光模块测试方法技术

技术编号:8491875 阅读:550 留言:0更新日期:2013-03-28 22:43
本发明专利技术公开了一种光模块测试方法,包括如下步骤:在多个不同环境温度下对至少一个具有唯一序列号的待测光模块进行至少一个测试项的测试;将当前测试时的环境温度、待测光模块序列号和每个测试项的测试数据相关联以索引表方式存储在本地数据库中,所述每个测试项的测试数据以待测光模块序列号为索引,所述待测光模块序列号以环境温度为索引;当测试中断重新测试时,根据本地数据库中存储的索引表查找判断每个环境温度下哪些待测光模块未完成所有测试项,对未完成所有测试项的待测光模块继续进行测试。本发明专利技术方法不需要对已经完成所有测试的光模块重新进行测试,避免了重复测试,测试效率提高。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种光模块测试方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:a)在多个不同环境温度下对至少一个具有唯一序列号的待测光模块进行至少一个测试项的测试;?b)将当前测试时的环境温度、待测光模块序列号和每个测试项的测试数据相关联以索引表方式存储在本地数据库中,所述每个测试项的测试数据以待测光模块序列号为索引,所述待测光模块序列号以环境温度为索引;其中,每个环境温度对应至少一个待测光模块序列号,每个待测光模块序列号再对应至少一个测试项的测试数据;?c)当测试中断重新测试时,根据本地数据库中存储的索引表查找判断每个环境温度下哪些待测光模块未完成所有测试项,对未完成所有测试项的待测光模块继续进行测试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:古颖泉陈晓鹏胡云克瑞斯·劳鲍特
申请(专利权)人:索尔思光电成都有限公司
类型:发明
国别省市:

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