多激光平面度测量仪器制造技术

技术编号:10316396 阅读:135 留言:0更新日期:2014-08-13 17:44
一种多激光平面度测量仪器,设置有架体和激光发射单元,架体设置有基座和测试平台,基座位于测试平台下方,激光发射单元装配于基座,测试平台位于激光发射单元上方,激光发射单元自下方发射激光对测试平台上的测试样品进行平面度检测。还设置有位置调整机构,位置调整机构设置有驱动单元、滑动单元、移动座和丝杆。激光发射单元由多个激光发射器构成,每个激光发射器距离所述测试平台之间的间距均相等。激光发射单元还设置有激光间距调节单元,激光间距调节单元设置有调节板和多个激光装配治具。该多激光平面度测量仪器能够方便检测不同厚度的测试样品,具有结构简单、操作方便的特点。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种多激光平面度测量仪器,设置有架体和激光发射单元,架体设置有基座和测试平台,基座位于测试平台下方,激光发射单元装配于基座,测试平台位于激光发射单元上方,激光发射单元自下方发射激光对测试平台上的测试样品进行平面度检测。还设置有位置调整机构,位置调整机构设置有驱动单元、滑动单元、移动座和丝杆。激光发射单元由多个激光发射器构成,每个激光发射器距离所述测试平台之间的间距均相等。激光发射单元还设置有激光间距调节单元,激光间距调节单元设置有调节板和多个激光装配治具。该多激光平面度测量仪器能够方便检测不同厚度的测试样品,具有结构简单、操作方便的特点。【专利说明】多激光平面度测量仪器
本专利技术涉及激光测量仪器
,特别是涉及一种多激光平面度测量仪器。
技术介绍
平面度是反映平面的平整性的重要参数,通过平面度检测可以获得工件等表面的平整信息。进行表面平整度检测通常是利用激光三角原理。进行物体表面平整度检测,多以激光平面度测量仪器进行物体表面的平整度检测。现有技术中,激光平面度检测仪器通常包括一测试平面、位于测试平面上方的激光发射器。激光发射器与测试面之间的间距很短,因此本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多激光平面度测量仪器,其特征在于:设置有架体和激光发射单元,所述架体设置有基座和用于放置测试样品的测试平台,所述基座位于所述测试平台下方,所述激光发射单元装配于所述基座,所述测试平台位于所述激光发射单元上方,激光发射单元自下方发射激光对测试平台上的测试样品进行平面度检测。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:洪金龙仇增华
申请(专利权)人:东莞市天勤仪器有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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