一种线材表面粗糙度测量方法及实施该方法的设备技术

技术编号:10383135 阅读:167 留言:0更新日期:2014-09-05 11:03
本发明专利技术公开了一种线材表面粗糙度测量方法,其包括以下步骤:(1)设置一待检线材固定平台;(2)设置一表面粗糙度测量仪,该表面粗糙度测量仪包括一测量仪和一仪器仪表控制面板,该测量仪上设有一用于非接触式对待检物表面粗糙度测量的探测管;(3)该探测管包括由其延伸设置的探测体,该探测体内设激光器、光纤准直器、滤光片、半透半反镜、测量透镜,以及通过数据采集器传送至计算机进行数据处理的CCD图像传感器;(4)设置一传动机构,该传动机构与测量仪相连接、且控制该测量仪做横向均速移动动作。本发明专利技术还公开一种线材表面粗糙度测量设备。本发明专利技术提供的线材表面粗糙度测量设备,结构优化,快速稳定,适用于各种类线材的生产检测要求。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种线材表面粗糙度测量方法,其包括以下步骤:(1)设置一待检线材固定平台;(2)设置一表面粗糙度测量仪,该表面粗糙度测量仪包括一测量仪和一仪器仪表控制面板,该测量仪上设有一用于非接触式对待检物表面粗糙度测量的探测管;(3)该探测管包括由其延伸设置的探测体,该探测体内设激光器、光纤准直器、滤光片、半透半反镜、测量透镜,以及通过数据采集器传送至计算机进行数据处理的CCD图像传感器;(4)设置一传动机构,该传动机构与测量仪相连接、且控制该测量仪做横向均速移动动作。本专利技术还公开一种线材表面粗糙度测量设备。本专利技术提供的线材表面粗糙度测量设备,结构优化,快速稳定,适用于各种类线材的生产检测要求。【专利说明】一种线材表面粗糙度测量方法及实施该方法的设备
本专利技术涉及机械制造领域,具体涉及一种高效,科学,实用的线材表面粗糙度测量方法及实施该方法的设备。
技术介绍
在机械加工技术中,工件表面粗糙度是衡量工件加工质量的一项重要技术指标,现有的表面粗糙度测量设备普遍存在以下缺陷和不足:(I)非接触式表面粗糙度测量设备价格高,且该类设备系统结构复杂,对人员及环境要求高,故障率较高,使用及维护成本高;(2)便携式粗糙度测量设备价格虽较上述设备低,但性能不高,一般不适合计量室用。总结上述问题,给管理和生产带来诸多不便,为此,拥有一个达到现代工业标准的表面粗糙度测量设备是很必要的。
技术实现思路
针对上述问题,本专利技术的目的在于,提供一种高效,科学,测量效果好、且应用在线材表面粗糙度测量的测量方法;本专利技术的目的还在于,提供一种用来实施上述线材表面粗糙度测量方法的设备。为实现上述目的,本专利技术所采用的技术方案是:一种线材表面粗糙度测量方法,其特征在于,其包括以下步骤:(I)设置一待检线材固定平台,将待检线材平稳放置在固定平台上;(2)设置一表面粗糙度测量仪,该表面粗糙度测量仪包括一测量仪和一仪器仪表控制面板,该测量仪上设有一用于非接触式对待检物表面粗糙度测量的探测管;(3)该探测管包括由其延伸设置的探测体,该探测体内设激光器、光纤准直器、滤光片、半透半反镜、测量透镜,以及通过数据采集器传送至计算机进行数据处理的CCD图像传感器;(4)设置一传动机构,该传动机构与测量仪相连接、且控制该测量仪做横向均速移动动作;(5)测量线材表面粗糙度时,将测量仪置于线材被测表面上,由传动机构带动测量仪的探测体沿被测线材表面做均速滑行,激光器发出的光经过光纤准直器和滤光片后,通过测量透镜入射到待检线材表面上,反射光和散射光经平面镜后到CXD图像传感器接收,光束经过CXD图像传感器光电转换后,由数据采集器送入计算机进行数据处理,最后显示出表面粗糙度参数值。所述步骤(2)中的表面粗糙度测量仪包括以下步骤:设置一高压喷气装置,将高压气流用软管接于探测体上,并使高压气流与测量路线同轴,用与测量路线同轴的高压气流喷吹待线材表面,使其达到测量要求的干净度。所述步骤(3)中的探测体包括以下步骤:设置一扩束镜,在光路中加入该扩束镜以实现调整照射在待检线材表面光斑。所述的测量仪包括一调节架,该调节架一端连接在测量仪的主轴上,其另一端连接在探测管上,实现对探测管以该调节架的调节管进行高度微调范围。一种实施上述线材表面粗糙度测量方法的设备,其包括一工作站,其特征在于,所述工作站内设有一待检线材固定平台、一表面粗糙度测量仪、一传动机构;所述的表面粗糙度测量仪包括一测量仪和一仪器仪表控制面板,该测量仪上设有一用于非接触式对待检物表面粗糙度测量的探测管,该探测管包括由其延伸设置的探测体,该探测体内设激光器、光纤准直器、滤光片、半透半反镜、测量透镜,以及通过数据采集器传送至计算机进行数据处理的CXD图像传感器。所述的测量仪内置的内部控制部分,其包括相互连接并交互通讯的信号放大器、A/D转换器、单片机、数码管和控制电路。于所述表面粗糙度测量仪还包括设置一高压喷气装置,将高压气流用软管接于探测体上,并使高压气流与测量路线同轴,用与测量路线同轴的高压气流喷吹待线材表面,使其达到测量要求的干净度。所述的探测体包括设置一扩束镜,在光路中加入该扩束镜以实现调整照射在待检线材表面光斑。所述的测量仪包括一调节架,该调节架一端连接在测量仪的主轴上,其另一端连接在探测管上,实现对探测管以该调节架的调节管进行高度微调范围。所述的待检线材固定平台,包括一固定板和一线材固定主体,线材固定主体固设在固定板上,该主体根据所需待检线材的外形轮廓尺寸设有线材卡槽。本专利技术的有益效果为:本专利技术提供的线材表面粗糙度测量方法,高效,科学,测量效果好,速度快,且不与被测线材表面接触,避免了检测设备与线材接触而造成的测量误差。本专利技术提供的线材表面粗糙度测量设备,结构优化,快速稳定,性能可靠,本设备适用于各种类线材的生产检测要求,提高本设备兼容性,提高生产效率与产品质量,解决了传统表面粗糙度测量设备存在的缺陷和不足。下面结合附图与【具体实施方式】,对本专利技术进一步说明。【专利附图】【附图说明】图1是本专利技术的线材表面粗糙度测量设备的框架图;图2是图1中的A-A剖面图;图3是本专利技术的线材表面粗糙度测量仪的流程图。【具体实施方式】实施例:参见图1?图3,本实施例提供的线材表面粗糙度测量方法,其包括以下步骤:(I)设置一待检线材固定平台3,将待检线材平稳放置在固定平台3上;(2)设置一表面粗糙度测量仪,该表面粗糙度测量仪包括一测量仪I和一仪器仪表控制面板,该测量仪I上设有一用于非接触式对待检物表面粗糙度测量的探测管4 ;(3)该探测管4包括由其延伸设置的探测体40,该探测体40内设激光器41、光纤准直器42、滤光片43、半透半反镜44、测量透镜45,以及通过数据采集器8传送至计算机9进行数据处理的CXD图像传感器46 ;(4)设置一传动机构2,该传动机构2与测量仪I相连接、且控制该测量仪I做横向均速移动动作;(5)测量线材表面粗糙度时,将测量仪I置于线材被测表面上,由传动机构2带动测量仪I的探测体40沿被测线材11表面做均速滑行,激光器41发出的光经过光纤准直器42和滤光片43后,通过测量透镜45入射到待检线材11表面上,反射光和散射光经平面镜后到CXD图像传感器46接收,光束经过CXD图像传感器46光电转换后,由数据采集器送入计算机9进行数据处理,最后显示出表面粗糙度参数值。所述步骤(2)中的表面粗糙度测量仪I包括以下步骤:设置一高压喷气装置,将高压气流用软管接于探测体40上,并使高压气流与测量路线同轴,用与测量路线同轴的高压气流喷吹待线材表面,使其达到测量要求的干净度。所述步骤(3)中的探测体40包括以下步骤:设置一扩束镜,在光路中加入该扩束镜以实现调整照射在待检线材11表面光斑。所述的测量仪I包括一调节架6,该调节架6 —端连接在测量仪I的主轴5上,其另一端连接在探测管4上,实现对探测管4以该调节架6的调节管7进行高度微调范围。一种实施上述线材表面粗糙度测量方法的设备,其包括一工作站,所述工作站内设有一待检线材固定平台3、一表面粗糙度测量仪1、一传动机构2 ;所述的表面粗糙度测量仪包括一测量仪I和一仪器仪表控制面板,该测量仪I上设有一用于非接触式对待检物表面粗糙度测量的探测管4,该探测管4包括本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种线材表面粗糙度测量方法,其特征在于,其包括以下步骤:(1)设置一待检线材固定平台,将待检线材平稳放置在固定平台上;(2)设置一表面粗糙度测量仪,该表面粗糙度测量仪包括一测量仪和一仪器仪表控制面板,该测量仪上设有一用于非接触式对待检物表面粗糙度测量的探测管;(3)该探测管包括由其延伸设置的探测体,该探测体内设激光器、光纤准直器、滤光片、半透半反镜、测量透镜,以及通过数据采集器传送至计算机进行数据处理的CCD图像传感器;(4)设置一传动机构,该传动机构与测量仪相连接、且控制该测量仪做横向均速移动动作;(5)测量线材表面粗糙度时,将测量仪置于线材被测表面上,由传动机构带动测量仪的探测体沿被测线材表面做均速滑行,激光器发出的光经过光纤准直器和滤光片后,通过测量透镜入射到待检线材表面上,反射光和散射光经平面镜后到CCD图像传感器接收,光束经过CCD图像传感器光电转换后,由数据采集器送入计算机进行数据处理,最后显示出表面粗糙度参数值。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:傅华良刘美霞
申请(专利权)人:东莞市瀛通电线有限公司湖北瀛通电子有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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