【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种，所要解决的问题是：现有的图像分析仪仅能获得颗粒材料二维图像数据，在对二维图像数据进行处理之后，应用上述幂指数与分形维数关系回归分析才能得到的颗粒材料的线分维数，而且回归分析系数相对较低、无法直接读取分形维数结果；本专利技术的技术要点是：数据处理系统包括测控模块、颗粒图像处理模块和线分形维数计算模块；以及配合图像分析仪使用的方法；本专利技术通过在颗粒图像分析系统的测控软件中增加颗粒图像处理模块和线分形维数计算模块，使颗粒图像分析系统在现有功能基础上，增加了颗粒二维图像轮廓线分形维数测量新功能，并能够直接输出颗粒材料二维图像线分形维数的测量结果。【专利说明】
本专利技术涉及颗粒材料检测
，具体说是一种测量颗粒材料二维图像轮廓线分形维数的。
技术介绍
分形是部分与整体以某种方式相似的形体。分形维数(又称分数维)在表征不规则形状和传统方法难以表征的材料性质(如颗粒的团聚、针状材料和片状材料)方面正在发挥越来越重要的作用。大量实验结果表明:颗粒材料二维图像轮廓满足统计自相似，属于无规分形。目前，颗粒材料(特别是粉体材料)二维...
【技术保护点】
一种测量颗粒材料线分形维数的图像分析仪，它包括摄像机，其特征是：光学显微镜与摄像机和数字照相机连接，摄像机上设置有图像采集卡，摄像机和数字照相机与数据处理系统连接；所述摄像机镜头内设置有光源；所述数据处理系统包括测控模块、颗粒图像处理模块和线分形维数计算模块；所述颗粒图像处理模块包括：颗粒图像数据接收单元，用于接收一次图像处理结果；颗粒图像二次处理单元，用于对一次图像处理结果进行筛选及二次处理，按顺序储存；所述线分形维数计算模块包括：单颗粒图像最大弦直径计算单元，用于计算每个二次处理后颗粒图像的最大弦直径，按顺序储存；单颗粒图像线分形维数计算单元，用于计算每个颗粒图像的线分...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨云川，王亮，董青云，李松山，万仁毅，
申请(专利权)人：沈阳理工大学，
类型：发明
国别省市：辽宁;21
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