航天器器件位移损伤失效率测算方法技术
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及宇宙飞行
，尤其涉及一种航天器内的航天器器件位移损伤失效率测算方法。
技术介绍
目前，航天器内的电子系统及其所用器件（特别是航天器器件）在外太空运行时，长期受到空间粒子辐射，入射的高能粒子与光电器件材料的原子核发生弹性碰撞，晶格原子在碰撞过程中产生能量，从而离开它正常的点阵位置，成为晶格中的间歇原子，形成结构损伤，即位移损伤效应。用于评价器件抗空间辐射环境位移损伤效应能力的传统方法是通过位移损伤效应的试验直接获得器件的抗位移损伤效应水平，再根据各器件样品的失效剂量计算出对数正态分布尺度因子数值，以此体现和评价器件抗空间辐射环境位移损伤效应能力；但是该种方法只是考核评价器件的抗位移损伤效应水平，但是没有将其与器件的失效率进行联系，使用时无法获得器件的实际应用过程中的失效率情况。因此无法对于器件由位移损伤效应导致的故障失效率进行直接的判断，也不便于进行航天器电子系统的可靠性分析和优化设计的指导。
技术实现思路
（一）要解决的技术问题本专利技术的目的是提供一种航天器器件位移损伤失效率测算方法，以获得器件在任务末期的环境位移损伤效率。（二）技术方案为了解决上述技术问题，本专利技术提供一种航天器器件位移损伤失效率测算方法，所述测算方法包括以下步骤：S1、准备多份待检测的器件样品，并分别检测各器件样品失效时累积的等效10MeV质子注量；S2、将各...
【技术保护点】
一种航天器器件位移损伤失效率测算方法，其特征在于，所述测算方法包括以下步骤：S1、准备多份待检测的器件样品，并分别检测各器件样品失效时累积的等效10MeV质子注量；S2、将各器件样品的等效10MeV质子注量输入尺度因子计算模块进行计算，并得到对数正态分布尺度因子数值；S3、将对数正态分布尺度因子数值输入形状因子计算模块进行计算，并得到对数正态分布形状因子数值；S4、将对数正态分布尺度因子数值、对数正态分布形状因子数值和航天器器件失效时累积的等效10MeV质子注量的预测值输入位移损伤失效率计算模块进行计算，以得到位移损伤失效率。
【技术特征摘要】
1.一种航天器器件位移损伤失效率测算方法，其特征在于，所述
测算方法包括以下步骤：
S1、准备多份待检测的器件样品，并分别检测各器件样品失效时
累积的等效10MeV质子注量；
S2、将各器件样品的等效10MeV质子注量输入尺度因子计算模块
进行计算，并得到对数正态分布尺度因子数值；
S3、将对数正态分布尺度因子数值输入形状因子计算模块进行计
算，并得到对数正态分布形状因子数值；
S4、将对数正态分布尺度因子数值、对数正态分布形状因子数值
和航天器器件失效时累积的等效10MeV质子注量的预测值输入位移损
伤失效率计算模块进行计算，以得到位移损伤失效率。
2.根据权利要求1所述的航天器器件位移损伤失效率测算方法，
其特征在于，所述航天器器件失效时累积的等效10MeV质子注量的预
测步骤位于所述步骤S1之前执行，或位于步骤S1至步骤S4之间执行。
3.根据权利要求1所述的航天器器件位移损伤失效率测算方法，
其特征在于，所述步骤S4之后还包括步骤S5：
将位移损伤失效率与参考位移损伤失效率进行比较，以此分析判
断航天...
【专利技术属性】
技术研发人员：王群勇，
申请(专利权)人：北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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