株式会社堀场制作所专利技术

株式会社堀场制作所共有419项专利

  • 本发明提供一种测量装置,使用者能通过直观且易于理解的操作来放心地切换显示画面。该测量装置(100)具有显示控制部(33),显示控制部(33)使触摸面板式显示器(40)上显示从探针(10)得到的测量结果,该探针(10)与测量对象物接触来测...
  • 本发明提供一种测量装置,使用者可以在确信与标准液的特性值无关且适合进行校正的状态下开始校正,并能够使所述校正结果具有较高的可靠性。该测量装置包括:检测部(21),具有成对的电极部(2),并输出使各所述电极部(2)与测量对象物接触而产生的...
  • 本发明是一种运行管理系统,包括:运行记录仪2,获取运行数据与包含表示驾驶状况的图像数据的状况数据;以及操作机器3,被构造成藉由通信电缆而连接于运行记录仪2,以获取数据并且可藉由触控屏来操作该些数据。并且,该操作机器3以规定间隔的短周期自...
  • 本发明的目的在于提供一种液体分析装置(100),可以不使电磁波信号在液体中衰减地可靠地进行无线通信,并且可以简便且迅速地分析液体的特性,为了达到该目的,对容器(B)中的液体的特性进行分析的液体分析装置(100)包括:传感器部(1),通过...
  • 本发明提供一种测量装置,当发生错误时,可以准确且容易地找到解决方案,并且使用者容易看清楚到达解决方案的画面显示。该测量装置的显示控制部具有解决方案显示模式,所述解决方案显示模式在显示器上依次显示与错误内容对应的多个询问语句和针对各所述询...
  • 本发明提供一种排气取样装置,能不受第一流量计和第二流量计的流量动态范围的限制地设定样气的稀释率,特别是能以低稀释率对样气进行稀释,所述排气取样装置包括:下游稀释通道(3),在排气管中流动的排气的一部分作为样气导入到该下游稀释通道(3)内...
  • 本发明提供一种光学分析装置,通过降低腐蚀性气体对焦点位置修正用的基准修正构件的影响,在降低光学分析装置的测量误差的同时,解决伴随更换基准修正构件所产生的各种问题。本发明的光学分析装置包括基准修正构件(6),该基准修正构件(6)能在位于聚...
  • 本发明提供排气分析系统和排气分析方法,可以一举解决在车辆行驶中发动机转动停止的车辆的排气分析中因该发动机停止而导致的问题,所述排气分析系统包括:排气导入配管(3),一端在排气流路(300)内开口,另一端与排气分析设备(2)连接;以及切换...
  • 本发明为一种临界节流孔型定流量器(CFO1)的特性测定方法,其适用于稀释机构(3),该稀释机构由串联的稀释单元(31)(32)构成,该特性测定方法尽可能地将用于多段稀释机构的临界节流孔型定流量器的特性测定时的状态接近于使用时的状态,以减...
  • 本发明提供一种光学测量装置和光学测量方法,不仅可以测量(计算)试样的全反射光,还可以单独测量(计算)散射反射光和反射雾度等反射特性,并利用该特征计算出试样的膜厚。上述光学测量装置包括:第一反射光测量光学系统(3),利用积分球(2)对全反...
  • 本发明提供一种重金属离子测量方法和重金属离子测量装置,通过减小因液体试样中的杂质引起的测量误差,并且防止因液体置换产生的电沉积了的重金属的溶出和剥离等,可以高精度地测量重金属离子浓度。使重金属电沉积在导电性金刚石电极(5)上后,在使导电...
  • 本发明提供一种滴定装置,通过简单的结构就能够防止在滴定之前的待机中因在滴定用试剂液导入管内存在的试剂液氧化等造成变质而导致的不利情况,试剂液导入机构(3)包括:滴定用试剂液导入管(34),插入试样容器(11)内,设置成其前端(341)比...
  • 本发明提供一种参比电极,该参比电极能够抑制参比电极的内部电解液中的银离子溶出,并能够抑制由于液接部等表面上生成难溶性的银化合物而产生的电位变化。具体地说,所述参比电极包括:内部电极(21),由银/氯化银电极构成;内部电解液(22),与所...
  • 本发明提供一种废气采样分析系统,其目的在于对压力高的废气采样并无损精度地分析该废气的成分。本发明包括:设有节流机构(3)和第一吸引泵(P1)的主流路(2);在节流机构(3)的下游从主流路(2)延伸出的、设有废气分析装置(5)的测定流路(...
  • 试样液体计量装置
    本发明提供一种试样液体计量装置,即使在计量少量试样液体时也能高精度地计量,并能防止在试样液体计量后,液滴从试样液体导入管下落而导致产生误差。该试样液体计量装置包括:计量容器,计量试样液体;试样液体导入管,将试样液体导入所述计量容器内;以...
  • 本发明提供全血免疫测量装置和全血免疫测量方法,全血免疫测量装置包括:溶血试剂供给部件,向全血试样供给溶血试剂;第一光源,向作为加入了溶血试剂的全血试样的第一试样照射光;第一光检测部件,检测透射光的第一光强度;Hgb计算部,根据第一光强度...
  • 本发明提供一种试料检查装置以及试料检查方法,通过将多种计测方法加以组合,从而使得可检查的试料不受限制。试料检查装置具备入射部(11)、反射光受光部(12)以及分析部(13)(椭率计部)、X射线源(21)、荧光X射线检测部(22)以及分析...
  • 本发明提供一种颗粒物性测量池和颗粒物性测量装置。所述颗粒物性测量池包括:有底筒形的池主体(21),形成沿长边方向延伸的内部空间(S1),并在一个端部(21x)开口;一对施加电极(22),在内部空间(S1)中相对配置;固定间隔件(23),...
  • 根据本发明,可以使粒子数测量系统的构成简单化以及紧凑化的同时,还可以削减成本。本发明的粒子数测量系统包括:设在主流路(ML)和稀释气体流路(DL)的连接点的稀释器(PND2);对导入到稀释器(PND2)的稀释气体流量进行控制的稀释气体流...
  • 本发明提供一种颗粒物性测量装置,该颗粒物性测量装置的光检测部件尽管具有单一的结构,但可以确保测量精度,而且可以尽可能减少光学元件的数量,从而可以实现抑制成本的增加和减少调整部位。颗粒物性测量装置(1)具有作为照射光学系统机构(2)的入射...