮动范围约1伏特多的电压，大致电压约7.1V～5.4V，变换时间约1/120/n*2＝Th。例如，对于栅极线根数为2160根的显示面板，Th＝1/120/2160*2＝7.7us。全部的栅极线Y1、Y2…Yn的驱动电压为正常循序扫描的栅极电压。譬如，开始为Y1＝34V/7.7us，然后Y1＝-6V同时Y2＝34V/7.7us，然后Y2＝-6V同时Y3＝34V/7.7us，依此循环。数据线与公共电极线的详细驱动电压如图4所示。在奇数列的数据线上施加特定的源极信号驱动交流电压，而在偶数列的数据线上也施加特定源极信号驱动交流电压。在图4中，在第F(n)帧内，奇数列的数据线上的驱动电压大于偶数列的数据线上的驱动电压；第F(n+1)帧内，偶数列的数据线上的驱动电压大于奇数列的数据线上的驱动电压。公共电极的电压是依据薄膜晶体管与像素参数特性施加一个特定直流电压，一般决定公共电极电压大小主要取决于薄膜晶体管充放电，电压大小是让像素处于像素电荷充放电几乎为零拐点。在本专利技术的实施例中，显示面板的公共电极的驱动电压调整到3.4V。在本专利技术提供的m*n矩阵像素的显示面板内，若面板内部的配线在制程工艺中导致公共电极线与栅极线短路的情形下，通过施加特定数据线驱动电压和特定的公共电极线的驱动电压，使得显示面板制作完成后进行点灯检查，能够让检查人员的眼睛就能分辨不良问题与不良位置，然后面板归类与修复。如图1所示的m*n矩阵像素的显示面板，通过上述驱动方法，如图5所示，在显示面板的栅极线与公共电极线重迭相交部分有发生短路点503。在图5所示的点灯显示画面中，其他区域显示的都是正常的白色灰阶显示。短路点503的栅极线电压会跟公共电极线的电压相等，都为3.4V。短路点503的栅极电压为3.4V，导致与短路点503在栅极线方向相连的像素的薄膜晶体管开关处于漏电和充电两种状态，像素无法保持电荷，稍微远离短路点503的栅极线的电压在打开状态时大于3.4V，在关断状态时小于3.4V。离开短路点503越远，栅极线的电压越趋近于正常的栅极电压，即打开状态的电压为34V，关断的电压为-6V。所以，图5得到的是一条超偏暗水平线，约1cm长。其中，短路点503约在1cm长的中心，再通过显微镜就可以快速找出短路点503的确定位置。通过在数据线、栅极线与公共电极线上施加特定信号的驱动电压，让面板点亮后直接显示出不良位置。对于IPS、VA等常黑显示模式的显示面板，在白色画面下本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括基板，所述基板上形成有多条公共电极线、多条数据线、多条栅极线，其中，所述公共电极线与所述栅极线交叉，所述检测方法包括：通过调节施加到所述公共电极线上的电压以及施加到所述数据线上的电压，判断所述公共电极线与所述栅极线短路的位置。

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括基板，所述基板上形成有多条公共电极线、多条数据线、多条栅极线，其中，所述公共电极线与所述栅极线交叉，所述检测方法包括：通过调节施加到所述公共电极线上的电压以及施加到所述数据线上的电压，判断所述公共电极线与所述栅极线短路的位置，其中，所述公共电极的电压是依据薄膜晶体管与像素参数特性施加一个特定直流电压，所述公共电极电压大小取决于薄膜晶体管充放电，电压大小是让像素处于像素电荷充放电为零拐点；施加到所述公共电极线上的电压为低直流电压，所述公共电极线上的电压小于施加到奇数列的数据线和偶数列的数据线上的电压。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：在当前一帧内，所述奇数列的数据线的驱动电压大于所述偶数列的数据线的驱动电压；在下一帧内，所述偶数列的数据线的驱动电压大于所述奇数列的数据线的驱动电压。3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于：对奇数列的数据线...

【专利技术属性】
技术研发人员：廖木山，卢建宏，蓝东鑫，
申请(专利权)人：南京中电熊猫液晶显示科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32