OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法及系统，本发明专利技术方法通过对采集的ShortingBar输出端的实际电压值运用最小二乘法拟合直线的方法进行校准后再输出，解决了因ShortingBar电压输出精度不高，而导致OLED玻璃画面异常的问题，且校准精度高、能大幅提高测试效率。本发明专利技术装置采用采集板依次与ShortingBar的每个输出端导通采集电压值，采集后自动切换下一个输出端，使PC获得ShortingBar的实际电压值与校准电压值，本装置能扩展至48路I/O接口。

【技术实现步骤摘要】
OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法及系统
本专利技术属于OLED测试设备
，具体地指一种OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法及系统。
技术介绍
ShortingBar(探针短接式信号测试机)是一款能产生高压波形信号的模拟信号发生装置，在OLED面板生产工序中，其可用于检测OLED面板是否存在VLINE、HLINE、DOT等不良异常。ShortingBar的电压输出精度需要校准，没有经过校准的ShortingBar其输出电压的误差可达500mv。ShortingBar电压输出精度不高，会导致OLED玻璃画面异常等问题的发生。目前ShortingBar电压输出采集过程都是通过人工方式，使用数字万用表手动采集各通道电压的接口输出值并记录，采集过程完全依靠手拿表笔探针，再将探针接触到输出接口上的触点完成，该测试方式由于需要人工的进行量测、记录和保存数据，往往会导致测试效率低、数据准确度不高等问题，加上人眼疲劳，不排除出现记录错误现象，产生无效数据，亦会导致校准精度不高。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法及系统，能够解决因ShortingBar电压输出精度不高，而导致OLED玻璃画面异常的问题，且校准精度高、能大幅提高测试效率。为实现上述目的，本专利技术所设计的一种OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法，其特殊之处在于，包括如下步骤：1)使ShortingBar的每个输出端输出相应的设定电压值；2)依次采集所述ShortingBar的每个输出端的实际电压值；3)将所述ShortingBar每个输出端的实际电压值与设定电压值进行比对，用最小二乘法拟合直线的方法计算出校准参数；4)将所述校准参数输入ShortingBar，所述ShortingBar根据校准参数修正每个输出端的设定电压后再输出校准电压值；5)重复步骤2)，若所述ShortingBar的每个输出端的实际电压值与设定电压值的误差在±50mv以内，测试完成；若误差大于±50mv，则重复步骤3)、4)、5)。优选地，所述步骤2)中依次采集所述ShortingBar的每个输出端的实际电压值的具体步骤包括：21)将ShortingBar的输入端和电压监控模块的输出端分别与PC机连接；22)使所述电压监控模块的输入端依次与ShortingBar的每个输出端导通，使所述电压监控模块的输入端依次采集所述每个输出端的实际电压值，并将所述实际电压值依次传输给PC机；23)所述PC机依次记录ShortingBar每个输出端的实际电压值。优选地，所述步骤3)的具体步骤包括；31)将所述ShortingBar(1)每个输出端的设定电压值依次记为x1、x2……xn，将每个输出端的实际电压值依次记为y1、y2……yn，(n为ShortingBar输出端的个数)；32)根据最小二乘法拟合直线的公式计算出校准参数a和b的值，(N为ShortingBar输出端的个数)。优选地，所述步骤4)中所述ShortingBar(1)将根据校准参数修正每个输出端的设定电压的具体步骤包括：步骤41)所述ShortingBar(1)将每个输出端的设定电压值x1、x2……xn带入校准参数公式y＝ax+b得到每个输出端的校准电压值y1’、y2’……yn’；步骤42)所述ShortingBar(1)使每个输出端分别输出校准电压值y1’、y2’……yn’，(n为ShortingBar输出端的个数)。优选地，所述步骤1)中所述设定电压值为根据OLED玻璃参数设置的每个输出端的设定电压值。一种用于上述的OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法的测试系统，其特殊之处在于，包括ShortingBar、PC机、采集板和电压监控模块，所述ShortingBar的输入端与PC机连接，所述ShortingBar的每个输出端分别与采集板的一个支路一一对应连接，所述采集板的所有支路与电压监控模块的输入端连接，所述电压监控模块的输出端与PC机连接，所述ShortingBar根据设定电压值和校准信号输出电压，所述PC机向采集板发出启动信号和结束信号、记录所述电压监控模块采集的实际电压值、计算校准参数并向ShortingBar发出校准信号，所述采集板根据PC机的启动信号依次为每一个支路导通电源，且一个支路导通时其余所有支路关断，所述采集板接收结束信号后关断所有支路。进一步地，所述采集板包括MCU和若干个支路，所述MCU接收所述PC机发出启动信号和结束信号并控制每个支路的导通与关断。更进一步地，所述采集板的若干个支路通过IIC总线、I/O扩展器和继电器实现，所述IIC总线分别与MCU和I/O扩展器连接，所述I/O扩展器具有若干个I/O接口,每一个I/O接口与一个继电器相连接。更进一步地，所述I/O扩展器为多个PCA9555D芯片，每个PCA9555D芯片具有16路I/O接口。更进一步地，所述I/O扩展器由三个PCA9555D芯片组成，共有48路I/O接口。本专利技术的工作原理如下：通过MCU控制I/O扩展器中16路I/O接口中每一个I/O接口的电平状态从而控制继电器的开关状态，并使用IIC总线连接多个I/O扩展器串联实现16*N路独立I/O接口形成16*N路支路，通过继电器的开关状态控制16*N路支路的通断，电压监控模块与采集板输出接口连接，采集当前导通的支路电压值，然后通过PC机实现输出电压值的自动记录。与现有技术相比，本专利技术的有益效果包括：(1)用最小二乘法拟合直线的方法计算校准参数，提升OLED的ShortingBar电压输出精度；(2)改进了目前人为更换输出通道，人为记录采集数据、整理采集数据的过程，极大地提高了数据采集效率。原手动校准时间约为30min/台，使用本专利技术后自动校准时间约为3min/台，效率提高了9倍；(3)可扩展性：通过MCU、IIC总线的级联方式，可以实现多路独立的I/O接口，且ShortingBar电压输出通道越多时，优势越明显；(4)低成本：通过市场上的成熟产品来处理OLED的ShortingBar电压输出精度校准的问题，用较低的成本得到了效率极大的提升。附图说明图1为本专利技术OLED的ShortingBar输出精度校准测试系统的结构示意图。图中：1.ShortingBar，2.PC机，3.采集板，3-1.MCU，3-2.I/O扩展器，3-3.继电器，3-4.IIC总线，4.电压监控模块。具体实施方式以下结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步的详细描述。如图1所示，本专利技术OLED的ShortingBar输出精度校准测试系统，包括ShortingBar1、PC机2、采集板3和电压监控模块4。ShortingBar1的输入端与PC机2连接，ShortingBar1的每个输出端分别与采集板3的一个支路一一对应连接，采集板3的所有支路与电压监控模块4的输入端连接，电压监控模块4的输出端与PC机2连接，PC机2向采集板3发出启动信号和结束信号，并记录电压监控模块4采集的电压值，采集板3根据PC机2的启动信号依次为每一个支路导通电源，且一个支路导通时其余所有支路关断，采集板3接收结束信本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法，其特征在于，包括如下步骤： 1)使ShortingBar(1)的每个输出端输出相应的设定电压值； 2)依次采集所述ShortingBar(1)的每个输出端的实际电压值； 3)将所述ShortingBar(1)每个输出端的实际电压值与设定电压值进行比对，用最小二乘法拟合直线的方法计算出校准参数； 4)将所述校准参数输入ShortingBar(1)，所述ShortingBar(1)根据校准参数修正每个输出端的设定电压后再输出校准电压值； 5)重复步骤2)，若所述ShortingBar(1)的每个输出端的实际电压值与设定电压值的误差在±50mv以内，测试完成；若误差大于±50mv，则重复步骤3)、4)、5)。

【技术特征摘要】
1.一种OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法，其特征在于，包括如下步骤：1)使ShortingBar(1)的每个输出端输出相应的设定电压值；2)依次采集所述ShortingBar(1)的每个输出端的实际电压值；3)将所述ShortingBar(1)每个输出端的实际电压值与设定电压值进行比对，用最小二乘法拟合直线的方法计算出校准参数；4)将所述校准参数输入ShortingBar(1)，所述ShortingBar(1)根据校准参数修正每个输出端的设定电压后再输出校准电压值；5)重复步骤2)，若所述ShortingBar(1)的每个输出端的实际电压值与设定电压值的误差在±50mv以内，测试完成；若误差大于±50mv，则重复步骤3)、4)、5)。2.根据权利要求1所述的OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法，其特征在于：所述步骤2)中依次采集所述ShortingBar(1)的每个输出端的实际电压值的具体步骤包括：21)将ShortingBar(1)的输入端和电压监控模块(4)的输出端分别与PC机(2)连接；22)使所述电压监控模块(4)的输入端依次与ShortingBar(1)的每个输出端导通，使所述电压监控模块(4)的输入端依次采集所述每个输出端的实际电压值，并将所述实际电压值依次传输给PC机(2)；23)所述PC机(2)依次记录ShortingBar(1)每个输出端的实际电压值。3.根据权利要求1所述的OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法，其特征在于：所述步骤3)的具体步骤包括；31)将所述ShortingBar(1)每个输出端的设定电压值依次记为x1、x2……xn，将每个输出端的实际电压值依次记为y1、y2……yn，n为ShortingBar(1)输出端的个数；32)根据最小二乘法拟合直线的公式计算出校准参数a和b的值，N为ShortingBar(1)输出端的个数。4.根据权利要求3所述的OLED的ShortingBar输出精度校准测试方法，其特征在于：所述步骤4)中所述ShortingBar(1)将根据校准参数修正每个输出端的设定电压的具体步骤包括：步骤41)所述ShortingBar(1)将每个...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭骞，徐锐，陈凯，沈亚非，
申请(专利权)人：武汉精测电子技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42