【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】，包括步骤一，基于透射的方法利用矢量网络分析仪和宽频带天线对液态物质进行扫频，确定该物质的最佳吸收频率点f；步骤二，根据德拜理论，一定频率的电磁波透过待测液体时其介质损耗最大时对应的条件是ωτ＝1，其中τ为液体的极化弛豫时间，据此可以得到待测液体的极化弛豫时间；步骤三，根据弛豫时间的计算公式τ＝4πηa3/kT，并带入待测液体在特定温度下的粘度值η即可得到液体分子的半径。有效提高了数据的精确性。【专利说明】-种基于微波扫频的液态分子半径测量方法
本专利技术属于测试测量领域，具体涉及一种基于微波扫频的液态分子半径测量方 法。
技术介绍
-个分子大小的数量级是一个非常微小的尺寸，能够找到一种简便有效的方法测 出分子的大小，从而对分子的数量级有一个清楚的认识是很有意义的。 目前，国内外有关测量分子半径的方法主要有两种：第一种是中学物理常见的油 膜法；第二种是根据爱因斯坦理论，利用溶液中溶质分子的大小与溶液和纯溶剂中的内摩 擦系数的关系来求得液态分子半径的大小。第一种方法对操作细节要求比较高，如溶液的 配制、一滴溶液体积的测量、撒粉的厚度及均匀程度的把握等，操作规程步骤繁、难度大，因 而成功率比较低。第二种方法由于液体的内摩擦系数受温度的影响较大，但其并没有准确 说明对温度的关系如何。
技术实现思路
本专利技术旨在解决现有测量方法中液态分子半径测量操作步骤繁琐、测量精度低的 问题，提供一种能够有效提高测量精度的基于微波扫频的液态分子半径测量方法。 本专利技术提出的基于微波扫频的液态分子半径测量方法是根据德拜...
【技术保护点】
一种基于微波扫频的液态分子半径测量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：步骤1，利用矢量网络分析仪和宽频带天线对液态物质进行扫频，确定该物质的最佳吸收频率点f；步骤2，根据德拜理论确定待测液体的极化弛豫时间德拜弛豫方程如下式所示：ϵr′(ω)=ϵ∞+(ϵs-ϵ∞)11+ω2τ2]]>ϵr′′(ω)=(ϵs-ϵ∞)ωτ1+ω2τ2]]>ε'r(ω)与ε″r(ω)分别为介电常数的实部和虚部。其中，εs为静介电常数，ε∞为光频介电常数。ε″r(ω)随频率变化的关系反映了介质的损耗，由德拜方程可知一定频率的电磁波透过待测液体时其介质损耗最大时对应的条件是ωτ＝1，其中τ为液体的极化弛豫时间，最终可以得到待测液体的弛豫时间τ＝1/2πf。步骤3，确定待测液体分子的半径弛豫时间的计算公式如下：τ＝4πηa3/kT式中，η为待测液态物质的粘滞系数，k为玻尔兹曼常...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈波，许欣，庞晓凤，唐清悟，黄皖菁，蒋元俊，陈思旭，杜星星，苗菁，骆无穷，唐璞，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：四川;51
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