近接感测方法及装置制造方法及图纸

技术编号:10009080 阅读:89 留言:0更新日期:2014-05-07 15:34
一种近接感测方法及装置,其预设相邻的一第一发光元件及一光传感器,以及一与该光传感器间隔一预定距离的第二发光元件,并令该第一发光元件发射一第一光信号,使该光传感器感测该第一光信号的一第一反射光信号,且判断该第一反射光信号的强度大于一第一临界值时,判定有物体接近,并接续判断该第一反射光信号的强度是否大于一第二临界值,若否,则令该第二发光元件发射一第二光信号,使该光传感器感测该第二光信号的一第二反射光信号,并判断该第一反射光信号的强度与该第二反射光信号的强度的一比值是否大于一第三临界值,若是,判定有物体接近。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种近接感测方法及装置,其预设相邻的一第一发光元件及一光传感器,以及一与该光传感器间隔一预定距离的第二发光元件,并令该第一发光元件发射一第一光信号,使该光传感器感测该第一光信号的一第一反射光信号,且判断该第一反射光信号的强度大于一第一临界值时,判定有物体接近,并接续判断该第一反射光信号的强度是否大于一第二临界值,若否,则令该第二发光元件发射一第二光信号,使该光传感器感测该第二光信号的一第二反射光信号,并判断该第一反射光信号的强度与该第二反射光信号的强度的一比值是否大于一第三临界值,若是,判定有物体接近。【专利说明】近接感测方法及装置
本专利技术涉及一种侦测方法及装置,特别是涉及一种侦测物体是否接近的近接感测方法及装置。
技术介绍
近年来,近接感测装置被广泛应用于具有触控面板的电子装置,例如行动电话上。参见图1所示,以往的近接感测装置设置在行动电话(图未示)的一触控面板40下方,其主要包括一红外线发光二极管41、一与红外线发光二极管41相邻且以一隔光机构42相阻隔的光传感器43,以及一处理器44。红外线发光二极管41会发射一光信号E,光传感器43接收该光信号E由一物体50反射回来的一反射光信号R并传给处理器44,处理器44将该反射光信号R数位化为一光强度值。一般来说,如图2所不,该光强度值会随着物体50与光传感器43之间的距离渐短而渐强,直到趋近于一最大值2000。因此,处理器44会根据预设的一临界距离,例如70mm,设定一临界值,例如500,并判断得到的光强度值是否大于该临界值,若是,则判定物体50接近行动电话,则关闭触控面板40,以避免物体50误触触控面板40而导致电子装置产生误动作。惟,如图3及图4所示,当物体60是一反射率很低的物体,例如黑卡或使用者的黑发时,会发现当物体60相当贴近行动电话时,例如与行动电话的距离在2-3_的范围时,由物体60反射的反射光信号的光强度值会高于临界值500,但是当物体60与行动电话的距离短于2_时,由物体60反射的反射光信号的强度值反而急剧地衰减至低于临界值500,导致处理器44误判物体60与行动电话远离而开启触控面板40。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种可避免因物体的反射率太低而误判物体没有靠近的近接感测方法及装置。本专利技术第一种近接感测方法预设有相邻的一第一发光元件及一光传感器,以及一与该光传感器间隔一预定距离的第二发光元件,并进行步骤包括:(A)令该第一发光元件发射一第一光信号,使该光传感器感测该第一光信号的一第一反射光信号;(B)判断该第一反射光信号的强度是否大于一临界值,若是,判定有物体接近;(C)再判断该第一反射光信号的强度是否持续大于一临界值,若否,令该第二发光元件发射一第二光信号,使该光传感器感测该第二光信号的一第二反射光信号 '及(D)判断该第一反射光信号的强度与该第二反射光信号的强度的一比值是否大于一预设值,若是,判定有物体接近。较佳地,在步骤(B)中,当判断该第一反射光信号的强度小于或等于该临界值,则判定没有物体接近。较佳地,在步骤(D)中,当判断该比值小于或等于该预设值,则判定没有物体接近,并关闭该第二发光元件。较佳地,在步骤(D)中,该第一发光元件及该第二发光元件是交错地发射该第一光信号及第二光信号。本专利技术第二种近接感测方法预设有相邻的一第一发光元件及一光传感器,以及一与该光传感器间隔一预定距离的第二发光元件,并进行步骤包括:(A)令该第一发光元件发射一第一光信号,使该光传感器感测该第一光信号的一第一反射光信号;(B)判断该第一反射光信号的强度是否大于一临界值,若是,判定有物体接近,并令该第二发光元件发射一第二光信号,使该光传感器感测该第二光信号的一第二反射光信号;及(C)判断该第一反射光信号的强度与该第二反射光信号的强度的一比值是否大于一预设值,若是,判定有物体接近,否则判定没有物体接近。本专利技术第三种近接感测方法预设有相邻的一第一发光元件及一光传感器,以及一与该光传感器间隔一预定距离的第二发光元件,并进行步骤包括:(A)令该第一发光元件与该第二发光元件交错地发射一第一光信号及一第二光信号,使该光传感器分别感测该第一光信号的一第一反射光信号,以及感测该第二光信号的一第二反射光信号;及(B)判断该第一反射光信号的强度与该第二反射光信号的强度的一比值是否大于一预设值,若是,判定有物体接近,否则判定没有物体接近。而本专利技术实现上述第一种方法的第一种近接感测装置,包括一第一发光元件,一与该第一发光兀件相邻的光传感器,一与该光传感器间隔一预定距离的第二发光兀件,一控制器及一处理器;该控制器控制该第一发光元件发射一第一光信号,使该光传感器感测该第一光信号的一第一反射光信号,且该处理器判断该第一反射光信号的强度大于一临界值时,判定有物体接近,并在后续判断该第一反射光信号的强度小于或等于该临界值时,令该控制器控制该第二发光元件发射一第二光信号,使该光传感器感测该第二光信号的一第二反射光信号,且该处理器判断该第一反射光信号的强度与该第二反射光信号的强度的一比值大于一预设值时,则判定有物体接近。较佳地,该处理器一开始判断该第一反射光信号的强度小于或等于该临界值时,则判定没有物体接近。较佳地,该处理器判断该比值小于或等于该预设值,则判定没有物体接近,并令该控制器关闭该第二发光元件。较佳地,当该第二发光元件发射该第二光信号时,该控制器控制该第一发光元件及该第二发光元件交错发射该第一光信号及该第二光信号。较佳地,该第二发光元件设在该第一发光元件远离该光传感器的一侧,且该近接感测装置还包括一设在该第一发光兀件与该光传感器之间的第一隔光机构,以及一设在该第二发光元件的接近该第二发光元件的一侧的第二隔光机构。本专利技术实现上述第二种方法的第二种近接感测装置,包括一第一发光元件,一与该第一发光元件相邻的光传感器,一与该光传感器间隔一预定距离的第二发光元件,一控制器及一处理器;该控制器控制该第一发光兀件发射一第一光信号,使该光传感器感测该第一光信号的一第一反射光信号,且该处理器判断该第一反射光信号的强度大于一临界值时,判定有物体接近,并令该控制器控制该第二发光元件发射一第二光信号,使该光传感器感测该第二光信号的一第二反射光信号,且该处理器判断该第一反射光信号的强度与该第二反射光信号的强度的一比值大于一预设值时,则判定有物体接近。本专利技术实现上述第三种方法的第三种近接感测装置,包括一第一发光元件,一与该第一发光元件相邻的光传感器,一与该光传感器间隔一预定距离的第二发光元件,一控制器及一处理器;该控制器控制该第一发光元件与该第二发光元件交错地发射一第一光信号及一第二光信号,使该光传感器分别感测该第一光信号的一第一反射光信号,以及感测该第二光信号的一第二反射光信号,且该处理器判断该第一反射光信号的强度与该第二反射光信号的强度的一比值大于一预设值时,则判定有物体接近,否则判定没有物体接近。本专利技术的有益效果在于:借由设置一近一远的两个发光元件搭配一个光传感器或者设置一近一远的两个光传感器搭配一个发光元件,并在只开启较近的该发光元件或光传感器时,发现由物体反射的反射光强度从大于临界值变成小于临界值时,可借由再开启较远的该发光元件或光传感器,求得在此情况下由本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种近接感测方法,其预设相邻的一第一发光元件及一光传感器,以及一与该光传感器间隔一预定距离的第二发光元件,其特征在于:该方法包括:(A)令该第一发光元件发射一第一光信号,使该光传感器感测该第一光信号的一第一反射光信号;(B)判断该第一反射光信号的强度是否大于一第一临界值,若是,判定有物体接近;(C)再判断该第一反射光信号的强度是否大于一第二临界值,若否,令该第二发光元件发射一第二光信号,使该光传感器感测该第二光信号的一第二反射光信号,其中该第二临界值小于或等于该第一临界值;及(D)判断该第一反射光信号的强度与该第二反射光信号的强度的一比值是否大于一第三临界值,若是,判定有物体接近。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王临轩祝煜伦
申请(专利权)人:敦南科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:台湾;71

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