一种光模块测试系统技术方案

本实用新型专利技术提供一种光模块测试系统，包括测试光源、光衰减器、光眼图示波器、误码仪、分路器、带光选择开关的分路器、光模块并行测试夹具、电多路复用器、控制电路；控制电路分别与光衰减器、光眼图示波器、误码仪、带光选择开关的分路器、光模块并行测试夹具、电多路复用器电连接；测试光源、光衰减器、分路器、带光选择开关的分路器、光模块并行测试夹具、电多路复用器依次电连接；误码仪分别与测试光源、光模块并行测试夹具、电多路复用器连接；光眼图示波器与分路器连接。本实用新型专利技术采用可连续热插拔更换的测试夹具，可使测试系统忽略待测光模块的更换时间，在不增加过多投入的情况下能大幅提高光器件测试产能，做到低成本高效率。

【技术实现步骤摘要】
一种光模块测试系统
本技术涉及光通信领域，特别涉及一种光模块的快速测试系统。
技术介绍
随着光通信技术的迅猛发展，光器件作为光通信系统中的核心部件，在越来越多的领域得到了大规模应用。随着应用的普及和产量的不断扩大，价格却一落千丈，以前的娇贵器件成为了如今的一种通用物料，随之而来的是光模块厂商所面对的巨大成本压力。现在的光模块厂家年生产量按千万只计算，测试成本占了其生产成本的很大一部分，挤占了本已处于微利的盈利空间。现在光模块厂商为了提高测试产能，往往从增加设备和人工的方法入手，但这种方法的代价是非常高昂的。光通信测试设备一般价格昂贵，短期内通过增加设备数量来提高测试产能会大幅提高早期投入成本，资金压力很大。现在产线人员流失严重，人工成本大幅增加，无法通过延长劳动时间或增加工人劳动强度来提高产量，而且通过不断增加操作人员数量来提高产能也不是一个理想有效的方法。 通过调查发现，在产线进行光模块测试时，由于光纤的连接和仪表的测试采用了分时操作，设备和人工有很多时间处于闲置状态。比如在生产线普遍采用的单台单人测试方法中，工人将模块放入测试夹具之后就处于闲置等待状态，测试完毕才进行下一个模块的更换，在进行模块更换期间，设备也处于闲置状态。如能让设备不间歇工作，且员工一直处于操作状态，使设备和员工始终处于工作饱和状态，则产能将大幅翻番。
技术实现思路
本技术的目的就在于提供一种能有效提高光模块测试效率的测试系统，在不增加过多投入的情况下能大幅提高光器件测试产能，做到低成本高效率。 本技术利用光分路器将测试光源分配到多个待测光模块，利用电多路复用器将多路待测光模块输出的电信号送给误码仪进行误码检测；在进行误码检测的同时，通过光示波器完成待测光模块的光眼图检测；本技术配置了可连续热插拔更换的测试夹具，可使测试系统忽略待测光模块的更换时间。 一种光模块测试系统，包括测试光源(I)、光衰减器(2)、光眼图示波器(3)、 误码仪(4)、控制电路(9)，其特征在于:还包括1: 2分路器(5)、1:N带光选择开关的分路器(6)、光模块并行测试夹具(7)、电多路复用器(8);控制电路(9)分别与光衰减器(2)、光眼图示波器(3)、误码仪(4)、1:N带光选择开关的分路器(6)、光模块并行测试夹具(7)、电多路复用器(8)电连接；测试光源(I)、光衰减器(2)、1: 2分路器(5)、I:N带光选择开关的分路器(6)、光模块并行测试夹具(7)、电多路复用器(8)依次电连接；误码仪(4)分别与测试光源(I)、光模块并行测试夹具(7)、电多路复用器(8)连接；光眼图示波器(3)与1: 2分路器(5)连接。 所述光模块并行测试夹具(7)包括测试底座和快速测试板，测试底座与快速 测试板通过金手指电连接，测试底座与电多路复用器(8)、控制电路(9)电连接，快速测试板上设置有放置待测光模块的电插槽，插入电插槽中的待测光模块和1:N带光选择开关的分路器(6)之间光连接，待测光模块通过电插槽与金手指实现电连接。 包括两个快速测试板。 所述金手指为可热插拔活动连接器。 与现有技术相比，本技术具有下列优点和积极效果: ①本技术可将多只光模块能一次性完成发射和接收的测试工作； ②光纤的连接和仪表的测试并行操作，减少了等待时间； ③整个测试过程不需要人工干预，由于减少了插拔模块及换纤动作，测试效率大大提闻。 总之，本专利技术提供了一种不需增加过多投资而又能大大提高光模块测试产能的测试系统，使设备和人工始终不处于闲置状态，大幅提高了产能。 【附图说明】 图1是本技术的结构框图； 图2是本技术中快速测试板的结构示意图； 其中，I 一测试光源；2 —光裳减器；3 —光眼图不波器；4 一误码仪；5 — I: 2分路器；6 — 1: N带光选择开关的分路器；7 —光模块并行测试夹具；8—电多路复用器；9 一控制电路。 【具体实施方式】 下面结合附图所示的实施例对本技术作进一步说明: 如图1所示，本技术包括测试光源(I)、光衰减器(2)、光眼图示波 器(3)、误码仪(4)、I: 2分路器(5)、1: N带光选择开关的分路器(6)、光模块并行测试夹具(7)、电多路复用器(8)、控制电路(9);控制电路(9)分别与光衰减器(2)、光眼图示波器(3)、误码仪(4)、1:N带光选择开关的分路器(6)、光模块并行测试夹具(7)、电多路复用器(8)电连接；测试光源(I)、光衰减器(2)、1: 2分路器(5)、1:N带光选择开关的分路器(6)、光模块并行测试夹具(7)、电多路复用器(8)依次电连接；误码仪(4)分别与测试光源(I)、光模块并行测试夹具(7)、电多路复用器(8)连接；光眼图示波器(3)与1: 2分路器(5)连接。 光模块并行测试夹具(7)包括测试底座和快速测试板，测试底座与快速 测试板通过金手指(可热插拔活动连接器)电连接，测试底座与电多路复用器(8)、控制电路(9)电连接，快速测试板上设置有放置待测光模块的电插槽，插入电插槽中的待测光模块和1:N带光选择开关的分路器(6)之间光连接，待测光模块通过电插槽与金手指实现电连接。 本技术中，为了使系统的利用率达到最大化，同时兼顾人工操作的便利性，光模块并行测试夹具(7 )采用两块可热插拔的快速测试板，快速测试板结构图见图2所示，采用公用金手指可以实现测试板的热插拔，当其中一块快速测试板处于测试中时，另一块快速测试板可以一次性在(8)个电插槽的槽位中进行待测模块的装填及光纤倒换，当前一块测试板测试完毕拔出时，可以将另一块已装填好(8)只光模块的测试板插入，避免了以前每次只能插拔单只光模块的弊端；两块测试板在测试中互相迅速倒换，使测试设备始终处于工作状态。 在每个工单开始测试前，需要对光路进行校准。通过光开关的依次切换，分别对每个光支路的衰减量进行相应的修正。 测试板拔出后，为避免操作员记忆失灵，误将不合格模块判定为合格模块，可在测试板上自带后备电源，不合格模块旁设置红灯闪光装置，即使测试板被拔出后红灯依旧闪烁，在测试板重新插入测试板机架后通过上电复位将报警灯解除。 本技术的工作原理: 误码仪(4)输出的电信号送给测试光源(I )，测试光源(I)将该电信号转换成光信号送给光衰减器(2 )，光衰减器(2 )根据测试规范进行一定量的衰减，使输入光模块并行测试夹具(7)的光功率大小符合光模块测试规范；衰减器2输出的光信号经光分路器(5 )输入给光分路器(6 );光分路器(6 )可输出多路光信号,每路光信号对应相应的光模块，由于光分路器带有多路光选择开关，因此当需要对测试夹具(7 )上相应的光模块进行测试时，将光选择开关置于相应的光支路；测试夹具(7 )上输出的多路光模块电信号输入电多路复用器(8 )，当需要对某路光模块进行误码测试时，采用电选择开关将该路电信号选出送给误码仪进行误码测试。 在进行相应光模块的接收测试时，根据光路可逆原理，可以将被测试路光模块的光发射信号送给光示波器进行眼图测试。 由于整个测试系统共用一台误码仪完成多个光模块的测试，因此每个光模块在进行测试时是采用的时本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光模块测试系统，包括测试光源（1）、光衰减器（2）、光眼图示波器（3）、误码仪（4）、控制电路（9），其特征在于：还包括１：２分路器（5）、１：Ｎ带光选择开关的分路器（6）、光模块并行测试夹具（7）、电多路复用器（8）；控制电路（9）分别与光衰减器（2）、光眼图示波器（3）、误码仪（4）、１：Ｎ带光选择开关的分路器（6）、光模块并行测试夹具（7）、电多路复用器（8）电连接；测试光源（1）、光衰减器（2）、１：２分路器（5）、１：Ｎ带光选择开关的分路器（6）、光模块并行测试夹具（7）、电多路复用器（8）依次电连接；误码仪（4）分别与测试光源（1）、光模块并行测试夹具（7）、电多路复用器（8）连接；光眼图示波器（3）与１：２分路器（5）连接。

【技术特征摘要】
1.一种光模块测试系统，包括测试光源(I)、光衰减器(2)、光眼图示波器(3)、误码仪(4)、控制电路(9)，其特征在于:还包括1: 2分路器(5)、1:N带光选择开关的分路器(6)、光模块并行测试夹具(7)、电多路复用器(8);控制电路(9)分别与光衰减器(2)、光眼图示波器(3)、误码仪(4)、1:N带光选择开关的分路器(6)、光模块并行测试夹具(7)、电多路复用器(8)电连接；测试光源(I)、光衰减器(2)、1: 2分路器(5)、1:N带光选择开关的分路器(6)、光模块并行测试夹具(7)、电多路复用器(8)依次电连接；误码仪(4)分别与测试光源(I)、光模块并行测试夹具(7...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕辉，盛飞，徐国旺，杨涛，
申请(专利权)人：湖北工业大学，
类型：新型
国别省市：湖北;42