一种光模块测试参数配置方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种光模块测试参数配置方法及系统，方法包括：提取光模块测试程序中的测试参数的步骤；根据预定测试条件配置所述测试参数的步骤；将所述配置后的所述测试参数存储到数据库的步骤。本发明专利技术提高了光模块测试时测试参数配置的效率，可自动快速实现测试参数的配置，方便后续测试过程。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种光模块测试参数配置方法及系统，方法包括：提取光模块测试程序中的测试参数的步骤；根据预定测试条件配置所述测试参数的步骤；将所述配置后的所述测试参数存储到数据库的步骤。本专利技术提高了光模块测试时测试参数配置的效率，可自动快速实现测试参数的配置，方便后续测试过程。【专利说明】一种光模块测试参数配置方法及系统
本专利技术涉及光模块测试领域，特别涉及一种光模块测试参数配置方法及系统。
技术介绍
现有光模块测试过程中，测试程序的参数配置需要手动将测试程序所需要用到的参数名称以及名称对应的参数值手工配置到数据库中，然后运行测试程序，测试程序运行过程中从数据库中获取这些配置，由于测试程序和参数配置不是闭合操作，所以数据库中配置的参数和测试程序所需要的参数对应不上的可能性极高，且人工操作容易出错，在参数配置的时候也无法校验配置参数的正确性，所以只能通过运行测试程序，看测试程序是否报错来检查配置的参数是否正确，这种检查极为费时费力，影响光模块测试效率。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足，提供一种自动配置测试参数，测试效率高的光模块测试参数配置方法及系统。 为了实现上述专利技术目的，本专利技术采用的技术方案是:一种光模块测试参数配置方法，包括:提取光模块测试程序中的测试参数的步骤；根据预定测试条件配置所述测试参数的步骤；将所述配置后的所述测试参数存储到数据库的步骤。 优选的，所述提取光模块测试程序中的测试参数的步骤具体为:通过.肥！'反射技术将编译好的所述测试程序的代码中的所有预先定义的参数、功能对象和/或功能子对象反射出来，再通过预定标识对象找到相应的参数名称、功能对象和/或子功能对象名称；其中所述预定标识对象在所述测试程序的代码编写时设定。 优选的，所述预定测试条件为提取的所述测试程序的代码中定义的至少一个参数名称及其取值；所述根据预定测试条件配置所述测试参数的步骤具体为:根据所述至少一个参数名称及其取值配置相应的所述测试参数。 优选的，还包括显示所述测试参数和丨或所述配置后的所述测试参数的步骤。 优选的，还包括校验所述配置后的所述测试参数是否符合所述预定测试条件的步骤；若是，则将所述配置后的所述测试参数存储到数据库。 本专利技术还提供一种光模块测试参数配置系统，包括:参数提取模块，用于提取光模块测试程序中的测试参数；参数配置模块，用于根据预定测试条件配置所述测试参数；存储模块，用于将所述配置后的所述测试参数存储到数据库。 优选的，所述参数提取模块具体用于通过.肥I反射技术将编译好的所述测试程序的代码中的所有预先定义的参数、功能对象和/或功能子对象反射出来，再通过预定标识对象找到相应的参数名称、功能对象和/或子功能对象名称；其中所述预定标识对象在所述测试程序的代码编写时设定。 优选的，所述预定测试条件为提取的所述测试程序的代码中定义的至少一个参数名称及其取值；所述参数配置模块具体用于根据所述至少一个参数名称及其取值配置相应的所述测试参数。 优选的，还包括显示模块，用于显示所述测试参数和丨或所述配置后的所述测试参数。 优选的，还包括校验模块，用于接收所述参数配置模块输出的配置后的所述测试参数，校验所述配置后的所述测试参数是否符合所述预定测试条件；若是，则输出所述配置后的所述测试参数到存储模块。 与现有技术相比，本专利技术的有益效果:本专利技术在测试程序运行前自动提取光模块测试程序中的测试参数，根据预定测试条件配置所述测试参数使其符合测试要求，再将所述配置后的所述测试参数存储到数据库，测试程序运行时自动从数据库提取配置后的测试参数进行光模块的测试。本专利技术可自动快速实现测试参数的配置，方便后续测试程序的光模块测试过程，使得光模块测试效率大大提闻。 【专利附图】【附图说明】:图1是本专利技术实施例的光模块测试参数配置方法流程图；图2是本专利技术实施例的光模块测试参数配置系统框图。 【具体实施方式】 下面结合【具体实施方式】对本专利技术作进一步的详细描述。但不应将此理解为本专利技术上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本
技术实现思路
所实现的技术均属于本专利技术的范围。 本专利技术在测试程序运行前自动提取光模块测试程序中的测试参数，根据预定测试条件配置所述测试参数使其符合测试要求，再将所述配置后的所述测试参数存储到数据库，测试程序运行时自动从数据库提取配置后的测试参数进行光模块的测试。本专利技术可自动快速实现测试参数的配置，方便后续测试程序的光模块测试过程，使得光模块测试效率大大提高。下面结合附图具体说明。 如图1所示的一种光模块测试方法，包括如下步骤:31、提取光模块测试程序中的测试参数的步骤。 具体的，所述提取光模块测试程序中的测试参数的步骤具体为:通过.肥I反射技术将编译好的所述测试程序的代码中的所有预先定义的参数、功能对象和/或功能子对象反射出来，再通过预定标识对象找到相应的参数名称、功能对象和/或子功能对象名称；其中所述预定标识对象在所述测试程序的代码编写时设定。 在开发测试程序的同时在代码中使用预定标识对象对代码中的参数名称、功能对象、子功能对象进行标识。例如:[八狀 6X1)61-161106(1 妨11163,1 10 1118^65 0^) 111 七 116 1*811^6 3,1 丁0〃， 七!'116，06^8111^^81116 = 〃64〃， 151,11111^ = 七!'116， 1,0^61*1,11111^ = 48， = 128)] 好“故6 00115^ 8让 1叫 00^31^0^0,1^11,10 = 〃⑶!)…—預II'—丁0” ； 这个标识对象标识了一个参数名称为的参数，以及该参数的值类型，默认值64以及值范围48-128。 通过.肥I的反射功能将编译好的测试程序中的所有定义参数、对象反射出来，然后再通过预定标识对象找到相应的参数名称、功能对象、子功能对象等。 32、根据预定测试条件配置所述测试参数的步骤。 所述预定测试条件为提取的所述测试程序的代码中定义的至少一个参数名称及其取值；所述根据预定测试条件配置所述测试参数的步骤具体为:根据所述至少一个参数名称及其取值配置相应的所述测试参数。以上述参数名称为的参数为例，提取到的参数值范围48-128，则根据该范围设置该参数值。 测试程序中包含‘多功能调试’功能(即功能对象)，‘多功能调试’功能中又包含‘消光比调试’，‘光功率调试’子功能(即子功能对象 ‘消光比调试’子功能中包含‘调试目标值’参数，‘调试算法’参数等，参数又可以包含参数描述，参数的类型(数字型，字符型...),参数选值范围(可以是多个单值中进行选择，也可以是一个值范围 例: (￡1111111^111101:101116 81:11).八丁丁11: 1 丁 1111111邑， "丁匕也"，20，?)] ^8186)1 [^1:1:1-113111:600111:811181113^111101:1011 (￡111111181113^111101:10111681: 10.八丁2—361:(3^ 1:1116) 1 [^1:1:1-113111:60011本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光模块测试参数配置方法，其特征在于，包括：提取光模块测试程序中的测试参数的步骤；根据预定测试条件配置所述测试参数的步骤；将所述配置后的所述测试参数存储到数据库的步骤。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：代辉，陈晓鹏，曾海峰，
申请(专利权)人：索尔思光电成都有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51