株式会社堀场制作所专利技术

株式会社堀场制作所共有419项专利

  • 氢火焰离子化型排气分析仪
    本发明提供一种氢火焰离子化型排气分析仪,使得在氢火焰离子化型排气分析仪及组装有所述氢火焰离子化型排气分析仪的排气分析系统中,能够判断合适的净化时间。氢火焰离子化型排气分析仪包括:收集电极(7),捕捉通过氢火焰(F)从排气生成的离子;取得...
  • 车辆行驶状况分析系统、分析装置和分析方法
    本发明提供能够容易且可靠地分析车辆是否在临时停车场所进行了临时停车的车辆行驶状况分析系统、车辆行驶状况分析装置和车辆行驶状况分析方法,车辆行驶状况分析系统(1)包括:车辆行驶状况数据收集装置(2);以及车辆行驶状况分析装置(3),用于分...
  • 本发明提供测试系统、设备管理装置和车辆性能测试系统,测试系统包括:用于测试的一个或多个测试用设备;以及与测试用设备以可通信的方式连接并管理该测试用设备的设备管理装置,设备管理装置包括显示部,该显示部取得从测试用设备输出的各种信息并将所述...
  • 排气分析系统
    本发明提供一种能判断取样泵的适当维护时间的排气分析系统。所述排气分析系统包括:取样泵(P1)、(P2),设置在主流道(3)上,用于从导入口(2)对排气进行取样;分析部(4x),设置在主流道(3)中的取样泵(P1)、(P2)的上游侧或下游...
  • 本发明提供一种排气分析装置,几乎不需要进行特意移动到设置有发动机的测试室来更换过滤器的作业,能够连续测量发动机的排气。此外,本发明包括:第一过滤器流道(41),设置有第一过滤器(5);第二过滤器流道(42),设置有第二过滤器(7);排气...
  • 分析仪校正系统和排气分析系统
    本发明提供分析仪校正系统和排气分析系统,不仅能够缩短同时对多个分析仪进行校正时的校正时间,而且能够减少校正气体的消耗量,该分析仪校正系统包括:校正气体管道(4),用于同时向多个分析仪(2x)提供同一校正气体;以及控制设备(5),分别判断...
  • 测试系统及设备管理装置
    本发明提供一种测试系统及设备管理装置,管理装置(7)管理车辆等移动体或在该移动体的构成设备的测试中使用的多个测试用单元,该管理装置(7)具备:识别部,将一个以上测试用单元(21)的集合识别为测试用组,并将一个以上测试用组的集合识别为测试...
  • 测试系统
    本发明提供一种测试系统(1),测试车辆等移动体或用于该移动体的设备,其特征在于,包括:用于测试的1个或多个测试用设备(4);以及设备管理装置(7),能通信地连接于测试用设备4并管理该测试用设备,所述设备管理装置(7)或测试用设备(4)包...
  • 排气分析装置、排气分析系统及其动作方法
    本发明提供排气分析装置、排气分析系统及其动作方法,能更节省能源并能迅速开始分析。排气分析装置包括:分析排气的分析装置主体;将排气从排气流过的排气管引导到所述分析装置主体的排气导入部;分别加热所述分析装置主体和排气导入部的加热器;以及控制...
  • 本发明涉及速度控制装置及速度控制方法。本发明在满足作为自当前时间点经过给定的第一时间时的指令加速度的第一未来指令加速度小于所述加速器全闭加速度的差值超过给定的所述第一允许值的第一条件的情况下,停止所述加速器反馈控制而使加速器趋向全闭位置...
  • 本发明提供一种在初期的组装及安装时以及在维修等过程中更换气体传感器时等情况下均可确保满意的作业性的废气分析装置及用于该废气分析装置的探测单元。其构成为,设置有用于检测废气中的特定成分的气体传感器和套筒,套筒具备具有用于将所述气体传感器插...
  • X射线检测装置
    本发明提供一种X射线检测装置,该装置包括X射线照射部(4)、X射线检测器(5)、能移动的准直器(2)以及遮蔽X射线的遮蔽体(3)。遮蔽体(3)遮蔽从X射线照射部(4)要向X射线检测器(5)直接入射的X射线。此外,遮蔽体(3)遮蔽因向准直...
  • X射线检测装置
    本发明提供一种X射线检测装置,其包括X射线照射部(3)、X射线检测器(4)以及具有多个光圈孔(21)、(22)、(23)且能移动的准直器(2)。准直器(2)上设有使光通过的窗口部(24),光圈孔(21)、(22)、(23)和窗口部(24...
  • 本发明提供比较电极和电化学测量装置,能以简单的结构长时间抑制电位变动而不会导致外形变大。比较电极(2)包括:壳体(21),填充有内部液体(Q);内部电极(22),浸渍在内部液体(Q)中;液接部(23),设置成一个端部向壳体(21)内露出...
  • 本发明提供辉光放电切削装置和辉光放电切削方法,通过辉光放电对试样进行切削,所述辉光放电切削装置包括:辉光放电管(2),在电极和试样之间施加电压而产生辉光放电;操作部(67),接受把不活泼气体和氧气混合的混合比;MFC(54),根据操作部...
  • 本发明提供分析颗粒物性等的颗粒分析装置和方法,在散射光发生异常时,能避免装置损伤等且迅速再次开始分析。包括:光出射部,向分散介质中运动的颗粒群射出光;光接收部,接收光照射的颗粒群发出的散射光并输出电流信号;数据处理部,根据从电流信号得到...
  • 本发明提供粒径分布测量装置及粒径分布测量方法,能对应试样容易地设定计数器的选通门打开的时间。所述装置包括:光射出部,向在分散介质中运动的粒子群照射光;光接收部,根据从所述粒子群发出的散射光的光子数输出脉冲信号;并列设置的多个多位计数器,...
  • 本发明提供一种元素分析装置,通过简单的结构就能测定从低浓度到高浓度的试样而无需设置缓冲容器。所述元素分析装置包括:提取炉(1),用于加热坩埚(R)内收容的试样,从而使所述试样内所含的元素气化后成为样品气体;导入流道(L1),用于向所述提...
  • 本发明提供一种排气取样装置,根据各种排气条件和取样管道的使用条件等,把在取样管道中流动的取样得到的排气温度加热或冷却到所希望的温度而与在排气管中流动的排气的温度无关。排气取样装置包括:取样管道(2),对排气进行取样并将取样得到的排气导入...
  • 本发明涉及一种离子分析装置,其是多传感器型离子分析装置,能进行高精度的分析并易于维护。离子分析装置包括:液膜型离子选择性电极(71)、(72),该液膜型离子选择性电极(71)、(72)包括多种离子感应膜(15)、(16),该多种离子感应...