一种VGA信号的测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种VGA信号的测试治具，所述治具包括D-Sub公头接口电路，阻抗匹配电路以及分辨率存储电路，其中所述D-Sub公头接口电路包括一具有十五个连接引脚的D-Sub公头接口，所述D-Sub公头接口中的R、G、B、H、V引脚连接至所述阻抗匹配电路，所述D-Sub公头接口中的I2C总线引脚以及电源引脚连接至所述分辨率存储电路，所述D-Sub公头接口中的其余引脚接地。本实用新型专利技术所涉及的VGA信号的测试治具成本较低，稳定性好，信号的失真度较低，测试效率较高，并且E2PROM的使用使得本测试治具适用于各厂商生产的计算机的测试。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及信号测试领域，尤其涉及一种VGA信号的测试治具。
技术介绍
随着计算机的发展越来越先进，对计算机的显示输出信号VGA信号（R、G、B、H、V信号，其中R、G、B为三原色信号，H、V为行、场信号）的测试也越来越重要。现有技术中针对VGA信号的测试方案有两种：现有解决方案一：通过计算机外接显示器的方式获取VGA信号，并且在计算机的VGA接口处点测该VGA信号。上述方案的缺点在于：（1）为了测试VGA信号，需要外接一台显示器，造成测试不便；（2）由于测试对外接显示器的分辨率要求较高，造成测试成本过高；（3）信号的可靠性较差；（4）测试效率较低。现有解决方案二：通过对VGA接口的R、G、B、H、V信号源焊接电阻，引出VGA信号。上述方案的缺点在于：（1）信号的可靠性差；（2）测试效率较低；（3）测试稳定性较低。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种VGA信号的测试治具，所述治具能够稳定可靠的测试VGA信号，又能够本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种VGA信号的测试治具，其特征在于：所述治具包括D‑Sub公头接口电路，阻抗匹配电路以及分辨率存储电路，其中所述D‑Sub公头接口电路包括一具有十五个连接引脚的D‑Sub公头接口，所述D‑Sub公头接口中的R、G、B、H、V引脚连接至所述阻抗匹配电路，所述D‑Sub公头接口中的I2C总线引脚以及电源引脚连接至所述分辨率存储电路，所述D‑Sub公头接口中的其余引脚接地。

【技术特征摘要】
1.一种VGA信号的测试治具，其特征在于：所述治具包括D-Sub公头接口电路，
阻抗匹配电路以及分辨率存储电路，其中所述D-Sub公头接口电路包括一具有十五
个连接引脚的D-Sub公头接口，所述D-Sub公头接口中的R、G、B、H、V引脚连
接至所述阻抗匹配电路，所述D-Sub公头接口中的I2C总线引脚以及电源引脚连接至
所述分辨率存储电路，所述D-Sub公头接口中的其余引脚接地。
2.根据权利要求1所述的VGA信号的测试治具，其特征在于：所述阻抗匹配电路
包括五个匹配电阻，其中连接于所述D-Sub公头接口中的R引脚的电阻被配置为
75ohm，连接于所述D-Sub公头接口中的G引脚的电阻被配置为75ohm，连接于所
述D-Sub公头接口中的B引脚的电阻被配置为75ohm，连接于所述D-Sub公头接口
中的H引脚的电阻被配置为2.2Kohm，连接于所述D-Sub公头接口中的V引脚的电
阻被配置为2.2Kohm。
3.根据权利要求1所述的VGA...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈娜，
申请(专利权)人：合肥联宝信息技术有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽;34