一种电解质浓度测量装置，具备：多个离子选择电极和一个参照电极；试样导入部，其向多个离子选择电极和参照电极导入试样液；电位计测部，其测量多个离子选择电极与参照电极之间的电压；以及电阻测量部，其测量多个离子选择电极的直流电阻。

在用于观察耐热性弱的材料的试样制作中，能够观察刚刚制作出最终观察面后的纯净的状态。本发明的试样制作方法使用带电粒子束装置制作试样，该带电粒子束装置具备：具有冷却机构的微型探针、具备将试样保持为冷却的状态的机构的第一试样保持器、能够导入上...

本申请的目的是提供仅使用静电透镜的比较小型而像差小的带电粒子枪，并提供在大电流下也具有高亮度的场发射型带电粒子枪。带电粒子枪具有：带电粒子源；加速电极，其使从带电粒子源发射的带电粒子加速；控制电极，其配置在比加速电极靠近带电粒子源侧且具...

本发明的目的是解决在利用透射带电粒子的观察中试样的设置或取出费时的问题。带电粒子束装置(601)，其特征在于，具有：将一次带电粒子束向试样(6)照射的带电粒子光学镜筒；能够装拆地配置利用在上述试样(6)内部透射或散射而出的带电粒子发光的...

本发明提供一种核酸分析装置及使用其的核酸分析方法，所述核酸分析装置不需要由研究人员那样经高度训练的操作者手动处理，使用容易，能够进行快速解析，小型且能够收容多个样品。该装置及方法的特征在于，使用多个曝光时间进行检测，且提供用于信号检测的...

洗涤剂贮存槽(101)具有清洗液供给口(102)、洗涤剂供给口(103)及废液口(104)，用于贮存用于清洗试样分注机构的探针的洗涤剂。机构控制部(20)执行下述控制：第一控制，在不满足用于执行洗涤剂贮存槽(101)的清洗的规定条件，且...

提供减少了流动相的流动方向的浓度不均的液体混合装置以及使用了该液体混合装置的液相色谱仪。由流道单元构成，该流道单元由导入路、位于上述导入路的下游的分支部、从上述分支部分支的多条分支流道、上述多条分支流道合流的合流部、上述合流部的下游的导...

分析系统具备：存储部，其存储使质谱分析结果信息和与离子迁移率分离有关的分析条件关联起来的第一信息；控制部，其将与某测定对象离子的质谱分析结果信息对应的上述第一信息的上述质谱分析结果信息所关联的上述分析条件决定为上述测定对象离子的第一分析...

清洗机构(12)利用洗涤剂(1)及洗涤剂(2)清洗反应容器(3)。R1试剂采用机构(8)利用特别的洗涤剂清洗利用清洗机构(12)清洗后的反应容器(3)。计数部对相对于特定的试剂项目的每个反应容器(3)的使用次数进行计数，并存储在存储部中...

具备：二次电子检测器，其检测通过来自电子枪的电子束照射试样(70)而发生的电子；监视器，其根据该检测器的输出，显示试样的二次电子像；气体导入装置(60)，其用于向试样(70)放出气体；以及气体控制装置(81)，其控制气体导入装置(60)...

检测单元(113)测定作为凝固指数的散射光强度E。第一曲线拟合部(120B-a)根据测定出的散射强度E，通过曲线拟合以预定的时间间隔计算凝固反应曲线的近似曲线的参数。初始凝固指数变化判断部(120B-b)根据通过第一曲线拟合部(120B...

本发明的特征是在配置于非真空下的试料(6)与一次电子光学系统之间设有隔膜(10)的扫描电子显微镜中，具备过滤部件(200)，该过滤部件(200)至少在一次带电粒子束照射于试料的状态下配置在一次带电粒子束的路径上，使一次带电粒子束以及从试...

本发明提供一种制作高精度衍射光栅的技术，能够通过使在硅基板上使用半导体工艺制作的平面衍射光栅沿曲面基板塑性变形，制造具有所希望的曲率的曲面衍射光栅。其特征为：将使用半导体工艺制作的硅制平面衍射光栅转印至非晶质材料，并将非晶质材料基板曲面...

已确认在强磁场下使用1微米以下的顺磁性磁微粒时，磁微粒沿着磁束形成念珠状的聚集体，平坦的粒子层和粒子的块混杂而形成凸凹状。在用于生物分析时，该现象导致定量性的降低。通过使用将包含微小的磁微粒的溶液用润湿性高的平面基板夹持并使液厚度在上下...

本发明的目的在于提供一种能够求出用于适当地选择针对半导体器件的处理的评价结果的图案测定装置以及半导体测量系统。为了达到上述目的，本发明提出一种图案测定装置，其具备进行电子器件的电路图案和基准图案的比较的运算装置，该运算装置根据上述电路图...

本发明提供一种可在同一真空腔内进行剖面加工与平面加工双方的离子铣削装置。为实现该目的，提出一种离子铣削装置，其具备：离子源，其安装在真空腔内，向试料照射离子束；以及倾斜工作台，其具有相对于该离子源放出的离子束的照射方向垂直的方向的倾斜轴...

热辅助磁头检查装置(1)具备：磁头磁场检测系统(36、37)，其根据悬臂(10)的位移量测定热辅助磁头(11)所产生的磁场；近场光检测系统(20)，其根据在悬臂位置产生的散射光测定热辅助磁头(11)所产生的近场光；光学系统工作台(2)，...

为了缩短缺陷图像的收集时间，缺陷检查装置具备：读出部，其读出已检测的半导体晶片的缺陷位置；第1摄像部，其在与读出的缺陷中的某一个缺陷所存在的芯片不同的芯片中，以第1倍率拍摄参照图像；第2摄像部，其以第1倍率拍摄包含读出的缺陷的第1缺陷图...

本发明降低自动分析装置上的散射光测定中的气泡、灰尘的影响。从光源照射短波长侧的第1波长18a、长波长侧的第2波长18b，接收透射光19a、19b及散射光21a、21b。根据第1波长、第2波长的透射光强度比及第2波长的散射光的变化光量推算...

本发明的目的在于能够有效率地实施针对不同分析项目的、以PCR法、恒温扩增法为代表的核酸分析方法，特别是能够容易地进行温度调节功能的故障检测。本发明为一种使混合有检查用材料与试剂的反应液的核酸扩增的核酸扩增装置，包括：设有多个调温区块的圆...