【技术实现步骤摘要】
一种光轴跳动量测试系统
本专利技术涉及一种对光电仪器的光轴跳动量进行测试的系统，本测试系统主要用于在实验室条件下测量光电仪器变焦前后或宽窄视场切换前后，光电仪器瞄准光轴空间指向的角变化量。本测试系统由于能够连续精确模拟各种距离的目标，因此也可用于多通道光电仪器多光轴定距交会精度的测量。本专利技术属于光学检测
。
技术介绍
光电仪器中，光轴跳动量是指在视场切换或连续变焦过程中光轴的变化量。光轴跳动量不是稳定不变的，对于同一台光电仪器，其随机性很大。光轴跳动量对光电仪器瞄准精度有着重 要的影响，尤其对高精度的光电仪器影响更大。当前，对于视场切换过程中的光轴跳动量，主要是采取目标源、平行光管、转台和经纬仪配合测试；但对于连续变焦过程中的光轴跳动量缺少测试手段。本专利技术解决光轴跳动量测试问题。同时，由于能够连续精确模拟各种距离的目标，因此也可用于多通道光电仪器多光轴在某个距离上交会精度的测量。
技术实现思路
本专利技术公开了一种光轴跳动量测试系统，包括:光学平台(I)、离轴抛物面反射镜组件(2)、平面反射镜组件(3)、目标源组件(4)、光栅尺(5)、导轨(6)、滑移台(7)、位移控制机构(8)、图像采集与处理系统(9)，其特征在于:所述各部件安装固定在隔振且稳定的光学平台(I)上；所述目标源组件⑷能够为工作在各谱段的被测光电仪器(10)提供光轴跳动量测试时的瞄准目标；所述目标源组件⑷固定在滑移台(7)上；所述滑移台(7)可在所述导轨(6)上移动；所述位移控制机构(8)控制滑移台(7)的移动；所述光栅尺(5)读数头固定在滑移台(7)上，随目标源组...
【技术保护点】
一种光轴跳动量测试系统，包括：光学平台(1)、离轴抛物面反射镜组件(2)、平面反射镜组件(3)、目标源组件(4)、光栅尺(5)、导轨(6)、滑移台(7)、位移控制机构(8)、图像采集与处理系统(9)；其特征在于：所述各部件安装固定在隔振且稳定的光学平台(1)上；所述目标源组件(4)能够为工作在各谱段的被测光电仪器(10)提供光轴跳动量测试时的瞄准目标；所述目标源组件(4)固定在滑移台(7)上；所述滑移台(7)可在所述导轨(6)上移动；所述位移控制机构(8)控制滑移台(7)的移动；所述光栅尺(5)读数头固定在滑移台(7)上，随目标源组件(4)同时移动，并测量目标源组件(4)沿导轨(6)在主光轴上的离焦位移量，进而计算出模拟的目标距离；所述目标源组件(4)产生的目标光信号经平面反射镜组件(3)反射后再由离轴抛物面反射镜组件(2)反射并投射至被测光电仪器(10)，形成测试光路；所述图像采集与处理系统(9)采集被测光电仪器(10)观测到的图像，判读出各测试位置瞄准分划中心相对目标点是否存在偏差，若存在偏差则由目标源二维测微机构测量出该处偏差变化量，根据该位置的光学位置关系，进而计算出被测光电仪...
【技术特征摘要】
1.一种光轴跳动量测试系统，包括:光学平台(I)、离轴抛物面反射镜组件(2)、平面反射镜组件(3)、目标源组件(4)、光栅尺(5)、导轨(6)、滑移台(7)、位移控制机构(8)、图像采集与处理系统(9);其特征在于: 所述各部件安装固定在隔振且稳定的光学平台(I)上； 所述目标源组件(4)能够为工作在各谱段的被测光电仪器(10)提供光轴跳动量测试时的瞄准目标； 所述目标源组件(4)固定在滑移台(7)上； 所述滑移台(7)可在所述导轨(6)上移动； 所述位移控制机构(8)控制滑移台(7)的移动； 所述光栅尺(5)读数头固定在滑移台(7)上，随目标源组件(4)同时移动，并测量目标源组件(4)沿导轨(6)在主光轴上的离焦位移量，进而计算出模拟的目标距离； 所述目标源组件(4)产生的目标光信号经平面反射镜组件(3)反射后再由离轴抛物面反射镜组件(2)反射并投射至被测光电仪器(10)，形成测试光路； 所述图像采集与处理系统(9)采集被测光电仪器(10)观测到的图像，判读出各测试位置瞄准分划中心相对目标点是否存在偏差，若存在偏差则由目标源二维测微机构测量出该处偏差变化量，根据该位置的光学位置关系，进而计算出被测光电仪器观察远近目标时调焦前后光轴指向的 角变化量。2.根据权利要求1所述的光轴跳动量测试系统，其特征在于: ...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈振兴，史圣兵，秦少刚，韩福利，刘国权，史睿冰，陈泽峰，陈允刚，任成才，滕静东，
申请(专利权)人：中国人民解放军六三八六三部队，
类型：发明
国别省市：吉林;22
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