测试过程中的芯片检测方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种测试过程中的芯片检测方法及系统。本发明专利技术实施例检测装置建立与芯片之间的连接；检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。本发明专利技术实施例可防止因不同批次的芯片的性能差异而造成使用该芯片的成品的性能差异。另外，本发明专利技术实施例不需使用高精度的内部振荡器也不需要改变内部振荡器的电路结构，有利于降低成本。

【技术实现步骤摘要】
测试过程中的芯片检测方法及系统
本专利技术涉及芯片测试领域，尤其涉及测试过程中的芯片检测方法及系统。
技术介绍
芯片中的时钟信号包括两种来源:外部振荡器、内部振荡器。外部振荡器的信号精度高、成本高、体积大，而内部振荡器精度低、成本低、体积小。对于使用内部振荡器的芯片，由于制造工艺的不稳定，工作环境的差异等原因，在大规模生产该芯片的过程中，其内部振荡器产生的时钟频率会漂移，时钟精度因此不符合要求，而内部振荡器的时钟频率会直接影响芯片的性能，造成不同批次的产品性能出现差异，因此，在芯片大规模生产中，其内部振荡器时钟频率不符合要求，从而造成各批次芯片的性能差异的问题亟待解决。上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供测试过程中的芯片检测方法及系统，旨在在检测过程中，对芯片的内部振荡器的时钟频率进行检测，以防止内部振荡器的时钟频率不符合要求从而造成各批次芯片的性能差异。为实现上述目的，本专利技术实施例提供的测试过程中的芯片检测方法，包括以下步骤:检测装置建立与芯片之间的连接；检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。优选地，所述检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率的步骤包括:检测装置利用所述外部基准时间信号进行计时得到时间值；检测装置接收芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值；检测装置根据所述时间值和所述计数值，获取所述振荡器的时钟频率。优选地，所述芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值，将所述计数值发送至检测装置的步骤包括:芯片在检测到所述外部基准时间信号发生第一次变化时，开始对振荡器输出的时钟信号进行计数；芯片在检测到所述外部基准时间信号发生第二次变化时，停止对振荡器输出的时钟信号进行计数，输出所述计数值至检测装置。优选地，所述检测装置发送外部基准时间信号至芯片，并利用外部基准时间信号进行计时得到时间值的步骤包括:检测装置控制所述外部基准时间信号发生第一次变化，并开始计时；检测装置控制所述外部基准时间信号发生第二次变化，并停止计时且得到所述时间值。优选地，所述检测装置建立与芯片之间的连接的步骤之后包括:检测装置获取外部时钟信号源发出的高精度的所述外部基准时间信号，并将所述外部基准时间信号提供给芯片。本专利技术实施例进一步提供的测试过程中的芯片检测系统，包括检测装置，所述检测装置用于:建立与芯片之间的连接；在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。优选地，所述检测装置还用于:利用所述外部基准时间信号进行计时得到时间值；接收芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值；根据所述时间值和所述计数值，获取所述振荡器的时钟频率。优选地，所述系统还包括芯片，所述芯片用于:在检测到所述外部基准时间信号发生第一次变化时，开始对振荡器输出的时钟信号进行计数；在检测到所述外部基准时间信号发生第二次变化时，停止对振荡器输出的时钟信号进行计数，输出所述计数值至检测装置。优选地，所述检测装置还用于:控制所述外部基准时间信号发生第一次变化，并开始计时；控制所述外部基准时间信号发生第二次变化，并停止计时且得到所述时间值。优选地，所述检测装置还用于:获取外部基准时钟信号源发出的高精度的所述外部时钟信号，并将所述外部基准时钟信号提供给芯片。本专利技术实施例检测装置建立与芯片之间的连接；检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。本专利技术实施例在测试使用芯片的成品的过程中，利用外部检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，对于振荡器的时钟频率不在预设频率范围内的芯片，即不符合要求的芯片，将其振荡器的时钟频率的频率参数进行调整，从而防止不同批次的芯片的性能差异而造成使用该芯片的成品的性能差异。另外，本专利技术实施例不需使用高精度的内部振荡器也不需要改变内部振荡器的电路结构，有利于降低成本。【附图说明】图1为本专利技术测试过程中的芯片检测方法第一实施例的流程示意图；图2为本专利技术测试过程中的芯片检测方法第二实施例的流程示意图；图3为图2测试过程中的芯片检测方法中外部基准时间信号和振荡器输出的时钟信号的波形示意图；图4为本专利技术测试过程中的芯片检测系统一实施例的功能模块示意图。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。【具体实施方式】应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术提供一种测试过程中的芯片检测方法。参照图1，图1为本专利技术测试过程中的芯片检测方法第一实施例的流程示意图。在所述方法的第一实施例中，包括以下步骤:步骤SOl，检测装置建立与芯片之间的连接；步骤S02，检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；在对使用芯片的成品进行测试的过程中，对芯片进行检测。首先，检测装置建立与芯片之间的连接，检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率，例如，检测装置对外部基准时间信号进行计数，同时对振荡器输出的时钟信号进行计数，在一段相同的时间内，得到外部基准时间信号的第一计数值和振荡器输出的时钟信号的第二计数值，外部基准时间信号的频率与振荡器输出的时钟信号的频率的比值为第一比值，第一计数值和振荡器输出的时钟信号的比值为第二比值，且第一比值与第二比值相等，其中外部基准时间信号的频率是已知的也是固定的，因此，可以计算得到振荡器输出的时钟信号的频率即振荡器的时钟频率。根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率的方法还可以是利用外部基准时间进行计时，同时对振荡器输出的时钟信号进行计数，根据得到的计时值和计数值计算振荡器的时钟频率。步骤S03，检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内；步骤S04，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内；若是，则停止执行。检测装置根据获取的振荡器的时钟频率，判断振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内。其中预设频率范围是检测装置基于预设频率范围的历史数据设置的，或者是检测装置基于用户侧技术人员触发的设置指令设置的。检测装置在判定振荡器的时钟频率不在预设频率范围内时，则调整时钟频率的频率参数，频率参数是指决定振荡器的时钟频率的参数。在对时钟频率的频率参数进行调整之后，将调整后的频率参数存储在芯片内，在判定振荡器的时钟频率在预设频率范围内时，则停止执行后续步骤。芯片在每次被使用时，如芯片插接在电脑上时，芯片读取存储的调整后的频率参数，并基于频率参数并根据读取的频率参数配置振荡器的时钟频率。此时，振荡器的时钟频率在预设频率范围内。需要注意的是，调整后的频率参数存储在芯本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试过程中的芯片检测方法，其特征在于，包括以下步骤：检测装置建立与芯片之间的连接；检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。

【技术特征摘要】
1.一种测试过程中的芯片检测方法，其特征在于，包括以下步骤: 检测装置建立与芯片之间的连接； 检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率； 检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。2.如权利要求1所述的测试过程中的芯片检测方法，其特征在于，所述检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率的步骤包括: 检测装置利用所述外部基准时间信号进行计时得到时间值； 检测装置接收芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值； 检测装置根据所述时间值和所述计数值，获取所述振荡器的时钟频率。3.如权利要求2所述的测试过程中的芯片检测方法，其特征在于，所述芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值，将所述计数值发送至检测装置的步骤包括: 芯片在检测到所述外部基准时间信号发生第一次变化时，开始对振荡器输出的时钟信号进行计数； 芯片在检测到所述外部基准时间信号发生第二次变化时，停止对振荡器输出的时钟信号进行计数，输出所述计数值至检测装置。4.如权利要求2或3所述的测试过程中的芯片检测方法，其特征在于，所述检测装置发送外部基准时间信号至芯片，并利用外部基准时间信号进行计时得到时间值的步骤包括: 检测装置控制所述外部基准时间信号发生第一次变化，并开始计时； 检测装置控制所述外部基准时间信号发生第二次变化，并停止计时且得到所述时间值。5.如权利要求1-3中任一项所述的测试过程中的芯片检测方法，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：李国强，吴大畏，陈寄福，
申请(专利权)人：深圳市硅格半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44