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本发明提供一种测量颗粒材料线分形维数的图像分析仪及其方法，所要解决的问题是：现有的图像分析仪仅能获得颗粒材料二维图像数据，在对二维图像数据进行处理之后，应用上述幂指数与分形维数关系回归分析才能得到的颗粒材料的线分维数，而且回归分析系数相对较...
该专利属于沈阳理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过沈阳理工大学授权不得商用。

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