一种光模块多通道并行测试系统及方法技术方案

技术编号:12613453 阅读:118 留言:0更新日期:2015-12-30 11:59
本发明专利技术涉及光模块测试领域,特别涉及一种光模块多通道并行测试系统及方法。所述光模块多通道并行测试系统包括测试板模块、光源、上位机及至少一台光学测试设备,所述测试板模块包括协议转换转发模块及两个以上的待测试光模块;所述光源为各个待测试光模块提供光;所述上位机通过控制光开关的通断及发送测试数据控制所述两个以上的待测试光模块进行性能测试。本发明专利技术提供的多通道并行测试系统及方法可实现同时对多个待测试光模块进行性能测试,可通过上位机切换不同的待测试光模块利用不同的测试设备完成不同的性能测试,使得测试设备和人员利用率理论上可以达到100%,大大提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光模块测试领域,特别涉及。
技术介绍
在当前光模块测试领域,通常的测试模式为:由一台上位机(一般为电脑)通过中间转接板(也可称之为协议转换转发模块,其负责将上位机发送的协议转换为待测试光模块可以识别的协议,如RS232转IIC、USB转IIC等)向待测试光模块发送测试数据;这种测试方式的缺点为:每次仅将一个待测试光模块与上位机连接,而在一个待测试光模块测试完毕后,需人工将该待测试光模块取下,再将下一块待测试光模块与上位机连接,才能进行后续的测试;而在更换待测试光模块的这段时间,会造成另外外围测试设备(如示波器)会一直等待状态,这无疑造成了测试设备资源的浪费;同时,相对于待测试光模块与测试设备之间的通讯速度,上位机与待测试光模块之间的通信速度相对较慢(以IIC通信接口为例,最大的传输速度只能达到400kbit/s),这也会造成这造成在测试过程中测试设备(尤其是进行光眼图测试的示波器)经常处于等待状态,特别的,当同一个上位机连接多个设备时,其中一个设备正在使用时,其他的设备必须等待,造成测试设备资源浪费;这都造成了整个光模块测试效率的低下。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有测试方式中外围测试设备(如示波器)经常处于等待状态而造成的测试效率低下的问题,提供一种可以同时向两个以上的光模块发送测试数据,以使得各个待测试光模块可以无间隔利用外围测试设备进行测试的光模块多通道并行测试系统 为了实现上述专利技术目的,本专利技术提供了以下技术方案: 一种光模块多通道并行测试系统,包括, 测试板模块,包括协议转换转发模块及两个以上的待测试光模块接口 ;所述待测试光模块接口用于连接待测试光模块,每个所述待测试光模块接口均可连接一待测试光模块;所述协议转换转发模块用于将接收到的测试数据转换为接收到的上位机通信接口协议(该协议中包含着各个待测试光模块的测试数据)与对应待测试光模块相匹配的通讯协议,所述协议转换转发模块还将转换后的所述测试数据发送至对应待测试光模块; 光源,通过光开关与待测试光模块连接并为各个待测试光模块提供光; 至少一台光学测试设备,通过光开关(某些实施例中还包括分光器)与所述两个以上待测试光模块连接,用于对所述待测试光模块进行性能测试; 上位机,同时与所述测试板模块及光学测试设备连接,所述上位机根据测试流程对两个以上待测试光模块进行读写操作。所述上位机还通过控制光开关的通断/切换(与上述的对待测试光模块进行读写操作发送测试数据共同作用)控制所述两个以上的待测试光模块进行性能测试。进一步的,所述光学测试设备为示波器、误码仪、信号发生器和/或光谱仪,其中,示波器用来测试光口和电口的眼图参数。测光口时,输入到光口的光强度和实际模块的光强度差异不能太大。所以直接将光开关的输出端接到示波器光口。测试电眼图时,将测试板的电信号直接接到示波器的电口输入端。多个模块的RX信号可以通过外接电开关或者电开关芯片进行切换。连接方式和光开关一致。测试项目主要有:ER,Crossing Point,Jitter 等。光功率计和光谱仪的输入口,可以直接接到光开关的输出端,如果光开关输出端数量有限,可以通过分光器进行分路处理,如图1。光功率主要测试模块发光强度,实际测试值和真实值需要进行校正。光谱仪主要测试光信号的SMSR等。误码仪用来测试模块的灵敏度。进一步的,所述两个以上的待测试光模块分别通过1*N光开关或2*N光开关与所述光源及光学测试设备连接;N大于或等于所述待测试光模块数量; 进一步的,所述测试板模块还设置有与所述待测试光模块一一对应的声提示模块或光提示模块;所述声提示模块通过不同的声音区分所述待测试光模块的测试状态;所述光提示模块通过不同颜色的指示灯区分所述待测试光模块的测试状态。进一步的,所述测试状态包括测试前状态、测试队列等待状态、测试中状态及测试结束状态。进一步的,待测试光模块接口与所述待测试光模块为电气连接。进一步的,待测试光模块接口与所述待测试光模块为热插拔方式连接。进一步的,上位机与协议转换转发模块通过网口连接、USB连接或串口连接。进一步的,所述上位机通过不同的通信端口向不同的待测试光模块发送测试数据;同时所述协议转换转发模块通过辨认上位机发送测试数据的端口判断该测试数据的目标待测试光模块。 进一步的,所述上位机通过同一通信端口向不同的待测试光模块发送测试数据,并在测试数据中包含目标待测试光模块的标识;所述协议转换转发模块通过辨认测试数据中的标识判断该测试数据的目标待测试光模块。优选的,所述测试板模块中包含8个、16个或32个待测试光模块。本专利技术同时提供一种光模块多通道并行测试方法,包括, 上位机将两个以上的待测试光模块的测试数据统一发送至协议转换转发模块,所述协议转换转发模块将接收到的测试数据转换为与各个待测试光模块相匹配的通讯协议并将所述测试数据发送至对应待测试光模块; 所述两个以上的待测试光模块与光学测试设备及光源之间通过光开关连接;上位机通过控制光开关的通断及测试数据实现任意时刻同一光学测试设备只与一个待测试光模块接通并对其进行性能测试; 进一步的,所述光学测试设备为示波器、误码仪、信号发生器和/或光谱仪;即所述光学测试设备可以是示波器、误码仪、信号发生器及光谱仪中的一种或几种或全部,且每种光学测试设备的数量可以根据需要进行调整,如可以同时有2台示波器、I台误码仪、3台信号发生器及4台光谱仪等(数量仅为列举,不代表任何限定)。进一步的,所述两个以上的待测试光模块分别通过1*N光开关与所述光源及光学测试设备连接;N大于或等于所述待测试光模块数量; 上位机通过控制各个1*N光开关各路输入输出的通断实现待测试光模块与光源、示波器或其他光学设备的接通、关断。进一步的,本方法通过光提示方式或声提示方式对各个待测试光模块的测试状态进行提示;所述声提示方式指通过不同的声音区分待测试光模块的测试状态;所述光提示方式指通过不同颜色的指示灯区分待测试光模块的测试状态。进一步的,所述测试状态包括测试前状态、测试队列等待状态、测试中状态及测试结束状态。进一步的,待测试光模块接口与所述待测试光模块为电气连接。进一步的,待测试光模块接口与所述待测试光模块为热插拔方式连接。进一步的,所述上位机与协议转换转发模块通过网口连接、USB连接或串口连接。进一步的,所述上位机通过不同的端口向不同的待测试光模块发送测试数据;同时所述协议转换转发模块通过辨认上位机发送测试数据的端口判断该测试数据的目标待测试光模块。进一步的,所述上位机通过一个端口向不同的待测试光模块发送测试数据,并在测试数据中包含目标待测试光模块的标识;所述协议转换转发模块通过辨认测试数据中的标识判断该测试数据的目标待测试光模块。与现有技术相比,本专利技术的有益效果:本专利技术提供的多通道并行测试系统及方法可实现同时对多个待测试光模块进行性能测试,可通过上位机切换不同的待测试光模块利用不同的测试设备完成不同的性能测试,使得测试设备和人员利用率理论上可以达到100%,大大提高了测试效率。当前第1页1 2 3 本文档来自技高网...
一种<a href="http://www.xjishu.com/zhuanli/62/CN105207712.html" title="一种光模块多通道并行测试系统及方法原文来自X技术">光模块多通道并行测试系统及方法</a>

【技术保护点】
一种光模块多通道并行测试系统,其特征在于,包括,测试板模块,包括协议转换转发模块及两个以上的待测试光模块接口;所述待测试光模块接口连接有待测试光模块;所述协议转换转发模块用于将接收到的上位机通信接口协议转换为与对应待测试光模块相匹配的通讯协议,所述协议转换转发模块还将转换后的所述测试数据通过所述待测试光模块接口发送至对应待测试光模块;光源,通过光开关与待测试光模块连接并为各个待测试光模块提供光;至少一台光学测试设备,通过光开关与所述待测试光模块连接,用于对所述待测试光模块进行性能测试;上位机,同时与所述测试板模块及光学测试设备连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:周壮志代辉孙彦明李飞
申请(专利权)人:索尔思光电成都有限公司
类型:发明
国别省市:四川;51

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1