【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于电子元件质量检测的装置，特别涉及一种用 于电子元件的激光筛选机。
技术介绍
本专利技术作出以前，熟练工需要观察通过影像放大后的电阻是否存 在质量缺陷,然后，将该电阻放到相关设备上处理以作废。这样的工 艺过程实际上是将电阻的剔除工作分成了两个步骤，第一步是观察，找出存在缺陷的电阻；第二步，人工操作剔除次品。此操作过程繁复， 不利于提高生产效率。
技术实现思路
本专利技术为了克服上述存在的问题，提供一种搡作方便、检测准确， 能对废品或次品做出明显标记的用于电子元件的激光筛选机。为了达到上述目的，本专利技术有如下技术方案本专利技术的用于电子元件的激光筛选机包括计算机、用于在电子元 件上划线的激光划线器、用于支撑电子元件并调节其位置的数控工作 台、用于将电子元件可靠固定在数控工作台的真空吸附旋转装置、用 于观察电子元件的监视系统，其中，计算机分别与激光划线器、数控 工作台连接，真空吸附旋转装置装在数控工作台上。其中，激光划线器包括激光器、激光泵浦灯电源、激光调Q系统、 指示激光器、制冷机、聚焦系统、CCD同轴观察系统、其中，聚焦系 统、CCD同轴观察...
【技术保护点】
一种用于电子元件的激光筛选机，其特征在于：包括计算机、用于在电子元件上划线的激光划线器、用于支撑电子元件并调节其位置的数控工作台、用于将电子元件可靠固定在数控工作台上的真空吸附旋转装置，用于观察电子元件的监视系统，其中，计算机分别与激光划线器、数控工作台连接，真空吸附旋转装置装在数控工作台上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：孙文，徐爱忠，叶青，易光纯，
申请(专利权)人：武汉楚天激光集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：83[中国|武汉]
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