一种对芯片进行调试的方法和芯片技术

技术编号:10603953 阅读:97 留言:0更新日期:2014-11-05 15:54
本发明专利技术公开了一种芯片,包括:寄存器代理模块、调试接口模块和多个底层模块;底层模块,用于如检测到本底层模块工作异常,则产生对应的错误指示信号,向寄存器代理模块发送错误通知;寄存器代理模块,用于如接收到底层模块发送的错误通知,则记录错误信息,向上位机发送错误报告;如接收到上位机发送的寄存器访问指令,则对相应寄存器进行读取操作,向上位机返回读取结果;调试接口模块,用于连接所述芯片和上位机,在所述寄存器代理模块和所述上位机之间转发信息。本发明专利技术能够在对芯片进行调试的过程中快速、精确定位bug位置,提高调试效率,实现对芯片运行状态的实时监控。本发明专利技术还公开了一种对芯片进行调试的方法。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种芯片,包括:寄存器代理模块、调试接口模块和多个底层模块;底层模块,用于如检测到本底层模块工作异常,则产生对应的错误指示信号,向寄存器代理模块发送错误通知;寄存器代理模块,用于如接收到底层模块发送的错误通知,则记录错误信息,向上位机发送错误报告;如接收到上位机发送的寄存器访问指令,则对相应寄存器进行读取操作,向上位机返回读取结果;调试接口模块,用于连接所述芯片和上位机,在所述寄存器代理模块和所述上位机之间转发信息。本专利技术能够在对芯片进行调试的过程中快速、精确定位bug位置,提高调试效率,实现对芯片运行状态的实时监控。本专利技术还公开了一种对芯片进行调试的方法。【专利说明】一种对芯片进行调试的方法和芯片
本专利技术涉及集成电路设计领域,尤其涉及的是一种监控芯片的方法和芯片。
技术介绍
随着半导体技术的发展,集成电路持续向更小的外型尺寸发展,使得每个芯片可以封装更多的电路,这就使得集成电路设计逻辑越来越复杂,设计调试过程出现bug时,精确定位bug原因比较困难,降低了调试的效率。 因此,如何在系统调试出现bug后进行精确定位成为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片,包括:寄存器代理模块、调试接口模块和多个底层模块;底层模块,用于如检测到本底层模块工作异常,则产生对应的错误指示信号,向寄存器代理模块发送错误通知;寄存器代理模块,用于如接收到底层模块发送的错误通知,则记录错误信息,向上位机发送错误报告;如接收到上位机发送的寄存器访问指令,则对相应寄存器进行读取操作,向上位机返回读取结果;调试接口模块,用于连接所述芯片和上位机,在所述寄存器代理模块和所述上位机之间转发信息。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:徐强刘凯
申请(专利权)人:浪潮北京电子信息产业有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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