一种晶片测试治具，其特征在于包括： 一治具座，是由第一、二、三板体所构成，于每一板体上具有一呈通状态的孔，该第一、二板体的孔内径大于第三板体孔的内径、藉第一、二、三板体的孔以形成一组接孔； 一导通体，配置于上述的组接孔中，其...