本发明专利技术公开了一种隔膜孔径大小及分布情况的检测方法。本发明专利技术方法按照下述步骤进行，用可见分光光度计对隔膜进行扫描，设置300nm到900nm，可见分光光度计自动从小波长开始到最大波长结束，扫描并生成曲线；从曲线可以看到，波长在900nm时透光率在47-49左右时，表示隔膜的平均孔径为27nm而且比较均匀；如果透光率在41-42时，表示隔膜孔径大于30nm而且孔大小分布不太均匀。该方法操作简单，结果更精密；不需要样品制备，检测时间短；不需要借助其它化学材料和试剂，对操作者无潜在的化学伤害。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了。本专利技术方法按照下述步骤进行，用可见分光光度计对隔膜进行扫描，设置300nm到900nm，可见分光光度计自动从小波长开始到最大波长结束，扫描并生成曲线；从曲线可以看到，波长在900nm时透光率在47-49左右时，表示隔膜的平均孔径为27nm而且比较均匀；如果透光率在41-42时，表示隔膜孔径大于30nm而且孔大小分布不太均匀。该方法操作简单，结果更精密；不需要样品制备，检测时间短；不需要借助其它化学材料和试剂，对操作者无潜在的化学伤害。【专利说明】-种隔膜孔径大小及分布情况的检测方法
本专利技术涉及领域，更具体地说，是涉及。
技术介绍
电池隔膜是指在锂离子电池正极与负极中间的PP或PE或复合的聚合物薄膜。其 主要作用是：让电解液中的离子在正负极间自由通过；阻止电极颗粒的直接接触；同时，某 些电极表面过程处理误残留粉尘，避免这些粉尘引起的微短路。目前所使用的电极颗粒平 均粒径在10微米以内的量级，而所使用的导电添加剂则在10纳米的量级，不过导电剂颗粒 倾向于团聚形成大颗粒。所以，要检测隔膜孔的大小，不能有太大的孔。 由于电池内部的正负离子完全靠隔膜孔进出产生电流，并与电池外部的电子流形 成回路。孔分布不均会引起不同位置的电流大小不同。大孔集中的位置（当然是合理的孔 范围内）电流集中，电流密度会大，小孔集中的位置正负离子进出阻力大，浓差极化大，会 引起电池内阻增加。 现有隔膜孔大小及分布是否均匀的测试方法有两种：一种通过测试隔膜的放大照 片查看孔径及分布，其存在以下不足：一是现在检测方法检测范围太小(用SEM放大照片检 测时，照片只能看到几个微米范围内的孔径大小和分布)、太局部，不能反应全面；二是现在 检测方法费时间且操作不方便；另一种方法是通过压汞仪测试孔大小及数量分布，但此方 法费时间而且由于有汞，一定危险性。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是，克服现有技术中存在的不足，提供一种简单易操 作的隔膜孔径大小及分布情况的检测方法。 本专利技术，按照下述步骤进行，用可见分 光光度计对隔膜进行扫描，设置300nm到900nm，可见分光光度计自动从小波长开始到最大 波长结束，扫描并生成曲线；从曲线可以看到，波长在900nm时透光率在47-49左右时，表示 隔膜的平均孔径为27nm而且比较均匀；如果透光率在41-42时，表示隔膜孔径大于30nm而 且孔大小分布不太均匀。 与现有技术相比，本专利技术的有益效果是： 本专利技术是一种用可见分光光度计检测消费电子电池和动力电池锂离子隔膜孔径大小 及分布情况的方法。由于隔膜使用时要通过光传感器测试透过的光强变化进行机器动作， 所以用此分光度计方法与实际使用条件也较接近，检测结果与使用情况更加一致。该方法 操作简单，结果更精密；不需要样品制备，检测时间短；不需要借助其它化学材料和试剂， 对操作者无潜在的化学伤害。 【专利附图】【附图说明】 图1是本专利技术方法扫描图谱； 图2是两种不同孔径分布的压汞仪测试结果。 【具体实施方式】 以下结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步详细说明。应当理解，此处所描述 的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。 本专利技术，按照下述步骤进行，用可见分 光光度计对隔膜进行扫描，设置300nm到900nm，可见分光光度计自动从小波长开始到最大 波长结束，扫描并生成曲线；从曲线可以看到，波长在900nm时透光率在47-49左右时，表示 隔膜的平均孔径为27nm而且比较均匀；如果透光率在41-42时，表示隔膜孔径大于30nm而 且孔大小分布不太均匀。 如图1所示，图中的曲线代表隔膜的透光率与波长变化曲线。图中每条曲线是一 个隔膜样品。实验时，取了用传统方法（SEM扫描结合压汞仪测试）测试过的不同孔径且分 布不同的两种样品，同时在供应商处也测试过的两种产品，每种样品裁成约2cm*6cm的多 个长方形小条进行扫描。图中曲线代表隔膜的透光率与波长变化曲线。图中位于左上的曲 线(其中一种样品的九个试样，曲线九条重合)，可以判断为孔径分布较均匀的隔膜，图中位 于右下面曲线(是另一种样品的九个试样，曲线只有六条重合）可以判定为孔径分布不太均 匀的隔膜。左上的曲线（九条重合）样品一和右下的曲线(六条重合）的样品二用传统方法 (SEM扫描结合压汞仪测试）验证，验证曲线见下图2曲线，左侧的粗实线表示样品一：小孔 径且分布集中；右侧的细实线表示样品二：较大孔径且分布较宽。 以上所述仅是本专利技术的优选实施方式，应当指出的是，对于本
的普通技 术人员来说，在不脱离本专利技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰 也应视为本专利技术的保护范围。【权利要求】1. ，其特征是，按照下述步骤进行：用可见 分光光度计对隔膜进行扫描，设置300nm到900nm，可见分光光度计自动从小波长开始到最 大波长结束，扫描并生成曲线；从曲线可以看到，波长在900nm时透光率在47-49左右时，表 示隔膜的平均孔径为27nm而且比较均匀；如果透光率在41-42时，表示隔膜孔径大于30nm 而且孔大小分布不均匀。【文档编号】G01N21/31GK104121859SQ201410368040【公开日】2014年10月29日 申请日期:2014年7月29日 优先权日:2014年7月29日 【专利技术者】聂磊, 谢涛, 王娜, 张娜, 邹玉峰 申请人:天津力神电池股份有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种隔膜孔径大小及分布情况的检测方法，其特征是，按照下述步骤进行：用可见分光光度计对隔膜进行扫描，设置300nm到900nm，可见分光光度计自动从小波长开始到最大波长结束，扫描并生成曲线；从曲线可以看到，波长在900nm时透光率在47‑49左右时，表示隔膜的平均孔径为27nm而且比较均匀；如果透光率在41‑42时，表示隔膜孔径大于30nm而且孔大小分布不均匀。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：聂磊，谢涛，王娜，张娜，邹玉峰，
申请(专利权)人：天津力神电池股份有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12
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