株式会社日立高新技术专利技术

株式会社日立高新技术共有2367项专利

  • 提供一种电池劣化判定方法,即使在无法得到各单元电压信息的情况下,也能够推定成为电池组的劣化程度的指标的各单元的不平衡和Ah容量时,或者在无法推定时发出警告。一种诊断电池组的劣化程度的电池劣化判定方法,其特征在于,具有:(a)取得与电池组...
  • 本发明的一实施方式的形成金属膜的图案的等离子处理方法具有:第一工序(S1),通过使用电子束取得的掩模图案的图像来取得所述掩模图案的粗糙度以及尺寸、和所述金属膜的晶粒的信息;第三工序(S2),以所述金属膜的图案的粗糙度中的容许值为基础规定...
  • 本发明提供一种自动分析装置,具备:分析部(101);供水箱(53),其在底面(210)具有向分析部(101)供给水的通水用配管(201);设置面(207),其用于设置供水箱(53);磁铁(205),其设置于底面(210)和设置面(207...
  • 目的在于,提供一种半导体制造系统,即使是装置规格不同的情况,也能生成能在其他据点的半导体制造装置中进行处理的配方。半导体器件制造系统将第1据点(A)中的第1半导体制造装置(101)的制造条件向第2据点(B)中的第2半导体制造装置(111...
  • 把持收纳有检体的检体容器并通过电磁力被输送的检体载体(100)、(100A)、(100B)具备:磁性体(105);以及介于磁性体(105)与检体载体(100)、(100A)、(100B)的支架底部(102)、(102A)、(102B)之...
  • 自动分析装置具备:第一分析部,进行第一分析项目组的分析;第二分析部,以与第一分析部不同的测定原理进行第二分析项目组的分析;试剂储存部,储存至少1个第一试剂容器和至少1个第二试剂容器,所述第一试剂容器收纳有用于第一分析部中的分析的试剂,所...
  • 本发明提供一种精度管理用玻片,其能够推定自动免疫染色装置有无异常以及在发生异常时推定其原因。该精度管理用玻片的特征在于,具有:不含抗原的斑点(抗原(‑))、未应用组织学固定化而含有抗原的斑点(固定(‑)/抗原(+))、以及应用了组织学固...
  • 在自动分析装置(1)中,洗涤剂容器(150)、标准液容器(151)和缓冲液容器(130)、清洗液容器(131)、置换液容器(132)按每个分析项目组划分区块,配置在构成壳体(20)底面的地板(22)表面上,或者分为生化分析项目组中所使用...
  • 本发明的目的在于提供一种自动分析装置,使在冷藏库的内表面产生的结露水排出或挥发,抑制霉菌的产生。为此,本发明的自动分析装置具备对收容试剂或检体的容器进行保冷的冷藏库,在所述冷藏库的内表面形成有与水的接触角为15°以下的亲水膜,所述自动分...
  • 本发明提供能够根据电池材料、半成品的异物检查数据预测电池检查工序中的成品率来降低制造损失成本的质量管理装置。质量管理装置(10)具有:模型存储部(11),其存储有关系式,该关系式是将来自异物检查装置(21)的异物检查数据与来自电池检查装...
  • 本公开提出一种自动分析装置,为了使用从LED光源的点亮到光量稳定为止的时间进行LED光源的状态的判定、LED光源的更换时期的预测而具备:收容分析对象的反应溶液(107)的反应池(108);对反应池(108)内的液体照射光的LED光源(3...
  • 本发明的目的在于提供一种能够在短时间内对检体容器进行分类的检体容器分类装置。为此,本发明的检体容器分类装置具备:容器把持升降部,其在把持容纳检体的检体容器的同时,使其向铅垂方向移动;输送部,其使所述容器把持升降部向水平方向移动;容器识别...
  • 一种老化条件评价装置,其对作为工艺装置的老化处理的设定条件的老化条件进行评价,其中,该老化条件评价装置具有:试样台,其支承由所述工艺装置处理后的试样;照明光学系统,其对载置于所述试样台的试样照射照明光;多个检测光学系统,其对来自所述试样...
  • 本发明关于试样观察装置等的技术,提供能够实现合适的画质定量化的技术。一种用于观察试样的试样观察装置中的计算机系统,计算机系统具有一个以上的处理器以及一个以上的存储器,处理器进行以下动作:针对拍摄试样而得的图像(201),决定多个评价用部...
  • 本发明的目的在于,提供一种不追加角度传感器等光学系统就能够抑制与扫描镜的温度变化、经时变化相伴的图像信息的失真的技术。本发明的光测量装置通过扫描镜在第一方向及其相反的第二方向上扫描对样本照射的激光的光斑,由此分别生成所述样本的第一图像信...
  • 本公开的目的在于提供能够使用毛细管电泳高精度地检测突变基因和突变率的技术。本公开的突变基因检测方法将检测信号所具有的信号波峰分类为小于第一阈值的第一组和除此以外的第二组,在使注入电压增加直至属于所述第一组的所述信号波峰为第一阈值以上之后...
  • 本发明提供一种对半导体工艺设备的状态进行诊断的工艺诊断设备,其中,该工艺诊断设备具有:试样台,其对由所述半导体工艺设备处理过的试样进行支承;照明光学系统,其对载置于所述试样台的试样照射照明光;多个检测光学系统,其将来自所述试样的光聚光而...
  • 一种错误因素解析装置,其基于由检查装置测量出的数据集,从构成检查工序的多个小工序中推定错误原因的小工序,其中,该因素解析装置具有:错误标签赋予部,其从与包含被检测到错误的测定点的小工序不同的小工序的测定点中,推定与被检测到错误的测定点相...
  • 本发明提供一种离心分离装置,不会使离心分离处理后的分离出的试样成分的层界面即分离界面倾斜,而可以使分离界面相对于检体容器的长边方向垂直。离心分离装置(1)具备:容纳检体的检体容器(300);能够直接或间接地载置检体容器(300)的吊桶(...
  • 本发明通过简化自动分析装置的容器管理来将容器提供给自动分析装置而提供一种可靠性高的容器保管装置。为此,结构如下。容器保管装置能够与进行检体的分析的分析装置连接,在与所述分析装置之间进行容器的搬出搬入,包括能保管多个第一容器及多个第二容器...