颗粒分析装置和颗粒分析方法制造方法及图纸

技术编号:9059815 阅读:191 留言:0更新日期:2013-08-21 23:01
本发明专利技术提供分析颗粒物性等的颗粒分析装置和方法,在散射光发生异常时,能避免装置损伤等且迅速再次开始分析。包括:光出射部,向分散介质中运动的颗粒群射出光;光接收部,接收光照射的颗粒群发出的散射光并输出电流信号;数据处理部,根据从电流信号得到的脉冲数的时序数据,进行颗粒分布的数据处理;过电流检测部,根据光接收部输出的电流信号检测光接收部流过过电流;以及控制部,当过电流检测部检测到过电流时,停止光接收部的动作,且在光接收部动作停止规定时间后再次开始光接收部的动作,数据处理部在光接收部动作停止时保存停止前为止的时序数据,在光接收部再次开始动作后,利用保存的时序数据和再次开始后得到的时序数据进行数据处理。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种颗粒分析装置,其特征在于包括:光出射部,向在分散介质中运动的颗粒群射出光;光接收部,接收被来自光出射部的光照射的颗粒群所发出的散射光并输出电流信号;数据处理部,根据从光接收部输出的电流信号得到的脉冲数的时序数据,进行颗粒分析的数据处理;过电流检测部,根据光接收部输出的电流信号,检测出光接收部中流过了过电流;以及控制部,当过电流检测部检测到过电流时,停止光接收部的动作,且在光接收部的动作停止规定时间后再次开始光接收部的动作,数据处理部在光接收部的动作停止时保存直到停止前为止的时序数据,并在光接收部的动作再次开始后,利用保存的时序数据和再次开始后得到的时序数据进行数据处理。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:栩野成视
申请(专利权)人:株式会社堀场制作所
类型:发明
国别省市:

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